[发明专利]一种碎屑岩岩性识别方法及系统有效

专利信息
申请号: 201210089632.0 申请日: 2012-03-30
公开(公告)号: CN102606150A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 杨玉卿;崔维平;李国军 申请(专利权)人: 中国海洋石油总公司;中海油田服务股份有限公司
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;E21B49/02
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 栗若木;曲鹏
地址: 100010 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 碎屑岩 识别 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及岩性识别技术,尤其涉及一种碎屑岩岩性识别方法及系统。

背景技术

确定地层岩性的技术目前有两种。第一种是纯地质分析方法,其利用实物样品进行定量分析,识别结果很准确但因井下取心少且零散而难以建立连续的地层岩性剖面,无法实现对地层进行系统研究的目的。第二种是纯测井处理方法,其可以建立连续的地层岩性剖面,连续反映地层岩性的变化,但只能识别出简单的砂岩、泥岩剖面,即使应用成像资料进行岩性识别,也因为容易受到流体性质等因素的影响,分辨率较低,可靠性较差,无法准确评价储层物性和进行精细沉积学研究,也不能准确提供全部的岩矿成分,完成按岩石组分命名地层岩性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服目前还无法准确连续地对地层进行岩性识别的缺陷。

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种碎屑岩岩性识别方法,包括:

根据岩心或壁心实验分析资料及录井资料,按粒级确定岩心或壁心岩石样品的岩性类型;

对岩心或壁心岩石样品的岩性类型与常规测井曲线进行交互分析,建立常规测井曲线电性值与不同粒级的岩性类型之间的数理统计关系;

基于常规测井曲线电性值与不同粒级的岩性类型之间的数理统计关系,根据常规测井曲线建立未取心段及全井段的岩性剖面;

利用成像测井资料对岩性剖面中不同岩性的厚度及含砾石岩类进行校正,建立连续的地层岩性粒级序列。

其中,按粒级确定岩心或壁心岩石样品的岩性类型的步骤,包括:

在确定岩心或壁心岩石样品的粒度后,按粒级定量确定岩心或壁心岩石样品的岩性类型。

其中,常规测井曲线包括自然伽马曲线及密度曲线。

其中,利用成像测井资料对岩性剖面中不同岩性的厚度进行校正的步骤,包括:

利用成像测井资料纵向分辨率对岩性剖面中不同岩性的厚度进行校正。

其中,利用成像测井资料对含砾石岩类进行校正的步骤,包括:

利用成像测井资料横向分辨率对含砾石岩类进行校正。

本发明还提供了一种碎屑岩岩性识别系统,包括:

岩性确定模块,用于根据岩心或壁心实验分析资料及录井资料,按粒级确定岩心或壁心岩石样品的岩性类型;

第一建立模块,用于对岩心或壁心岩石样品的岩性类型与常规测井曲线进行交互分析,建立常规测井曲线电性值与不同粒级的岩性类型之间的数理统计关系;

第二建立模块,用于基于常规测井曲线电性值与不同粒级的岩性类型之间的数理统计关系,根据常规测井曲线建立未取心段及全井段的岩性剖面;

校正模块,用于利用成像测井资料对岩性剖面中不同岩性的厚度及含砾石岩类进行校正,建立连续的地层岩性粒级序列。

其中,岩性确定模块用于在确定岩心或壁心岩石样品的粒度后,按粒级定量确定岩心或壁心岩石样品的岩性类型。

其中,第一建立模块用于对岩心或壁心岩石样品的岩性类型与自然伽马曲线及密度曲线这两种常规测井曲线进行交互分析。

其中,校正模块用于利用成像测井资料纵向分辨率对岩性剖面中不同岩性的厚度进行校正。

其中,校正模块用于利用成像测井资料横向分辨率对含砾石岩类进行校正。

与现有技术相比,本发明的实施例可以实现按粒级精细划分地层岩性,能够满足储层评价和地质油藏研究的需要。本发明的实施例所建立的碎屑岩地层岩性剖面精细可靠,突破了传统的简单的砂泥岩剖面简单分类,可以准确地反映出地层沉积的变化特征,为精细评价储层物性和沉积学研究提供可靠依据。

附图说明

图1为本发明实施例的碎屑岩岩性识别方法的流程示意图。

图2为本发明实施例的碎屑岩岩性识别系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

如图1所示,本发明实施例的碎屑岩岩性识别方法主要包括如下步骤:

步骤S110,以岩心或壁心实验分析资料为主,参考录井资料,在准确确定岩心或壁心岩石样品的粒度后按粒级定量确定岩心或壁心岩石样品的岩性类型。

利用岩心或壁心实验分析资料,主要是粒度分析资料,按照碎屑颗粒粒级统计岩石样品中不同粒级组分(通常是按砾石、粗砂、中砂、细砂、粉砂及泥)的百分含量,然后根据沉积学粒级命名原则对岩石样品进行分类命名。

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