[发明专利]自动标定CT中心偏移量的方法和系统有效
申请号: | 201310363260.0 | 申请日: | 2013-08-20 |
公开(公告)号: | CN104424654B | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
发明(设计)人: | 肖永顺;李俊江;叶青 | 申请(专利权)人: | 清华大学;北京固鸿科技有限公司 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 标定 ct 中心 偏移 方法 系统 | ||
技术领域
本申请涉及CT技术,具体涉及一种在CT扫描及重建过程中,自动标定中心偏移量的方法和系统。
背景技术
工业CT系统包括射线源、探测器,机械控制及计算机等。射线源发出X射线,转台旋转360度,探测器采集各个角度的投影图像并上传计算机,计算机根据投影图进行CT图像重建。CT重建中最关键的参数是中心偏移量,该参数直接影响到CT图像的像质。中心偏移量为转台旋转中心在探测器上的投影位置相对于探测器中心位置的像素偏移量。目前,确定中心偏移量的方法有:预设法、查找表方法、正弦图测量方法等等。
中国专利申请公开CN101303225描述了一种2D-CT扫描系统的投影旋转中心测量方法。该方法需要利用转台转动一周得到的投影数据与转台保持不动而射线源和探测器转动一周得到的投影数据二者来计算中心偏移量,易于受到噪声或者其他参数的精度的影响。
美国专利US8259897B2描述了一种CT成像中心偏移量的确定方法及装置,该方法提出进行粗搜索和精细搜索两个过程来计算中心偏移量。同样,该方法由于受到噪声或其它参数精度的影响,中心偏移量计算结果会受到影响。
发明内容
考虑到现有技术中的一个或多个问题,提出了一种自动标定CT中心偏移量的方法和系统。
在本发明的一个方面,提出了一种自动标定CT中心偏移量的方法,包括步骤:读取以矩阵表示的原始正弦图,所述原始正弦图是基于探测器采集转台旋转一周的数据得到的;计算原始正弦图中每一列的前半子列与后半子列之间的互相关系数;确定CT工作区域在探测器上的投影区间;确定所述投影区间的互相关系数的最大值所对应的探测器单元的序号;以及基于所述投影区间和所述序号确定CT中心偏移量。
在本发明的另一方面,提出了一种自动标定CT中心偏移量的系统,包括:读取以矩阵表示的原始正弦图的装置,所述原始正弦图是基于探测器采集转台旋转一周的数据得到的;计算原始正弦图中每一列的前半子列与后半子列之间的互相关系数的装置;确定CT工作区域在探测器上的投影区间的装置;确定所述投影区间的互相关系数的最大值所对应的探测器单元的序号的装置;以及基于所述投影区间和所述序号确定CT中心偏移量的装置。
在本发明的再一方面,提出了一种自动标定CT中心偏移量的方法,包括步骤:读取以矩阵表示的原始正弦图,所述原始正弦图是基于探测器采集转台旋转一周的数据得到的;在原始正弦图每行数据中任意两个点之间插值K个点,得到重采样的正弦图;计算重采样的正弦图中每一列的前半子列与后半子列之间的互相关系数;确定CT工作区域在探测器上的投影区间;确定所述投影区问的互相关系数的最大值所对应的探测器单元的序号;以及基于所述K值、所述投影区问、和所述序号确定CT中心偏移量。
在本发明的又一方面,提出了一种自动标定CT中心偏移量的系统,包括:读取以矩阵表示的原始正弦图的装置,所述原始正弦图是基于探测器采集转台旋转一周的数据得到的;在原始正弦图每行数据中任意两个点之间插值K个点,得到重采样的正弦图的装置;计算重采样的正弦图中每一列的前半子列与后半子列之间的互相关系数的装置;确定CT工作区域在探测器上的投影区间的装置;确定所述投影区间的互相关系数的最大值所对应的探测器单元的序号的装置;以及基于所述K值、所述投影区间、和所述序号确定CT中心偏移量的装置。
利用上述实施例的方案,仅使用正弦图就能获取中心偏移量,可靠性高,不受噪声影响,可提高系统的CT图像指标等。
附图说明
下面的附图表明了本发明的实施方式。这些附图和实施方式以非限制性、非穷举性的方式提供了本发明的一些实施例,其中:
图1示出了根据本发明一个实施例的自动标定CT中心偏移量的技术中使用的正弦图;
图2示出了根据本发明一个实施例的自动标定CT中心偏移量的系统的结构示意图;
图3是描述根据本发明一个实施例的自动标定CT中心偏移量的方法的流程图;
图4示出了根据本发明另一实施例的自动标定CT中心偏移量的技术中对原始正弦图在行方向上进行插值所得到的行重采样的正弦图;以及
图5是描述根据本发明另一实施例的自动标定CT中心偏移量的方法的流程图。
具体实施方式
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