[发明专利]晶振检测电路及晶振检测装置

说明书

【技术领域】

本发明涉及电子器件检测领域，特别是涉及一种晶振检测电路及晶振检测装置。

【背景技术】

通常，电子器件被焊接或进行实验之前，需要检测其好坏，而在检测晶振元器件好坏时，通常使用专用的示波器检测，但示波器价格昂贵且也不利于随身携带，所以就存在成本高和检测效率低的问题。

【发明内容】

基于此，针对使用万用表检测晶振元器件存在成本高和检测效率低的问题，有必要提供一种成本低、检测效率高的晶振检测电路。

一种晶振检测电路，包括：

振荡发生单元，具有晶振接入端，用于接入晶振产生振荡信号，包括开关管、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容以及电源，所述开关管的第一端连接所述电源的正极，所述开关管的第二端连接所述第二电阻的一端，所述第二电阻的另一端连接所述电源的负极，所述开关管的第一端和控制端之间连接第一电阻，所述开关管的控制端与所述电源的负极之间依次串联连接第一电容和第二电容，所述第一电容和第二电容的节点与所述开关管的第二端相连，所述开关管的控制端为与晶振一端连接的一个接入端、第二电容与第二电阻的节点为与晶振另一端连接的另一个接入端，开关管的第二端为所述振荡发生单元的输出端；

检波单元，与所述振荡发生单元的输出端连接，拾取所述振荡信号并整流；

指示单元，与所述检波单元的输出端连接，用于指示晶振是否起振。

进一步的，所述开关管为NPN三极管，所述三极管的集电极连接所述电源的正极，所述三极管的发射极连接所述第二电阻。

进一步的，所述检波单元包括滤波电容、整流二极管以及稳压二极管，所述滤波电容分别连接所述开关管的第二端和整流二极管的阳极，所述整流二极管的阴极为检波单元的输出端，所述稳压二极管的阴极连接所述整流二极管的阳极，所述稳压二极管的阳极连接所述电源的负极。

进一步的，所述指示单元为发光二极管，所述发光二极管的阳极连接所述整流二极管的阴极，所述发光二极管的阴极连接所述电源的负极。

进一步的，在所述开关管的第一端和所述电源的正极之间还串联连接开关。

另外，本发明还提供一种包括上述晶振检测电路的晶振检测装置，包括嵌入上述晶振检测电路的电路板，容置所述电路板的主体部，设置于所述主体部上可随意插拔待测晶振的卡持部，位于所述主体部内的电源盒，以及设置在主体部上串联于所述电路板上电源供电电路中的开关。

进一步的，所述卡持部包括多组可随意插拔多个待测晶振的夹持结构，所述电路板包括多个上述晶振检测电路。

进一步的，所述夹持结构为至少两个用于卡持待测晶振两端的金属弹片。

上述晶振检测电路，当晶振正常起振时，检波单元把振荡发生单元产生的振荡信号检测出来并把振荡信号整流成直流信号，检波单元把直流信号输出给指示单元，指示晶振正常；当晶振不能正常起振时，振荡发生单元不能发出振荡信号，因此检波单元无输出，指示单元无指示。此晶振检测电路仅仅使用低成本的检波单元即可控制指示晶振的正常与否，与使用示波器检测的方式相比成本低，同时检测效率高。

【附图说明】

图1为一实施例的晶振检测电路的模块结构图；

图2为一实施例的晶振检测电路晶振检测电路的电路原理图；

图3为一实施例的晶振检测装置。

【具体实施方式】

为了使本发明的目的、技术方案及优点更清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

晶振被广泛应用于电子领域中，晶振在电路中是否起振直接关系整个电路。因此有必要在晶振接入电路之前或在电路测试之前进行晶振检测，测试晶振是否能够起振。

如图1所示，本实施方式提供的晶振检测电路，包括振荡发生单元100、检波单元200以及指示单元300。