[发明专利]试样自动抛光设备及其使用方法有效
申请号: | 201210559497.1 | 申请日: | 2012-12-21 |
公开(公告)号: | CN103878669B | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 隋晓红;张鹏远;李平 | 申请(专利权)人: | 鞍钢股份有限公司 |
主分类号: | B24B29/02 | 分类号: | B24B29/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 114021 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 试样 自动 抛光 设备 及其 使用方法 | ||
技术领域
本发明属于钢铁冶金凝固组织检测领域,尤其涉及连铸坯凝固组织枝晶试样自动抛光设备及其使用方法。
背景技术
连铸坯枝晶检验是运用冷酸蚀法显示钢坯凝固枝晶组织形态的一种现代冶金检验手段。其中,受腐蚀的试样表面要求制备成具有Ra=0.1μm的光洁度,因此必须进行抛光处理。对于低倍枝晶检验的连铸钢坯试样而言,由于试样面积大,重量重,表面精度要求高,非检验者人工手动抛光力量所能及。
目前连铸坯低倍枝晶检验所采用的抛光方法是用手提抛光机对试样进行抛光。将连铸坯试样的受检验面铣磨加工之后,由人工手持装有粘轮的抛光机在试样面上前、后、左、右移动抛光,不时施加金刚石研磨膏或水等抛光剂。由于抛光机自身重量重,钢坯表面粗糙,操作时振动剧烈,人工控制抛光轮的磨抛力时,行走速度很难掌握,抛光力度不易掌握,试样面抛光程度不均匀,劳动强度大,效率低,对人体和设备都构成安全隐患。目前,国内外同行的枝晶检验均存在此类问题。
专利《一种试样抛光机》(专利号CN200920014532.5)涉及一种试样抛光机,该抛光机包括抛光盘的转动系统、抛光槽、手轮、试样的位移系统和纵向位移系统,抛光盘转动系统中的主电机与花键套为皮带传动,花键套带动抛光盘转动系统的主轴转动,从而使主轴下方的抛光盘在试样表面旋转,对连铸坯试样表面进行磨抛,用手轮控制蜗轮蜗杆传动装置,通过压力杆带动主轴及抛光盘上下移动,或施加抛光压下力,主轴上部安装的花键套可使主轴沿键槽上下移动,将试样的试面朝上,自然平放在抛光槽内,实现试样的全截面抛光;其不足之处在于当被抛光试样自然平放在抛光槽中时,被抛光的连铸坯试样表面是平的,但是整个连铸坯试样的底面是不平的,连铸坯试样放到抛光槽中后,由于底面的凹凸不平,必定使连铸坯试样被抛光试面向一方倾斜,如果抛光盘完全平行连铸坯试样抛光面抛光,会使某一端面抛光不足,而另一端面抛光过度产生焦糊状态;控制抛光槽移动的两套相互垂直的位移系统可分别带动试样做横、纵向往复运动,其不足之处在于抛光时不能改变抛光区域范围,不能按照实际需求在抛光槽的部分区域运动。为此,须研究一种试样自动抛光设备及其使用方法。
发明内容
本发明的目的在于克服上述问题和不足而提供连铸坯凝固组织枝晶试样自动抛光设备及其使用方法,适用于用于对大工业生产的连铸坯试样凝固组织枝晶状态和低倍组织的检验,抛光操作简单,提高效率。
为实现上述目的,本发明采取以下技术方案:
试样自动抛光设备,包括与抛光盘转动系统连接的抛光盘、抛光槽、承载台、手轮、冷却水管、承载台底部设置横向位移系统和纵向位移系统分别与两个电机相连,抛光槽呈方形,其方形的中心设置无触点检测开关,方形的四边分别等距离安装三个无触点检测开关,所述电机采用变频电机,无触点检测开关与两个变频电机连接。当试样接触到的无触点检测开关时,无触点检测开关会发出一个检测到试样的位置信号传输给横向位移变频电机或纵向位移变频电机,变频电机运行带动位移系统,使得承载台带动试样改变运行轨迹,在选定区域内做横向位移或纵向位移。
抛光盘转动系统与抛光盘之间设置万向节联轴器,可以向360度任意方向倾斜旋转对试样进行抛光。
试样自动抛光设备的使用方法:首先将试样固定于载物台上,抛光面水平朝上,调节旋转手轮使抛光盘的起始位置处于试样表面上,对于抛光面倾斜试样,利用万向节联轴器调整角度,打开冷却水管,施加适量抛光液或冷却水;启动并调节抛光盘转动系统、试样槽的横向位移系统和纵向位移系统对试样表面进行前后抛光操作及左右抛光操作,对于小试样的抛光,启动选取区域的无触点检测开关控制抛光的运行轨迹,使其在选定区域内运动,抛光结束后,旋转手轮,使抛光盘上移之适当位置卸样。
本发明的有益效果在于:
(1)抛光盘的运动轨迹是由多个无触点开关做区域检测控制抛光的运行轨迹,进行位置检测后自动进行左右和前后换向的,直至将整个横截面全部抛光完成,提高普通整体抛光设备提高工作效率。
(2)在抛光盘转动系统与抛光盘中加入万向节联轴器后,抛光盘可以向360度任意方向倾斜旋转对试样进行抛光,适应了对于连铸坯等大试样放置不平状态对端面的抛光工艺,满足了对大工业生产连铸坯试样枝晶检验的要求。
附图说明
图1为大试样自动抛光设备结构图。
图2为无触点检测开关位置示意图。
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