[发明专利]模拟电路测试装置有效
申请号: | 201210073244.3 | 申请日: | 2012-03-19 |
公开(公告)号: | CN102628923A | 公开(公告)日: | 2012-08-08 |
发明(设计)人: | 隋海建;宋红东 | 申请(专利权)人: | 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司 |
主分类号: | G01R31/316 | 分类号: | G01R31/316 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明;余刚 |
地址: | 100086 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 模拟 电路 测试 装置 | ||
1.一种模拟电路测试装置,其特征在于,包括:
产生电路,用于提供测试向量;
第一获取电路,连接于被测电路的输入端和所述产生电路之间,用于获取所述测试向量以及将所述测试向量施加至所述被测电路;
第二获取电路,连接于所述被测电路的输出端,用于获取所述被测电路的输出信息;以及
分析电路,与所述第二获取电路相连接,用于根据所述被测电路的输出信息判断所述被测电路的功能正确性。
2.根据权利要求1所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述产生电路包括:
特征产生器(12),用于产生特征序列;以及
模拟电路测试向量产生器(13),连接于所述特征产生器(12),用于根据所述特征序列得到所述测试向量。
3.根据权利要求2所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述产生电路还包括:
随机序列产生器(11),连接于所述模拟电路测试向量产生器(13),用于产生随机测试向量序列,
其中,所述模拟电路测试向量产生器(13)用于将所述特征序列的信息加入所述随机测试向量序列,以产生含有特征信息的测试向量。
4.根据权利要求1所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述第一获取电路为模拟电路向量获取电路(21),所述模拟电路向量获取电路(21)用于从数字模拟接口获取所述测试向量。
5.根据权利要求1所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述第二获取电路为解串行化电路,其中,所述解串行化电路用于获取所述被测电路的输出信息,以及将所述输出信息中的串行数据转换为并行数据。
6.根据权利要求1所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述第二获取电路为模数转换电路,其中,所述模数转换电路用于获取所述被测电路的输出信息,以及将所述输出信息中的模拟信号转换为数字信号。
7.根据权利要求5或6所述的模拟电路测试装置,其特征在于,包括数字电路(10),其中,所述数字电路(10)包括所述产生电路和所述分析电路。
8.根据权利要求7所述的模拟电路测试装置,其特征在于,还包括:
测试向量压缩电路(24),用于抽取解串行化电路或模数转换电路(23)恢复的数据流中的特征信息,并加以压缩,回传给所述数字电路(10)。
9.根据权利要求8所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述分析电路为测试向量特征分析电路(15),所述测试向量特征分析电路(15)用于分析经过所述测试向量压缩电路(24)压缩过的特征信息,并检测所述特征信息的正确性。
10.根据权利要求1所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述被测电路为串行器转换电路或数模转换电路。
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