[发明专利]一种红外自发辐射偏振特性实验验证方法

说明书

技术领域：

本发明涉及目标样板红外自发辐射偏振特性实验验证方法，主要涉及在不引入额外的红外偏振信息的前提下，如何减少目标样板红外辐射中的反射辐射，凸显出红外自发辐射，最终能够通过红外偏振探测系统实现目标样板红外自发辐射偏振数据的采集。

背景技术：

红外偏振探测技术应用需求越来越大，其中对红外自发辐射偏振特性的验证分析现在显得尤为关键，但是由于实验条件的限制，对红外自发辐射偏振特性的验证与分析有一定的技术难度，很难屏蔽外界红外辐射的影响。

目前科研工作者对红外自发辐射的分析，仅仅是通过对目标样板进行加热，并没有采取减少外界红外辐射的措施，但是背景红外辐射对目标样板的影响比较大，并且红外反射辐射的偏振特性异于自发辐射的偏振特性，因此在此实验条件下将无法准确验证和分析红外自发辐射的偏振特性；对观测角的控制也不够精确，因此将无法得到某特定的目标样板（材料、表面粗糙度）在特定观测角度下的偏振信息，不能建立准确的数据库。

因此本发明公开了一种红外自发辐射偏振特性实验验证方法，采用该方法能够大大降低外界红外辐射对目标样板的影响，最终可以有效地完成对目标红外自发辐射偏振特性的验证与分析。

发明内容：

本发明提供了一种目标样板红外自发辐射偏振特性实验验证方法，旨在解决在验证与分析红外自发辐射偏振特性实验中，无法屏蔽外界红外辐射影响的问题。

为解决上述问题，本发明的红外自发辐射偏振特性实验验证方法的技术方案如下：

所述实验方法包含组成部分有，制冷装置、黑色腔体、数控转台、粘贴加热片的样板，偏振探测系统。各组成部分功能说明如下：

制冷装置，营造一个低温干燥的实验条件；

黑色腔体，腔体内侧涂有高吸收率的有机黑漆，有效的减少背景对目标样板辐射的反射；

数控转台，精确调节目标样板俯仰角度，以此来精确调节观测角；

加热装置，采用硅橡胶加热片对目标样板加热，提高目标样板的红外自发辐射能量；

偏振探测系统，为一分时红外偏振探测系统，探测波段为3～5um，图像象元数为256×256，完成红外偏振数据的采集。

所述实验方法包含以下步骤，第一步，在制冷装置前端窗口放置偏振探测系统，并将黑色腔体放置在制冷装置内；第二步，将加热片粘贴于样板背面，并固定在数控转台上，将数控转台放置于黑色腔体内并使样板与探测系统在同一水平线上；第三步，采取密封措施，接通电源，制冷装置到达指定温度后，通过向数控转台发送指令不断调节样板俯仰角，利用偏振探测系统完成对样板红外自发辐射偏振信息的采集。

附图说明：

图1为本发明实施例的结构示意图。

图2为图1中探测示意图。

图3为图1中制冷装置的结构示意图。

图4为图1中黑色腔体的结构示意图。

具体实施方式：

本发明的目标样板红外自发辐射偏振特性实验验证方法的实施例：如图3和图1所示，在制冷装置前端窗口101处放置好偏振探测系统，用橡胶塞密封，并将黑色腔体2放置在制冷装置1内；第二步，将加热片粘贴于目标样板4背面，并固定在数控转台3上，打开制冷装置舱门102与黑色腔体舱门201将数控转台3放置于黑色腔体2内，并使目标样板4与红外偏振探测系统5处在同一水平线上，如图2所示，观测角6等于90°减去俯仰角7；第三步，通过小孔103和202引入电源插排，用橡胶塞密封，然后接通电源，制冷装置2到达指定温度后，通过向数控转台3发送指令来不断调节样板俯仰角7，利用红外偏振探测系统5完成对目标样板4的红外自发辐射偏振信息的采集。

该实验方法通过下述实验装置实现：该实验装置主要有制冷装置1、黑色腔体2、数控转台3、粘贴加热片的目标样板4、红外偏振探测系统5构成。制冷装置1有除湿功能，制冷温度可以稳定在1℃，制冷装置101为一圆形窗口，放置探测器镜头，102是制冷装置舱门，103是一小孔，方便引入电源线；黑色腔体表面涂覆高吸收率的有机黑漆，减少对目标样板4的反射，201是腔体舱门，202是小孔，方便引入电源线；数控转台3，通过向转台发送指令调节俯仰角7；加热片由合金电热丝和硅橡胶高温绝缘布组成，粘贴于目标样板4背面，加热均匀恒定。