[实用新型]光谱响应度测量系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及探测器光谱响应度测量领域，尤其涉及一种在变温及变磁场环境下进行光谱响应度测量的系统。

背景技术

光谱响应度是光探测器的重要技术参数之一，随着光探测技术的发展，精确测量光探测器的光谱响应度变得越来越重要。同时利用光探测器的光谱响应度对光探测器材料进行定性定量的分析，也成为研制新型光探测器的重要步骤。光电探测器的光谱响应度计量于1997年被国际光学计量组织CCPR(光度辐射咨询委员会)和BIPM(国际计量局)确定为光学计量领域的6项国际关键性比对之一。

光谱响应度包括绝对光谱响应度和相对光谱响应度。其中绝对光谱响应度是光探测器的重要技术参数之一，它描述的是探测器绝对响应率与波长之间的关系。该参数的正确测试对于探测器的机理分析、工艺改进以及系统的整体设计有着重要的意义。

目前国内研制的光谱响应度测量装置主要由光源系统、分光系统、输出光学系统、探测及数据采集系统和测量软件组成。光源系统只是分别设置单一的紫外或者可见或者红外光源，因此，现有光谱响应度测量装置的光谱测量覆盖范围及应用范围具有局限性，并且现有测量装置只能提供在自然条件下的光谱响应度测量，不能模拟低温，强磁场环境。以上这些问题导致了新型光探测器发展缓慢，尤其对在特定环境下使用的新型光探测器的研制带来了困难。

由此，本发明人凭借多年从事相关行业的经验与实践，提出一种光谱响应度测量系统，以克服现有技术的缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种光谱响应度测量系统，可以增加测量光谱响应度的光谱范围，同时具有变温、变磁场特性，能够在低温及强磁场环境下进行测量，以克服现有光谱响应度测量装置的局限性。

本实用新型的另一目的在于提供一种光谱响应度测量系统，使光谱响应度测试全流程自动测量，保持系统良好封闭，避免手动操作带来误差。

本实用新型的目的是这样实现的，一种光谱响应度测量系统，该测量系统包括有旋转台，该旋转台由中心转座和环设于中心转座外侧的外圈转座构成；在旋转台一侧设有标准探测器组；在旋转台另一侧设有样品室，样品室内设置待测样品；所述中心转座上竖直设置一中心全反射镜；所述外圈转座上对应设有第一准直镜片组和第二准直镜片组；所述标准探测器组和待测样品分别与一信号转换器电连接，该信号转换器通过一锁相放大器连接于一计算机；所述样品室外侧设有磁场及磁场调节装置；样品室中设有温度探测和控制装置；一第一光源通过一第一光路传输装置将光线传输至中心全反射镜的一反射面；一第二光源通过一第二光路传输装置将光线传输至中心全反射镜的另一反射面。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述第一光源为红外光源，所述第一光路传输装置包括有第一单色仪、第一光源输出镜组，在第一光源出光口内侧设有第一斩波器，第一斩波器外侧设有第一滤光片并连接于第一单色仪入光口，在第一单色仪入光口设有第一电动快门；第一单色仪出光口与第一光源输出镜组入光口准直，第一光源输出镜组出光口与中心全反射镜准直；所述第二光源为紫外和可见光源，分别由氘灯和溴钨灯构成；所述第二光路传输装置包括有第二单色仪、第二光源输出镜组和一个固定设置在平移台上的反光镜，在第二光源出光口内侧设有第二斩波器，第二斩波器外侧设有第二滤光片并连接于第二单色仪入光口，在第二单色仪入光口设有第二电动快门；第二单色仪出光口与第二光源输出镜组入光口准直，第二光源输出镜组出光口与所述反光镜准直，该反光镜的反射光与中心全反射镜准直。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述标准探测器组设置有紫敏硅标准探测器、钢镓砷标准探测器和热释电标准探测器。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述中心转座和外圈转座分别由步进电机驱动旋转。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述磁场及磁场调节装置包括有设置在样品室两侧的磁性体，两磁性体均设置在一滑轨上，两磁性体连接在一螺旋移动调节机构上。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述样品室由一磁场真空专用外罩构成，该外罩上设有光学窗口。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述温度探测和控制装置包括设置在外罩上部的制冷装置和一个由外罩下部向上部延伸设置的传热杆，所述传热杆的上端和下端均设有硅二极管和加热片。

在本实用新型的一较佳实施方式中，所述制冷装置为液氦制冷循环装置，该循环装置上设有液氦循环入口和液氦循环出口并连接有机械泵和制冷泵。