[发明专利]一种精确对中定位装置无效
申请号: | 201210103711.2 | 申请日: | 2012-04-10 |
公开(公告)号: | CN102615566A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 王安定;邢廷文 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | B24B13/005 | 分类号: | B24B13/005 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;顾炜 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 精确 定位 装置 | ||
技术领域
本发明涉及定位装置的技术领域,尤其是一种精确对中定位装置,其特别适用于离子束抛光机的对中定位装置。
背景技术
离子束抛光机是离子束抛光技术,该技术是现代光学加工技术中非常先进的一种光学镜面磨制技术,是原子量级上的无应力、非接触式的抛光技术。抛光过程由计算机控制,具有加工精度高,无应力,加工面洁净无污染的特点,特别适合加工非球面镜面、正六边形镜面等,具有传统工艺无法比拟的优越性,同时还能提高工作效率,显著提高表面质量。
离子束抛光机基本原理是利用被加速的高能粒子与工作表面原子核直接产生弹性碰撞,通过惯量转移的方法,将粒子能量传递给工件材料的原子,使部分工件原子产生溅射,逸出工件表面,从而将缺陷表面材料去除。
由于离子束抛光机的抛光是最后的去除工序,是对缺陷部位的定点清除,因此需要对缺陷部位的位置进行精确找正。加工时,无论工件及夹具保持静止状态或者位置可控的运动状态,对中定位装置或对工件直接对中定位,或通过夹具对工件对中定位。
传统对中定位装置因为没有迟延机构而导致全部对中块不能准确可靠接触,而不能实现工件或夹具的精确定位,或者使用初期能实现对中定位,但随着磨损与松动的出现,需要不断地进行调节,从而影响对中定位装置的使用精度。
发明内容
本发明的目的是提供一种精确对中定位装置,其是一种结构简单的各对中定位块有相对迟延的对中定位装置,解决工件的对中定位问题及通过夹具解决工件的对中定位问题。
本发明的目的是这样实现的:一种精确对中定位装置,该装置包括:
传送机构,用于提供动力,其为柔性传送机构或刚性传送机构;
装夹机构,包括基准装夹结构和非基准装夹结构;所述的基准装夹结构包括拖板一、导向杆一、一组内导向杆座及外导向杆座、滑块一、基准对中定位块、调节锁紧机构和定位机构;拖板一与滑块一固定连接,一组内导向杆座及外导向杆座用来固定导向杆一,导向杆一对滑块一进行导向;所述的非基准装夹结构包括:拖板二、导向杆二、另一组内导向杆座及外导向杆座、滑块二、非基准对中块、调节锁紧机构和定位机构;拖板二与滑块二通过迟延 机构连接,另一组内导向杆座及外导向杆座用来固定导向杆二,导向杆二对滑块二进行导向;基准对中定位块、非基准对中块在导向杆一、导向杆二的导向作用下对夹具或工件装夹定位;
所述的迟延机构,其是有间隙的孔轴配合或不完全齿轮组,用于传送机构在起始运动时刻非基准定位块产生位移迟延;
所述的基准装夹结构和非基准装夹结构中所述的调节锁紧机构均包括调节机构及锁紧机构;所述的定位机构按设定位置利用基准装夹结构和非基准装夹结构中所述的调节锁紧机构将基准装夹结构及非基准装夹结构准确锁定。
进一步的,所述的柔性传送机构为无齿带或多齿带或同步带或链条。
进一步的,所述的刚性传送机构为对称安放的齿条或对称安装的连杆机构。
进一步的,基准装夹结构和非基准装夹结构中所述的调节锁紧机构锁紧力为磁力、液压力或机械力。
本发明的原理在于:
本发明的传送机构串接固定基准对中定位块及通过迟延机构连接其它非基准对中定位块,基准对中定位块先于其它非基准对中定位块与定位块接触并定位,基余对中定位块在补偿行程间隙后与相对应定位块接触并定位,调节锁紧机构通过锁紧力锁紧各定位块。
本发明与现有技术相比的优点在于:
1)、本发明由于本发明具有迟延机构,从而可以实现所有对中块能准确可靠接触,实现精确定位。
2)、本发明结构简单,易于实施。
附图说明
图1为一种精确对中定位装置结构示意图;
图2为迟延机构结构示意图;
附图标记说明:1为同步带;2为拖板一;3为导向杆一;4为内导向杆座;5为滑块一;6为调节杆一;7为止挡;8为基准对中定位块;9为拖板二;10为固定销;11为回转销;12为调节杆二;13为非基准对中块;14为滑块二;15为导向杆二;16为外导向杆座;17为外导向杆座;18为内导向杆座。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细地描述。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210103711.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。