[发明专利]磁共振成像装置有效
申请号: | 201210068015.2 | 申请日: | 2012-03-15 |
公开(公告)号: | CN102670202A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 油井正生;草原博志 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 孙蕾 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 | ||
针对相关申请的交叉引用
本申请是以2011年3月15日提出的日本专利申请2011-56450以及2012年2月7日提出的日本专利申请2012-24569为基础,并主张基于日本专利申请2011-56450和日本专利申请2012-24569的优先权。参照日本专利申请2011-56450和日本专利申请2012-24569的全部内容,并援引到本发明的说明书中。
技术领域
本发明的实施方式涉及磁共振成像装置(MRI:Magnetic Resonance Imaging)。
背景技术
MRI是用拉莫尔频率的高频(RF:radio frequency,射频)信号以磁性激励放置在静磁场中的被检体的原子核自旋,根据伴随该激励发生的磁共振(MR:nuclear magnetic resonance,核磁共振)信号重构图像的摄像法。
在MRI中,为了收集MR信号而用倾斜磁场线圈施加倾斜磁场,而倾斜磁场作为脉冲波被生成。因此,如果在倾斜磁场线圈的周围有电导体,则在倾斜磁场的上升时以及下降时在电导体中发生涡电流。
作为电导体的例子可以列举静磁场磁铁的热屏蔽。当把生成0.5T以上的静磁场的超导磁铁作为静磁场磁铁使用的情况下,在超导磁铁中作为热屏蔽设置有封入了液体氦的金属容器。进而。在该液体氦层的周围配置有封入了液体氮的金属容器等多个金属容器。因而,通过施加倾斜磁场在各金属容器中发生涡电流。
设置于静磁场磁铁的各金属容器的温度、材质以及大小互不相同。因而,在各金属容器中发生的涡电流的强度以及衰减的时间常数具有多个分量。一般来说,涡电流的时间常数跨越从0.2ms到3ms左右的宽范围。
另一方面,通过施加倾斜磁场,在倾斜磁场线圈的线材自身中也发生自身涡电流。由于该自身涡电流的作用有时产生不能忽视的磁场失真。
如果发生这样的涡电流,则产生因涡电流引起波动的涡流磁场,成为在从MRI装置的控制器中作为控制值输出的倾斜磁场的波形中发生失真的原因。而且,倾斜磁场的失真带来图像的伪像。
因而,研究出抑制涡流磁场生成的有源屏蔽型倾斜磁场线圈(ASGC:Actively Shielded Gradient Coil)。另外,研究出补正因涡流磁场而失真的倾斜磁场的波形的涡流磁场补偿。原理上能够用ASGC大幅度降低涡流磁场的强度。
但是,实际上因ASGC的制造误差和线圈线材的离散配置等理由,不能避免微小涡流磁场的发生。因此,当使用EPI(EPI:回波平面成像)法等的高速摄影法的情况下,有因微小的涡流磁场的存在在图像中发生伪像的危险。因而,即使在使用ASGC施加倾斜磁场的情况下,也希望进行涡流磁场的补偿。
作为抑制涡流磁场的另一技术,研究出如抵消涡流磁场那样,调整作为脉冲序列设定的倾斜磁场的波形的方法。例如,扩展强调成像(DWI:diffusion weighted imaging,扩散加权成像)用伴随MPG(motion probing gradient,弥散梯度磁场)脉冲的施加的EPI序列来执行。MPG脉冲因为是强力的倾斜磁场脉冲,所以提出了调整EPI序列中的其他的倾斜磁场以抵消在MPG脉冲中发生的涡流磁场的技术。
为了正确地进行涡流磁场的补偿,重要的是预先以充分的精度测量涡流磁场的强度、时间常数以及空间分布。例如,当进行DWI的情况下,重要的是用充分的精度测定具有从0.2ms到30ms左右的时间常数的涡流磁场。涡流磁场的强度以及时间常数能够根据利用涡流磁场测定用的脉冲序列收集到的MR信号的相位偏移信息来求得。
另一方面,近年,可以生成3T以上的静磁场强度的MRI装置开始普及。在这种高磁场下,有时由横缓和起动(T2*)缓和引起的MR信号强度的衰减的影像不能忽视。即,在MR信号中发生由涡流磁场引起的相位偏移、和由T2*衰减引起的相位偏移这双方。这种情况下,从MR信号的相位偏移量中正确地求涡流磁场的强度以及时间常数是困难的。特别是当进行DWI的情况下,涡流磁场的时间常数变成和T2*衰减的时间常数相同程度,高精度地测定涡流磁场的强度以及时间常数更加困难。
即、在以往的技术中,在大于等于3T的高磁场下,以充分的精度测定特别是具有和T2*衰减的时间常数同等程度的从0.2ms到30ms左右的时间常数的涡流磁场的强度以及时间常数是困难的。另外,希望不管是否是高磁场,都以良好的精度测定涡流磁场的强度以及时间常数。
发明内容
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社,未经株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210068015.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。