[发明专利]反馈检测电路

说明书

技术领域

本发明是关于一种反馈检测电路，尤指一种具有较佳瞬态响应的反馈检测电路。

背景技术

在反馈控制系统中，有时为了电路设计上的要求(例如：隔离)，会使用集成电路于反馈检测电路。举例来说，图1为传统的光耦合反馈电路之的电路示意图。请参考图1，光耦合反馈电路中的一光耦合器PC可以提供输入和输出之间的良好隔离效果。为了控制光耦合器PC，光耦合反馈电路使用了一分流稳压器TL431。一输出电压Vout经一分压器VD提供一分压信号输入分流稳压器TL431的一参考端。分流稳压器TL431的一阴极端耦接光耦合器PC的一发光二极管的一端，而一阳极端接地。光耦合器PC中的发光二极管的另一端通过一电阻R耦接输出电压Vout，以接收发光所需的电力，并输出一反馈检测信号FB。分流稳压器TL431的阴极端及参考端之间会加入一补偿电路CN以稳定反馈回路。然而，在一些工作状态不断切换且对瞬态响应的速度要求较高的系统中，分流稳压器TL431的瞬态响应速度往往成为瓶颈，尤其在非线性负载时，其影响尤其明显。

图2为传统的整合电源系统架构(LCD Integrated Power System，LIPS)的发光二极管脉冲调光(Burst Dimming)系统的电路示意图。请参考图2，图2的左侧的反馈检测电路的架构与图1所示的反馈检测电路的架构相同，仅将输出电压Vout以一系统电压VCC取代。在图2的右侧，一发光二极管模块LD的一正端耦接一驱动电压VLED，而一负端耦接一晶体管开关M。晶体管开关M接收一脉宽调制调光信号DIM以据此导通或关断。一二极管D1的一正端耦接分压器VD的一分压点，而一负端耦接发光二极管模块LD的负端。当晶体管开关M关断时，发光二极管模块LD的负端的一电平会升高。此时，二极管D1反向关断，分流稳压器TL431的一工作点由分压器VD的分压点的电压决定(下称状态一)。当晶体管开关M导通时，发光二极管模块LD的负端的电平会降低使二极管D1导通，分流稳压器TL431的工作点由发光二极管模块LD的负端的电压决定(下称状态二)。因此，反馈检测电路会在上述的两个工作状态之间来回切换。状态一时，发光二极管模块LD熄灭，负载为空载，提供驱动电压VLED的一电源系统(未示出)停止向发光二极管模块LD提供能量。状态二时，发光二极管模块LD点亮，负载为满载，电源系统需立即补给足够能量使发光二极管模块LD维持稳定亮度。然而，受分流稳压器TL431瞬态响应速度的限制，电源系统并不能立即从空载切换至满载，因而造成由状态一切换至状态二时，负电源系统的能量供应不足，使得发光二极管模块LD闪烁。

发明内容

鉴于现有技术中的反馈检测电路的瞬态响应速度会造成状态切换时的应用限制，本发明利用一信号限制电路限制反馈检测电路所产生的一反馈信号的一电平，使得状态切换时，反馈检测电路的一运算转换电路的调整幅度得以缩小甚至不需调整，由此而达到提高瞬态响应速度的优点。

为达上述目的，本发明提供了一种反馈检测电路，适用于提供一反馈检测信号，使一转换电路根据反馈检测信号产生一驱动电源以驱动一负载。反馈检测电路包含一运算转换电路以及一信号限制电路。运算转换电路根据耦接负载的一待测点的一电平产生反馈检测信号，其中运算转换电路具有一运算放大器，运算放大器耦接待测点以对应待测点的电平调整反馈检测信号的大小。信号限制电路耦接运算转换电路，用以控制反馈检测信号的范围。

本发明也提供了另一种反馈检测电路，适用于提供一反馈检测信号，使一转换电路根据反馈检测信号产生一驱动电源以驱动一负载。反馈检测电路包含一运算转换电路以及一信号限制电路。运算转换电路根据一待测点的一电平产生反馈检测信号，其中运算转换电路具有一运算放大器，运算放大器耦接待测点以对应待测点的电平调整反馈检测信号的大小。信号限制电路耦接运算转换电路，并根据一脉冲信号决定是否控制反馈检测信号，其中信号限制电路在脉冲信号位于一第一逻辑状态时限制反馈检测信号的一电平在一预定电平，在脉冲信号位于一第二逻辑状态不限制反馈检测信号的电平。

以上的概述与接下来的详细说明皆为示范性质，是为了进一步说明本发明的申请专利范围。而有关本发明的其他目的与优点，将在后续的说明与附图加以阐述。

附图说明

图1为传统的光耦合反馈电路的电路示意图；

图2为传统的整合电源系统架构的发光二极管脉冲调光系统的电路示意图；

图3为本发明反馈检测电路的电路方块图；

图4为根据本发明一第一实施例的反馈检测电路应用于发光二极管脉冲调光系统的电路示意图；