[发明专利]一种高亮度LED光轴检测装置及光轴偏移的检测方法有效
申请号: | 201210330215.0 | 申请日: | 2012-09-10 |
公开(公告)号: | CN102854000A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 张灵;朱振峰 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 林丽明 |
地址: | 510006 广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 亮度 led 光轴 检测 装置 偏移 方法 | ||
1.一种高亮度LED光轴检测装置,其特征在于包括有用于装设高亮度LED的LED灯放置底座(1)、光强分布获取装置(2)、FPGA控制芯片组(3)、USB传输电路(4)、上位机(5),其中光强分布获取装置(2)装设在LED灯放置底座(1)的旁侧、且能获取高亮度LED光强的位置上,FPGA控制芯片组(3)驱动光强分布获取装置(2)获取LED光强分布的图像数据,且FPGA控制芯片组(3)通过USB传输电路(4)将采集到的数据实时地上传到上位机(5)。
2.根据权利要求1所述的高亮度LED光轴检测装置,其特征在于上述光强分布获取装置(2)为CCD芯片组。
3.根据权利要求1所述的高亮度LED光轴检测装置,其特征在于上述USB传输电路(4)通过USB总线将采集到的数据实时地上传到上位机(5)。
4.一种高亮度LED光轴偏移的检测方法,其特征在于包括有如下步骤:
1)高亮度LED直射光强分布图像数据的采集;
2)对光强数据进行处理,分析LED光轴的偏移。
5.根据权利要求4所述的高亮度LED光轴偏移的检测方法,其特征在于上述步骤2)对光强数据进行处理的方法包括如下步骤:
11)设LED灯放置底座(1)中高亮度LED与光强分布获取装置(2)中CCD芯片组的CCD感光面之间的距离为确定值l,光强分布获取装置(2)中CCD芯片组中的CCD相邻像元的距离为a,b;
12)测量并确定一个高亮度LED的机械轴位置,测量时LED机械轴位置由LED的机械中心O来确定,为确定LED的机械中心O的准确位置,采用多次测量取平均的方法,待测LED的光轴位置D(A、B、C)也采用相应的方法;
13)根据步骤11)中确定值l、a和b以及步骤12)中的位置O、D确定的光轴偏移量r得出LED光轴偏移角度α。
6.根据权利要求5所述的高亮度LED光轴偏移的检测方法,其特征在于上述步骤12)中测量并确定一个高亮度LED的机械轴位置时,记录并存储起来以便在显示时标记出来作为后续LED光轴检测的参照。
7.根据权利要求5所述的高亮度LED光轴偏移的检测方法,其特征在于上述步骤13)中在用作LED拣选时,首先利用l和a、b的值,以位置O为圆心作出圆M,表示光轴位置偏移的容忍范围,检测时当被检测LED光轴位置为D(A、B、C),B、C和D在圆M内为合格品,A在圆M外为不合格品。
8.根据权利要求5所述的高亮度LED光轴偏移的检测方法,其特征在于上述步骤12)中由上位机(5)对接收到的帧计数来判断该帧是否为有效帧,保留有效帧为第4到第8帧,上位机(5)将接收到的5帧LED光强分布图像数据分别存储起来计算出每个帧的光强中心,然后综合各帧光强中心使用平均的方法得到该LED的光轴位置。
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