[发明专利]一种倒角测试方法及倒角测量仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种倒角测试方法和测量仪器，尤其是涉及一种用于测量两垂直面之间倒角的测试方法和测量仪器。

背景技术

倒角作为工业设计领域的一个参数，其轮廓尺寸的合格与否有时候直接影响产品性能。比如在磁性材料领域，倒角轮廓尺寸的大小最终影响着磁性材料产品的工艺特性，倒角过小时，电镀后倒角部位会出现电镀层堆积凸起；倒角过大时，磁性材料的周边会减弱应有的效能。

目前，倒角大部分产生于工件的两垂直面之间，两垂直面之间倒角轮廓尺寸的测量设备一般有倒角轮廓测量仪、R规和显微镜。倒角轮廓测量仪测量倒角时，首先将待测工件的两垂直面紧贴倒角轮廓测量仪的两个定位直角边，待测倒角部位将测量仪的探针顶回，此时读取刻度表盘上的数据，然后对应出相应的倒角值；倒角轮廓测量仪是接触式测量，在测量过程中传感器探针必须与被测工件倒角部位表面相接触，由于传感器探针硬度很高，不适合测量软工件和尺寸较小的工件，而且在测量过程中由于人为因素的影响测量精度不高。R规测量倒角时,用工件待测的倒角部位去紧贴不同R值的R规，观察工件与R规的贴紧程度，R规测试方式完全依赖于人工观测判定，测量精度低，效率也低。显微镜测量倒角时,将工件待测倒角部位放在显微镜下，通过显微镜读取倒角的边线距离工件边缘的距离；但是显微镜的视野很小，只适合测量很小倒角的工件，且人为测量和读取方式的不同，也会影响其测量精度。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种测量精度高，测量效率较高，且可以对任意尺寸大小倒角进行测量的倒角测试方法及倒角测量仪。

本发明解决上述技术问题所采用的技术方案为：一种倒角测试方法，包括以下步骤：

①将光线水平照射到待测倒角上，待测倒角为两垂直面之间的倒角；

②照射到待测倒角上的光线成90°反射后在摄像机构形成一条亮的光带；

③获取亮的光带图像并测量该亮光带的宽度，该宽度即对应为待测倒角的R值。

所述的光线由条形光源或者环形光源产生。

一种倒角测量仪，包括定位装置和摄像机构、发射水平光线的光源以及数据采集处理装置，所述的摄像机构和所述的数据采集处理装置连接，所述的定位装置的高度可调节，当将待测倒角的工件放置在所述的定位装置上，所述的光源发射水平光线照射到待测倒角上成90°反射后在摄像机构形成一条亮的光带，所述的摄像机构拍摄该亮的光带的图像并传输给所述的数据采集处理装置，所述的数据采集处理装置对图像进行处理得到该光带的宽度，该宽度即对应为待测倒角的R值。

所述的倒角测量仪还包括工作台和固定在所述的工作台上的立柱，所述的定位装置为包括测试平台，所述的测试平台通过高度调节机构安装在所述的立柱上，所述的光源安装在所述的测试平台的上方，所述的摄像机构固定安装在所述的测试平台的下方，所述的测试平台上设置有透光孔，所述的水平光线照射倒角部位时成90°反射后从所述的透光孔穿过后在摄像机构形成一条亮的光带图像并被所述的摄像机构拍摄。

所述的测试平台包括底板和设置在所述的底板上的搁板，所述的透光孔设置在所述的底板上，所述的搁板位于所述的透光孔的一侧，所述的搁板靠近所述的透光孔的端面为第一端面，所述的第一端面与所述的底板垂直，所述的第一端面由两个竖直面和位于两个竖直面之间的内凹面组成，所述的透光孔位于两个竖直面之间且正对所述的内凹面，所述的底板上设置有垂直于所述的第一端面的测试指针，所述的测试指针的延长线穿过所述的透光孔的中心，测试时，将待测工件放置在所述的搁板上，使待测倒角的两垂直面的一个垂直面与两个竖直面在一个平面上，待测倒角部位正对所述的测试指针。

所述的测试指针为设置在所述的底板上的凹槽或者设置在所述的底板上的凸楞。

所述的摄像机构包括相机和镜头，所述的镜头安装在所述的相机上。

所述的镜头上安装有镜头保护部件。

所述的光源为条形光源或者环形光源。