[发明专利]一种10N推力器羽流对星表设备温度影响的确定方法有效
| 申请号： | 201310063007.3 | 申请日： | 2013-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN103217269A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 武向军;谭沧海;王金刚;丛飞;李长江;杨慧 | 申请（专利权）人： | 北京空间飞行器总体设计部 |
| 主分类号： | G01M9/00 | 分类号： | G01M9/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 10 推力 器羽流 设备 温度 影响 确定 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种10N推力器羽流对星表设备温度影响的确定方法，其特征在于步骤如下：
1)根据10N推力器的安装位置、待分析的受羽流热流影响设备的安装位置，确定待分析设备上受羽流影响的区域；
2)测量获得待分析设备上受羽流影响的区域内待分析点到10N推力器喷口圆心的距离r，待分析设备上受羽流影响的区域内待分析点到10N推力器喷口圆心连线与推力器轴线的夹角θ，待分析设备上受羽流影响的区域内待分析点到10N推力器喷口圆心连线β；
3)根据10N羽流热流计算公式得到待分析设备上受羽流影响的区域内各待分析点到达的热流密度H，其中羽流中心距r0＝550mm；中心点热流密度H(r0)＝12.02W/cm2；偏移角度指数n＝28-θ/2.5，若当θ＞40°时，n＝12；选取热流密度H最大的点作为待分析的受羽流热流影响设备上的最恶劣点；
4)根据10N推力器在轨工作模式确定10N推力器工作时的最大占空比η；
5)确定待分析设备表面的反射率εh，并根据待分析设备的几何形状，确定待分析设备迎风面和散热面面积比A；对于卫星星体表面A取1；对于圆柱形或长方形设备，A取1/2；
6)根据公式计算得到待分析设备上受羽流影响的区域内最恶劣点的温度T，并将最恶劣点的温度T作为待分析设备的温度T；其中σ为史蒂芬-波尔兹曼常数；H为最恶劣点的热流密度。
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