[实用新型]缺陷检测装置有效

专利信息
申请号: 201220199489.6 申请日: 2012-05-03
公开(公告)号: CN202601581U 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 张士健 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;G01N21/88
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 缺陷 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种缺陷检测装置,包括:

用于放置待检测物的待检测平台;

设置于所述待检测平台上的检测镜头;

与所述检测镜头相连的光学控制面板;

其特征在于,所述缺陷检测装置还包括至少一个喷气枪,所述喷气枪平行设置于所述检测镜头旁,并朝向所述待检测平台。

2.如权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于,还包括气体供应源,所述气体供应源与所述喷气枪连通。

3.如权利要求2所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述气体供应源中的气体为氮气或氦气。

4.如权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述喷气枪的数量为两个,分别位于所述检测镜头的相对两侧。

5.如权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述喷气枪的长度为100mm~200mm。

6.如权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述喷气枪喷出的气体压力为30PSI~50PSI。

7.如权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述喷气枪的出气口处的高度与所述检测镜头的底端的高度平齐。

8.如权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述喷气枪的出气口到所述待检测物表面的距离大于1mm。

9.如权利要求1至8中任意一项所述的缺陷检测装置,其特征在于,所述待检测物为晶圆或掩膜板。

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