[发明专利]一种低压差分信号测试系统和方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种信号测试系统和方法，具体地说，涉及一种低压差分信号测试系统和方法。

背景技术

在半导体器件的制造中，经常出现需要测试电信号的各种参数的情况，以验证其工作是否正常。通过测试获得的信息可用于标记并报废不能达到预期性能的器件。测试结果有时可用于改变器件制造过程的步骤。例如，可以在后续步骤中对器件进行校正，使其符合预期的性能。

随着半导体器件性能的提高，半导体器件测试难度也提高了。电子系统的工作速度已经越来越快，在快速信号中使用低压差分信号(Low Voltage Differential Signal，LVDS)已经越来越普遍，低压差分信号是一种低功耗的高速信号传输技术，低压差分信号具有高速度、低功耗、低噪声、低成本等优点，在高速数据传输上得到了广泛的应用。对信号的特性需要进行测试以确保LVDS能够无差错传输。

目前，对低压差分信号的测试主要依靠操作员手工操作，手工操作的测试方法不仅效率低，而且容易出错，已不能满足快速高质量生产的竞争需求。所以，如何高效率地测试低压差分信号的参数是当前亟待解决的问题。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种低压差分信号测试系统，所述系统包括：输入模块，用于供用户输入测试所需的信息；通信连接模块，用于根据用户选择的连接方式来与示波器进行连接；测量模块，用于通过控制示波器对低压差分信号的参数进行测量；评估模块，用于评估测量结果中的低压差分信号的参数是否符合技术标准；和输出模块，用于将测得的低压差分信号的参数以及所述评估模块对参数的评估结果输出。

优选地，所述的测试系统进一步包括报告生成模块，用于在测试完成后将测试结果和评估结果将生成报告供用户查阅。

优选地，所述测量模块包括：设置模块，用于对示波器进行设置；参数测量模块，用于对信号参数进行测量；和测量结果获取模块，用于将所述信号参数从示波器传输到测试系统。

优选地，所述设置模块进一步用于：恢复出厂设置；锁定示波器；设置余辉模式；设置截屏模式；设置采样模式；选择测量通道；和设置测量参考电平。

优选地，所述输入模块包括供用户输入测量所需的信息图形用户界面。

优选地，所述连接方式包括以太网方式和通用数据总线方式。

优选地，所述测试所需的信息包括：测量技术标准和测量参数。

优选地，所述测量参数包括最大正峰值电压、最大负峰值电压、峰-峰值、上升时间、下降时间和抖动。

优选地，所述示波器为用于测试低压差分信号的示波器。

优选地，所述生成的报告还包括截取的信号的波形图。

本发明另一方面提供了一种低压差分信号测试方法，所述方法包括：获取测试所需的信息；通过通信连接方式连接到示波器；通过控制示波器进行参数的测量；评估测量结果中的低压差分信号的参数是否符合技术标准；和将测得的低压差分信号的参数以及所述评估模块对参数的评估结果输出。

优选地，所述的测试方法进一步包括在所有测试步骤完成后将测试结果和评估结果生成报告，供用户查阅。

优选地，所述通过控制示波器进行参数的测量包括：设置示波器；测量信号参数；和将所述信号参数从示波器传输到测试系统。

优选地，所述设置示波器包括：将示波器恢复到出厂设置；锁定示波器；设置余辉模式；设置截屏模式；设置采样模式；选择测量通道；和设置测量参考电平。

优选地，所述获取测试所需的信息包括：通过图形用户界面获取所述测试所需的信息。

优选地，所述连接方式包括以太网方式和通用数据总线方式。

优选地，所述测试所需的信息包括：测量技术标准、用户信息和测量参数。

优选地，所述测量参数包括最大正峰值电压、最大负峰值电压、峰-峰值、上升时间、下降时间和抖动。

优选地，所述示波器为用于测试低压差分信号的示波器。

优选地，所述生成的报告还包括截取的信号的波形图。

本发明提供的低压差分信号测试系统和方法，可以做到自动快速地测试低压差分信号的参数，并能够杜绝由人工操作失误引起的测试结果错误，而且缩短了测试时间，提高了测试效率，所以本发明可以很好地满足高效率高质量生产的竞争需求。