[发明专利]一种液晶显示面板的检测方法无效
申请号: | 201210479145.5 | 申请日: | 2012-11-22 |
公开(公告)号: | CN102944945A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 李志明;黄皓;潘昶宏 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G02F1/1362 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
地址: | 518000 广东省深圳市光明新区公*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 液晶显示 面板 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别是涉及一种液晶显示面板的检测方法。
背景技术
现有技术中,通过成盒(cell)制程得到的液晶显示面板将进入模组(module)制程,以将液晶显示面板和驱动IC装配为液晶显示模组。在模组制程中,通常是通过对液晶显示模组绑定(bonding)后进行点灯检测,以对液晶显示面板的影像残留现象进行拦检。影像残留是指在结束外加电场时,液晶显示面板的显示画面不会即时消失,而是逐渐延迟消失的现象,由此影响显示品质。因此,在液晶显示模组点灯检测过程中,当检测到液晶显示面板有影像残留现象时,由于液晶显示面板已经和驱动IC装配为液晶显示模组,因此较难对其中的液晶显示面板进行修复。
进一步的,现有成盒制程阶段使用的1D1G(1DATA 1GATE,1数据线1扫描线)点灯检测方法中,只能点亮黑、白、灰的单色显示画面,无法检测影像残留。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种液晶显示面板的检测方法,能够在cell阶段使用1D1G点灯检测方法对影像残留进行拦检,增强缺陷检出能力,提升良率。
为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是:提供一种液晶显示面板的检测方法,在成盒制程阶段使用的1D1G点灯检测中,将液晶显示面板的多条扫描线分为第一组扫描线、第二组扫描线,将液晶显示面板的多条数据线分为第一组数据线和第二组数据线;第一组扫描线和第二组扫描线周期性地输送扫描驱动信号,每个扫描周期分为第一子周期和第二子周期;在第一子周期,第一组扫描线输送第一扫描驱动信号,且第一组数据线输送第一检测信号,第二组数据线输送第二检测信号;在第二子周期,第二组扫描线输送第二扫描驱动信号,且第一组数据线输送第二检测信号,第二组数据线输送第一检测信号;其中,所述第一检测信号和所述第二检测信号分别提供不同颜色的第一显示画面和第二显示画面。
其中,第一检测信号是提供白色画面的信号,第二检测信号是提供黑色画面的信号。
其中,第一检测信号是提供黑色画面的信号,第二检测信号是提供白色画面的信号。
其中,第一子周期为前半扫描周期,第二子周期为后半扫描周期。
其中,第一子周期为后半扫描周期,第二子周期为前半扫描周期。
其中,第一组扫描线为奇数组扫描线,第二组扫描线为偶数组扫描线,第一组数据线为奇数组数据线,第二组数据线为偶数组数据线。
其中,第一组扫描线为偶数组扫描线,第二组扫描线为奇数组扫描线,第一组数据线为偶数组数据线,第二组数据线为奇数组数据线。
其中,液晶显示面板电连接至点灯检测装置,点灯检测装置用于向液晶显示面板提供第一扫描驱动信号、第二扫描驱动信号、第一检测信号以及第二检测信号。
其中,第一组扫描线、第二组扫描线、第一组数据线和第二组数据线分别连接至点灯检测装置的信号发生器的不同信号通道。
其中,第一组扫描线、第二组扫描线、第一组数据线和第二组数据线分别通过位于液晶显示面板边缘的对应的导电胶分别连接至信号发生器的不同信号通道。
本发明的有益效果是:区别于现有技术的情况,本发明通过设置第一扫描线在第一子周期输送扫描驱动信号,且第一组数据线输送第一检测信号,第二组数据线输送第二检测信号;第二组扫描线在第二子周期输送扫描驱动信号,且第一组数据线输送第二检测信号,第二组数据线输送第一检测信号,使得在成盒制程中能显示不同颜色的第一显示画面和第二显示画面,因此,在结束外电场时,能够对影像残留进行拦检,由此实现在成盒制程阶段使用1D1G点灯检测方法对液晶显示面板的影像残留进行拦检,增强缺陷检出能力,提升良率。
附图说明
图1是本发明的一种液晶显示面板的检测方法的原理图;
图2是本发明的数据线和扫描线输送的信号的波形图;
图3是根据本发明的液晶显示面板的检测方法产生的一种检测画面的效果示意图;
图4是根据本发明的液晶显示面板的检测方法产生的另一种检测画面的效果示意图;
图5是本发明的液晶显示面板与点灯检测装置连接的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细说明。
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