[实用新型]基于GTEM室的超高频传感器灵敏度测试装置有效
| 申请号： | 201320144998.3 | 申请日： | 2013-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN203164406U | 公开（公告）日： | 2013-08-28 |
| 发明（设计）人： | 高凯;倪浩;江建华;徐鹏 | 申请（专利权）人： | 国家电网公司;上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 宣慧兰 |
| 地址： | 100031 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 gtem 超高频 传感器 灵敏度 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于GTEM室的超高频传感器灵敏度测试装置，其特征在于，包括GTEM室、信号发生器以及频谱分析仪，所述的信号发生器与GTEM室的信号发射端连接，待测试的超高频传感器设置在GTEM室的测试区域内，并与频谱分析仪连接。
2.根据权利要求1所述的一种基于GTEM室的超高频传感器灵敏度测试装置，其特征在于，所述的GTEM室的测试区域的轴截面呈等腰三角形结构，所述的信号发射端位于等腰三角形结构的顶点，等腰三角形结构的底边处设置吸波材料层。
3.根据权利要求1所述的一种基于GTEM室的超高频传感器灵敏度测试装置，其特征在于，所述的信号发生器为输出频率在300MHz～1500MHz之间的信号发生器。
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