[发明专利]一种VFTO的测量方法和系统

权利要求书

1.一种特快速暂态过电压VFTO的测量方法，其特征在于，包括：

对所述VFTO的高频分量采用高分辨率连续采样测量；

对所述VFTO的低频分量中的工频分量采用低分辨率单次采样测量；其中，所述VFTO的低频分量中的准直流分量的幅值为GIS隔离开关操作产生VFTO的起始时刻的所述工频分量的幅值；

将所述VFTO的高频分量和低频分量的测量数据合成得到VFTO全波形。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述VFTO的高频分量和低频分量的测量数据合成得到VFTO全波形包括：

从所述工频分量的测量结果中获得击穿时刻，对应击穿点位置，将所述高频分量的测量结果嵌入到所述低频分量的测量结果中，得到所述VFTO全过程的波形。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述VFTO的低频分量中的工频分量采用低分辨率单次采样测量包括：

所述VFTO为GIS隔离开关操作产生的特快速暂态过电压；在低采样率条件下进行单次采集数据，完整记录GIS隔离开关分合闸操作全过程的准直流电压和工频电压，通过工频信号单次触发采集数据。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述VFTO的高频分量采用高分辨率连续采样测量包括：

在高采样率条件下采集数据，每次触发后采集VFTO中单次击穿过程的高频信号；其中，在GIS隔离开关产生VFTO过程中，隔离开关触头间隙每次击穿都会产生一次高频电流信号，利用所述高频电流信号触发采集高频数据。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，进一步包括：

当高频测量点在GIS隔离开关的工频电源侧时，将所述高频分量的测量结果分别嵌入到所述工频分量的测量结果对应的击穿点位置，得到电源侧VFTO全过程波形；当高频测量点在GIS隔离开关的短母线源侧时，将电源侧VFTO全过程波形中的工频分量替换成准直流分量，将两次击穿间的工频波形替换成准直流分量；其中，所述准直流分量的电压幅值等于前次击穿结束时刻的工频分量的电压幅值。

6.一种特快速暂态过电压VFTO的测量系统，包括：

高频测量子系统，用于对所述VFTO的高频分量采用高分辨率连续采样测量；

低频测量子系统，用于对所述VFTO的低频分量中的工频分量采用低分辨率单次采样测量；其中，所述VFTO的低频分量中的准直流分量的幅值为GIS隔离开关操作产生VFTO的起始时刻的所述工频分量的幅值；

波形合成装置，用于将所述VFTO的高频分量和低频分量的测量数据合成得到VFTO全波形。

7.如权利要求6所述的系统，其特征在于：

所述波形合成装置从所述工频电压的测量结果中获得击穿时刻，对应击穿点位置，所述波形合成装置将所述高频分量的测量结果嵌入到所述低频分量的测量结果中，得到所述VFTO全过程的波形。

8.如权利要求7所述的系统，其特征在于：

所述VFTO为GIS隔离开关操作产生的特快速暂态过电压；所述低频测量子系统在低采样率条件下进行单次采集数据，完整记录GIS隔离开关分合闸操作全过程的准直流电压和工频电压，通过工频信号单次触发采集数据。

9.如权利要求8所述的系统，其特征在于：

所述高频测量子系统在高采样率条件下采集数据，每次触发后采集VFTO中单次击穿过程的高频信号；其中，在GIS隔离开关产生VFTO过程中，隔离开关触头间隙每次击穿都会产生一次高频电流信号，所述高频测量子系统利用所述高频电流信号进行触发采集高频数据。

10.如权利要求7所述的系统，其特征在于：

当高频测量点在GIS隔离开关的工频电源侧时，所述波形合成装置将所述高频分量的测量结果分别嵌入到工频分量的测量结果对应击穿点位置，得到电源侧VFTO全过程波形；当高频测量点在GIS隔离开关的短母线源侧时，所述波形合成装置将电源侧VFTO全过程波形中的工频分量替换成准直流分量，将两次击穿间的工频波形替换成准直流分量，其中，所述准直流分量的电压幅值等于前次击穿结束时刻的工频分量的电压幅值。