[发明专利]FPGA单粒子闩锁监测方法及装置

权利要求书

1.一种FPGA单粒子闩锁监测方法，其特征在于，该方法包括：

a、使用重离子束流辐照FPGA，监测FPGA的工作电流，当所述工作电流超过规定值时，对FPGA进行重新配置；

b、若上述重新配置失败，则对FPGA进行断电重启，重新加载程序；

c、若上述重新加载程序成功，则记录一次单粒子闩锁。

2.如权利要求1所述的监测方法，其特征在于，所述步骤a中，使用计算机控制的可编程电源，通过测量采样电阻的压降来监视FPGA的工作电流。

3.如权利要求1所述的监测方法，其特征在于，所述步骤a中，同时监测FPGA的工作温度。

4.如权利要求1所述的监测方法，其特征在于，所述步骤a中，所述工作电流超过规定值，是指超过FPGA器件正常工作电流的1.5倍。

5.如权利要求1所述的监测方法，其特征在于，在所述步骤a之后，若对FPGA重新配置成功，则继续监测所述工作电流。

6.如权利要求1所述的监测方法，其特征在于，在所述步骤b之后，若FPGA重新加载程序失败，则表示FPGA损坏。

7.如权利要求1所述的监测方法，其特征在于，在所述步骤c之后，进一步包括以下步骤：

设定当单粒子闩锁总数达到预设值或重离子总注量达到预设量时，停止辐照。

8.一种电流监测装置，其特征在于，该装置包括：

电流检测放大单元，用于检测采样电阻的电流，并放大采样电阻的电压；

电压比较单元，与所述电流检测放大单元相连，用于比较采样电阻的电压和参考电压，并根据比较结果输出高电平或低电平；

场效应晶体管，与所述电压比较单元相连，根据所述电压比较单元输出的电平来控制负载供电电路的导通和截止。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述电流检测放大单元和电压比较单元采用MAX4373芯片实现。