[发明专利]一种测试接入点设备以及调整该设备工作模式的方法无效
申请号: | 201210141995.4 | 申请日: | 2012-05-10 |
公开(公告)号: | CN102769550A | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
发明(设计)人: | 李彧;许迎春;苗澎;沈文博;陈祝清 | 申请(专利权)人: | 南京英飞诺网络科技有限公司 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26;H04L12/24 |
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地址: | 211800 江苏省南京市紫*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 接入 设备 以及 调整 工作 模式 方法 | ||
技术领域
本发明属于网络技术领域,特别的,属于测试接入点设备。
背景技术
测试接入点(TAP,Test Access Point)设备是一种流量接入管理的网络设备,用于对高速以太网流量的数据监听和转发。近年来,随着数据中心和云计算,网络安全等方面的应用,对于高性能TAP设备提出了新的要求。传统的TAP多基于分光器与信号再生的方案,由于不能支持数据中心常用的SFP屏蔽铜缆(SFP direct attached twist pair)导致整体系统成本偏高。但是由于铜缆的衰减较大,支持铜缆必须加入预加重和均衡电路。由于预加重和均衡电路属于高速模拟电路,其参数多调整复杂,不适合设备维护人员进行调整,因此,有必要提出一种方案来满足用户快速简单配置参数的需求,并提高系统性能,降低功耗。
发明内容
本发明提供了一种测试接入点设备,包括输入SFP+插槽、输入电路、流量复制电路、多个输出电路、电源电路、输出SFP+插槽和控制电路等, 所述的输入电路包括自适应均衡器和第一直通通路的数据通路切换器;所述的输出电路包括输出预加重电路和第二直通通路的数据通路切换器。
所述的测试接入点设备,其中所述输入电路的自适应均衡器包括一输入端小信号放大器、多个级联的传输延迟线、多个连接在传输延迟线输出端的可变增益放大器、一累加器、一时钟恢复单元、多个级联的触发器、多个连接在触发器输出端的可变增益放大器以及一DEF输出缓冲器,所述第一直通通路的数据通路切换器耦合至所述DFE输出缓冲器以及所述输入端小信号放大器的输出端。
所述的测试接入点设备,其中所述流量复制电路包括多个级联的高速数据缓冲器构成,将输入端口的10G数据流复制到多个输出端口上。
所述的测试接入点设备,其中所述流量复制电路工作在10Gbps速率上。
所述的测试接入点设备,其中所述输出电路的输出预加重电路包括一输入均衡器、一时钟数据恢复电路、多个寄存器、多个乘法器、多个级联的加法器以及一输出端多路复用器,所述输出端多路复用器耦合于所述输入均衡器的输出端上以及所述多个级联的加法器的最后一级加法器的输出端上。
所述的测试接入点设备,其中控制电路包括微处理器和周边电路,所述周边电路包括随机访问存储器、只读存储器、以太网接口和相应的以太网控制器芯片。
本发明的另一方面,还提供了一种调整测试接入点设备工作模式的方法,所述测试接入点设备包括输入SFP+插槽、输入电路、流量复制电路、多个输出电路、电源电路、输出SFP+插槽和控制电路等,
所述的输入电路包括自适应均衡器和第一直通通路的数据通路切换器;
所述的输出电路包括输出预加重电路和第二直通通路的数据通路切换器,
所述方法包括以下步骤:
步骤1:控制电路通过I2C接口读取与SFP+插槽连接的模块的信息;
步骤2:根据I2C接口的相应存储器位置判断与SFP+插槽连接的模块的类型,对与SFP+插槽连接的端口类型进行编码;
步骤3:根据所述编码对输入电路进行控制,切换所述第一直通通路的数据通路切换器的输出选择;
步骤4:根据所述编码对输出电路进行控制,切换所述第二直通通路的数据通路切换器的输出选择;
步骤5,控制电路等待N秒,N为大于1的整数,重新进入步骤1。
附图说明
图1为本发明的TAP的结构框图
图2为本发明的输入电路的结构图
图3为本发明的输出电路的结构图
图4为本发明的SFP光模块的I2C存储器地址映射结构图
图5为本发明的自动调整方法流程图
具体实施方式
图1显示了本发明TAP的结构。TAP由输入SFP+插槽101,输入电路102,流量复制电路103,多个输出电路104,电源电路106,输出SFP+插槽105以及和控制电路107等部分构成。
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