[发明专利]影像测量程序生成系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种影像测量程序生成系统及方法。

背景技术

对于产品（如电子产品）外观尺寸的测量，现有的方法一般是通过电荷耦合元件（Charge-coupled Device，CCD）影像感测器直接获取一样品的影像，再针对该样品的影像进行编程，以获取标准的测量程序，进而便于对后续产品的外观尺寸进行测量。然而，该种方法在编程前必须获取样品实物，当样品研发周期较长时，往往容易影响影像测量程序的生成效率。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种无需样品的影像测量程序生成系统。

另，还有必要提供一种影像测量程序生成方法。

一种影像测量程序生成方法，其包括参数设定步骤，用于设定尺寸测量接口标准（Dimensional Measuring Interface Specification，DMIS）程序编写参数；图形汇入步骤，用于汇入3D图形；程序编写步骤，用于依据DMIS程序编写参数及3D图形编写DMIS程序；以及程序转换步骤；用于将DMIS程序转换为影像测量程序。

一种影像测量程序生成系统，其包括参数配置单元及程序处理单元，所述参数配置单元包括参数设定模组，所述程序处理单元包括图像汇入模组、程序编写模组及程序转换模组，其中参数设定模组，用于设定尺寸测量接口标准（Dimensional Measuring Interface Specification，DMIS）程序编写参数；图形汇入模组，用于汇入3D图形；程序编写模组，用于依据DMIS程序编写参数及3D图形编写DMIS程序；以及程序转换模组；用于将DMIS程序转换为影像测量程序。

上述的影像测量程序生成系统及方法通过汇入待测产品的3D图形，并依据该3D图形编写DMIS程序，进而将DMIS程序转换为影像测量程序，以便后续影像测量仪直接调用该影像测量程序对待测产品进行测量。通过该影像测量程序生成系统及方法，使得测试者即使没有待测产品的样品实物也可以通过待测产品的图形资料对研发过程中的产品进行提前编程，提高了测量效率。

附图说明

图1是本发明影像测量程序生成系统较佳实施例的运行环境示意图；

图2是本发明影像测量程序生成方法较佳实施例的流程图。

主要元件符号说明