[发明专利]模拟电路测试装置有效

专利信息
申请号: 201210073244.3 申请日: 2012-03-19
公开(公告)号: CN102628923A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 隋海建;宋红东 申请(专利权)人: 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司
主分类号: G01R31/316 分类号: G01R31/316
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明;余刚
地址: 100086 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 模拟 电路 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种模拟电路测试装置,其特征在于,包括:

产生电路,用于提供测试向量;

第一获取电路,连接于被测电路的输入端和所述产生电路之间,用于获取所述测试向量以及将所述测试向量施加至所述被测电路;

第二获取电路,连接于所述被测电路的输出端,用于获取所述被测电路的输出信息;以及

分析电路,与所述第二获取电路相连接,用于根据所述被测电路的输出信息判断所述被测电路的功能正确性。

2.根据权利要求1所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述产生电路包括:

特征产生器(12),用于产生特征序列;以及

模拟电路测试向量产生器(13),连接于所述特征产生器(12),用于根据所述特征序列得到所述测试向量。

3.根据权利要求2所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述产生电路还包括:

随机序列产生器(11),连接于所述模拟电路测试向量产生器(13),用于产生随机测试向量序列,

其中,所述模拟电路测试向量产生器(13)用于将所述特征序列的信息加入所述随机测试向量序列,以产生含有特征信息的测试向量。

4.根据权利要求1所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述第一获取电路为模拟电路向量获取电路(21),所述模拟电路向量获取电路(21)用于从数字模拟接口获取所述测试向量。

5.根据权利要求1所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述第二获取电路为解串行化电路,其中,所述解串行化电路用于获取所述被测电路的输出信息,以及将所述输出信息中的串行数据转换为并行数据。

6.根据权利要求1所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述第二获取电路为模数转换电路,其中,所述模数转换电路用于获取所述被测电路的输出信息,以及将所述输出信息中的模拟信号转换为数字信号。

7.根据权利要求5或6所述的模拟电路测试装置,其特征在于,包括数字电路(10),其中,所述数字电路(10)包括所述产生电路和所述分析电路。

8.根据权利要求7所述的模拟电路测试装置,其特征在于,还包括:

测试向量压缩电路(24),用于抽取解串行化电路或模数转换电路(23)恢复的数据流中的特征信息,并加以压缩,回传给所述数字电路(10)。

9.根据权利要求8所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述分析电路为测试向量特征分析电路(15),所述测试向量特征分析电路(15)用于分析经过所述测试向量压缩电路(24)压缩过的特征信息,并检测所述特征信息的正确性。

10.根据权利要求1所述的模拟电路测试装置,其特征在于,所述被测电路为串行器转换电路或数模转换电路。

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