[发明专利]用来侦测透光光栅结构的侦测装置与侦测方法无效
申请号: | 201310011074.0 | 申请日: | 2013-01-11 |
公开(公告)号: | CN103322909A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 陈聪岳;林志杰 | 申请(专利权)人: | 诚研科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用来 侦测 透光 光栅 结构 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种用来侦测透光光栅结构的侦测装置与侦测方法,特别是有关一种利用光感测强度来侦测所述透光光栅结构的侦测装置与侦测方法。
背景技术
在传统的立体影像制作过程中,由于光栅板由透光材质所制成,使得一般装置难以侦测其位置并进行定位,故常见方式是将立体影像先打印在相纸或卡片等不透光基材上,再将透光光栅板黏贴在基材上,以便于侦测定位且可产生立体视觉的效果。而立体影像为配合光栅板样式(光栅板上各光栅的宽度、密度等参数)所制作出的交错影像,每一条光栅的位置都需精准地对位在相对应影像位置上,这样一来才能呈现出正确的立体影像。因此透光光栅板的侦测定位问题便提高了立体光栅影像的制造难度,且提高其制造成本。
发明内容
本发明提供一种用来侦测透光光栅结构的侦测装置与侦测方法,以解决上述的问题。
本发明公开一种用来侦测一透光光栅结构的侦测装置,其包含有一致动单元、一光源、一光传感器、一转换电路与一处理单元。所述致动单元用来驱动所述透光光栅结构;所述光源用来发射光线至所述致动单元驱动的所述透光光栅结构;所述光传感器用来于所述透光光栅结构移动至与所述光源位在不同相对位置时感应所述光源所发射的光线,藉以产生相对应的一光强度信号;所述转换电路耦合于所述光传感器,且用来转换所述光传感器所产生的所述光强度信号为一转换信号;所述处理单元耦合于所述转换电路,且用来依据所述转换电路所传来的所述转换信号以判断所述透光光栅结构的各光栅位置。
本发明另公开所述光源为一发光二极管,且所述光传感器为一遮断式光传感器,其用来感应所述光源所发射且穿透所述透光光栅结构的光线,藉以产生相对应的所述光强度信号。
本发明另公开所述光源设置在面对所述透光光栅结构的一平面侧,且所述光传感器设置在面对所述透光光栅结构的一圆柱侧。
本发明另公开当所述透光光栅结构的顶缘移动至所述光源与所述光传感器之间时,所述光传感器产生最大的所述光强度信号。
本发明另公开当所述透光光栅结构的边缘移动至所述光源与所述光传感器之间时,所述光传感器产生最小的所述光强度信号。
本发明另公开所述光源为一发光二极管,且所述光传感器为一反射式光传感器,其用来感应所述光源所发射且被所述透光光栅结构反射的光线,藉以产生相对应的所述光强度信号。
本发明另公开所述光源与所述光传感器设置在面对所述透光光栅结构的一圆柱侧。
本发明另公开当所述透光光栅结构的顶缘移动至相对应所述光源处时,所述光传感器产生最小的所述光强度信号。
本发明另公开所述转换电路用来放大所述光强度信号的位准变化以产生所述转换信号。
本发明另公开所述致动单元驱动所述透光光栅结构行进的之方向实质上垂直于所述光源发射光线的方向。
本发明另公开一种用来侦测一透光光栅结构的侦测方法,其包含有下列步骤:驱动所述透光光栅结构;利用一光源发射光线至受驱动的所述透光光栅结构;利用一光传感器于所述透光光栅结构移动至与所述光源位在不同相对位置时感应所述光源所发射的光线,藉以产生相对应的一光强度信号;转换所述光传感器所产生的所述光强度信号为一转换信号;以及依据所述转换信号以判断所述透光光栅结构的各光栅位置。
本发明的侦测装置与侦测方法可直接利用光传感器与转换电路的配合以侦测透光光栅结构而进行定位,故无须如现有技术先将立体影像打印在相纸或卡片等不透光基材上,再将透光光栅板黏贴在基材上,意即可省去基材配置以及基材与透光光栅结构对位黏贴的步骤,举例来说可直接印制立体影像数据在透光光栅结构的平面侧,进而大幅降低立体光栅影像的制造难度与制造成本。
附图说明
图1为本发明优选实施例侦测装置的示意图。
图2为本发明优选实施例侦测装置侦测透光光栅结构的侦测方法的流程图。
图3至图6分别为本发明优选实施例光源、光传感器与透光光栅结构在不同相对位置的示意图。
图7为本发明优选实施例转换电路转换光强度信号为转换信号的示意图。
图8为本发明另一实施例侦测装置的示意图。
其中,附图标记说明如下:
50 侦测装置 52 透光光栅结构
521 平面侧 523 圆柱侧
54 致动单元 56 光源
58 光传感器 60 转换电路
62 处理单元
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