[发明专利]一种蓝牙产品免对码测试的方法和装置无效
申请号: | 201310339914.6 | 申请日: | 2013-08-06 |
公开(公告)号: | CN103401623A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 邓民坤 | 申请(专利权)人: | 深圳雷柏科技股份有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;H04B5/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
地址: | 518122 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 蓝牙 产品 测试 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及蓝牙产品检测领域,尤其涉及一种蓝牙产品免对码测试的方法和装置。
背景技术
蓝牙技术是一种无线数据与语音通信的开放性全球规范,是以低成本、短距离无线通信为基础,为固定与移动设备的通信环境提供特别连接的通信技术。其实质是建立通用的无线电空中接口与其控制软件的公开标准,使通信与计算机技术进一步结合,实现不同厂家生产的便携式电子设备在没有电缆连接的情况下即可在短距离范围内具有相互操作的功能。例如,将蓝牙技术应用到移动电话和笔记本计算机中,就可以免除移动电话与笔记本计算机之间的有线而可通过无线方式建立连接。打印机、PDA、台式计算机、传真机、键盘、鼠标、耳机、音箱和游戏操纵杆等其他数字设备都可以成为蓝牙系统的一部分。除此之外,蓝牙技术还为已存在的数字网络和外围设备提供通用接口以组建一个远离固定网络的个人特别连接设备群。
为了保证蓝牙产品的出厂质量,在蓝牙产品生产离开生产线之后,需要对其进行功能测试,测试其连接是否顺畅,连接后的工作状态是否正常,例如鼠标的按键和光标功能是否正常,键盘的按键功能是否正常,目前的蓝牙产品的功能测试方法主要包括以下步骤:使用对码使用对码键或电脑软件开启蓝牙主机端对码功能,让主机端蓝牙设备处于搜索设备状态;按下待测蓝牙产品的对码键,等待握手;按软件的提示完成配对,握手成功;进行蓝牙产品的功能测试。这种测试方法需要主机端蓝牙设备搜索蓝牙产品,通过对码配置双方的信息,实现连接,而每一台蓝牙产品对码与配置过程所需时间一般为2至3分钟时间,在出货量很大的情况下,这个过程累积消耗的时间将会严重影响生产效率,无法快速出货。
发明内容
本发明提供了一种蓝牙产品免对码测试的方法和装置,能够实现无需对码即可实现功能测试,提高了生产效率,节约了检测时间,加快了出货速度。
为实现上述方法和装置,本发明采用以下技术方案:
一种蓝牙产品免对码测试的方法,包括:
a、预存蓝牙产品测试模式的蓝牙地址码和LINK信息,预存蓝牙测试适配器的蓝牙地址码和LINK信息,预设用于标识蓝牙产品与蓝牙适配器是否配对过的配对标志位;
b、初始化蓝牙产品的蓝牙协议栈,检测配对标志位,当所述配对标志位显示蓝牙产品未与蓝牙适配器配对过时,读取蓝牙测试适配器的蓝牙地址码和LINK信息以及蓝牙产品测试模式的蓝牙地址码和LINK信息;
c、根据所述蓝牙测试适配器的蓝牙地址码和LINK信息以及蓝牙产品测试模式的蓝牙地址码和LINK信息,连接蓝牙产品和蓝牙测试适配器;
d、当蓝牙产品和蓝牙测试适配器连接成功时,进入测试模式。
其中,所述步骤a具体为:
在蓝牙产品中预存蓝牙产品测试模式的蓝牙地址码和LINK信息,预存蓝牙测试适配器的蓝牙地址码和LINK信息,预设用于标识蓝牙产品与蓝牙适配器是否配对过的配对标志位为0;
在蓝牙测试适配器中预存蓝牙产品测试模式的蓝牙地址码和LINK信息。
其中,所述步骤b具体为:
初始化蓝牙产品的蓝牙协议栈,检测所述配对标志位是否为0;
当所述配对标志位为0时,在蓝牙产品中读取预存的蓝牙测试适配器的蓝牙地址码和LINK信息以及蓝牙产品测试模式的蓝牙地址码和LINK信息。
其中,所述蓝牙产品的存储装置为EEPROM或Flash。
其中,所述读取蓝牙测试适配器的蓝牙地址码和LINK信息以及蓝牙产品测试模式的蓝牙地址码和LINK信息具体是从Flash或EEPROM中读取。
一种蓝牙产品免对码测试的装置,包括:
预存预设单元,用于预存蓝牙产品测试模式的蓝牙地址码和LINK信息,预存蓝牙测试适配器的蓝牙地址码和LINK信息,预设用于标识蓝牙产品与蓝牙适配器是否配对过的配对标志位;
标志位检测单元,用于初始化蓝牙产品的蓝牙协议栈,检测配对标志位,当所述配对标志位显示蓝牙产品未与蓝牙适配器配对过时,读取蓝牙测试适配器的蓝牙地址码和LINK信息以及蓝牙产品测试模式的蓝牙地址码和LINK信息;
测试连接单元,用于根据所述蓝牙测试适配器的蓝牙地址码和LINK信息以及蓝牙产品测试模式的蓝牙地址码和LINK信息,连接蓝牙产品和蓝牙测试适配器;
测试工作单元,当蓝牙产品和蓝牙测试适配器连接成功时,进入测试模式。
其中,所述预存预设单元具体包括:
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