[发明专利]面板暗点检测电路

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种面板暗点检测电路。

背景技术

目前，平面电场宽视角核心技术-高级超维场转换技术（ADvancedSuper Dimension Switch，ADS）可以提高TFT-LCD产品的画面品质，具有高分辨率、高透过率、低功耗、宽视角、高开口率、低色差、无挤压水波纹（Push Mura）等优点。但在阵列基板生产工艺中会产生有源层残留（Active&N+Remain），到液晶成盒后会造成点状不良较多，此种残留微观显微镜下轻微，但是Remain造成的暗点不良相比TN（Twisted Nematic）型会更加直观的凸显出来，但是在面板切割形成面板状态时，暗点现象非常微弱，Module状态比较明显。因此在这种暗点在面板状态时不容易被检测出来，若这种暗点不良的面板流入Module则会产生较多不合格的产品，从而增加不必要的成本。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：如何在面板状态下有效地检测出Remain造成的暗点不良。

（二）技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供了一种面板暗点检测电路，包括：预设电压产生模块和选择电路模块，所述预设电压产生模块连接所述选择电路模块，用于将产生的N个预输入面板的预设电压传输至所述选择电路模块，所述选择电路模块包括N个用于分别接收所述N个预设电压的输入端口、一个输出端口及用于选通所述输出端口与其中一个输入端口的选通开关，N≥2。

其中，所述预设电压产生模块包括：单片机、D/A转换器和N个运算放大器，所述单片机连接所述D/A转换器，用于将设置的N个数字电压信号发送到所述D/A转换器，所述D/A转换器将N个数字电压信号转换成N个模拟信号，并将N个模拟信号分别发送至N个运算放大器，所述N个运算放大器连分别接所述选择电路模块的N个输入端口，用于将放大后的N个模拟信号发送至所述选择电路模块。

其中，所述预设电压产生模块用于将产生的两个预输入面板的预设电压传输至所述选择电路模块，所述选择电路模块包括两个用于分别接收所述两个预设电压的输入端口、一个输出端口及用于选通所述输出端口与其中一个输入端口的选通开关。

其中，所述预设电压产生模块产生的预设电压为：栅极高电平电压，原L63的栅极为高电平电压时选择的预设电压为所述栅极高电平电压，所述栅极高电平电压低于原L63的栅极高电平电压。

其中，所述预设电压产生模块产生的栅极高电平电压为0~5V。

其中，所述预设电压产生模块产生的预设电压为：栅极低电平电压，原L63的栅极为低电平电压时选择的预设电压为所述栅极低电平电压，所述栅极低电平电压低于或等于原L63的栅极低电平电压。

其中，所述预设电压产生模块产生的栅极低电平电压为-10V~﹣13V。

其中，所述预设电压产生模块包括：单片机、D/A转换器和两个运算放大器，所述单片机连接所述D/A转换器，用于将设置的两个数字电压信号发送到所述D/A转换器，所述D/A转换器将两个数字电压信号转换成两个模拟信号，并将两个模拟信号分别发送至两个运算放大器，所述两个运算放大器连分别接所述选择电路模块的两个输入端口，用于将放大后的两个模拟信号发送至所述选择电路模块。

其中，所述选择电路模块为模拟开关。

其中，所述选择电路模块包括一个N型MOS管和一个P型MOS管，所述N型MOS管非栅极的一端连通第一运算放大器，所述P型MOS管非栅极的一端连通第二运算放大器，所述N型MOS管非栅极的另一端和所述P型MOS管非栅极的另一端连接形成输出端口，所述N型MOS管的栅极和所述P型MOS管的栅极连接形成选通开关。

（三）有益效果

本发明的面板暗点检测电路通过根据输入电压信号选择一个合适的预设电压加载至面板的栅线，使得面板中特殊微弱的暗点不良衍变成明显的亮点不良，以更明显的凸显出来，这样，在面板状态下能够有效地检测出Remain造成的暗点不良，避免了这种暗点不良的面板流入Module，从而降低了成本，提高了产品合格率。

附图说明

图1是本发明实施例的一种提供两路预设电压的面板暗点检测电路结构示意图；

图2是本发明实施例的另一种提供两路预设电压的面板暗点检测电路结构示意图；

图3是本发明实施例的一种面板暗点检测电路结构示意图。

具体实施方式