[发明专利]按键检测装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及检测领域，尤其涉及一种按键检测装置及方法。

背景技术

如图1所示，是现有的矩阵扫描按键检测装置，该装置包括：用于实现按键检测的MCU芯片、以及串联在MCU的输入端口和输出端口之间的开关按键可以理解的是，开关按键可以有一个或多个，图1中只列举了开关按键K1和K2。以开关按键K1来举例，当开关按键K1被按下时（即开关按键K1由关断状态进入闭合状态），与该开关按键K1连接的MCU的输入端口和输出端口之间的连接导通，此时，输入端口和输出端口处于同一电位。输入端口在没有开关按键被按下时，处于低电位。MCU在执行按键检测时，会逐一对各个开关按键进行扫描：依次将各个输出端口置为高电位（即将某个输出端口置为高电位时，其它输出端口置为低电位），当将与处于闭合状态的开关按键K1连接的MCU的输出端口置为高电位时，该输出端口将输入端口的电位拉高，使输入端口处于高电位，而其它未被按下的开关按键（如开关按键K2）处于关断状态，对MCU的输入端口的电位不造成任何影响。如此，当输入端口的电位被拉高时，MCU便能根据此时的按键扫描信号确定哪个开关按键有被按下。

发明人在实际应用中发现，图1的按键检测装置仅适用于对机械式的按键进行检测，例如图中的开关按键K1和K2，而不适用于对触摸型按键进行检测；当需要实现对触摸型按键的检测时，需要对按键检测装置进行完全地重新设计，从而增加了按键检测装置的成本。 

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于，提供一种按键检测装置，可以降低生产成本。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种按键检测装置，包括：触摸事件检测器、开关和按键检测器，所述按键检测器包括：输入端和输出端；

所述触摸事件检测器，用于检测到所述触摸键上的触摸事件时，将控制信号发送至与所述触摸键对应的开关；

所述开关，用于接收到所述控制信号时，将所述按键检测器加载至所述输出端的按键扫描信号回传至所述输入端，所述按键扫描信号与所述触摸键的键值一一对应；

所述按键检测器，用于根据所述输入端接收的按键扫描信号，确定所述触摸键的键值。

其中，所述PNP型双极型晶体管的基极与所述触摸事件检测器连接，集电极与所述输入端连接，发射极与所述输出端连接；

当所述PNP型双极型晶体管的基极接收到所述控制信号时，由关断状态进入导通状态，将所述按键扫描信号从所述输出端回传至所述输入端。

其中，所述开关还包括：第一偏置电阻和第二偏置电阻；

所述第一偏置电阻串联在所述PNP型双极型晶体管的发射极和基极之间；

所述第二偏置电阻串联在所述PNP型双极型晶体管的基极和所述触摸事件检测器之间。

其中，所述开关包括：P型场效应晶体管；

所述P型场效应晶体管的栅极与所述触摸事件检测器连接，漏极与所述输入端连接，源极与所述输出端连接；

当所述P型场效应晶体管的栅极接收到所述控制信号时，由关断状态进入导通状态，将所述按键扫描信号从所述输出端回传至所述输入端。

其中，所述开关还包括：第一电阻和第二电阻；

所述第一电阻串联在所述P型场效应晶体管的源极和栅极之间；

所述第二电阻串联在所述P型场效应晶体管的栅极和所述触摸事件检测器之间。

其中，所述装置还包括：中央处理器CPU，数码管或真空荧光屏VFD；

所述按键检测器，还用于当所述按键检测器确定所述触摸键的键值时将所述键值提供给CPU，以及用于接收所述CPU根据所述键值反馈的驱动信号，并根据所述驱动信号驱动所述数码管或所述VFD的显示。

相应地，本发明实施例还提供了一种按键检测方法，包括：

触摸事件检测器检测到触摸键上的触摸事件时，将控制信号发送至与所述触摸键对应的开关；

所述开关接收到所述控制信号时，将所述按键检测器加载至所述按键检测器的输出端的按键扫描信号回传至所述按键检测器的输入端，所述按键扫描信号与所述触摸键的键值一一对应；

所述按键检测器根据所述输入端接收的按键扫描信号，确定所述触摸键的键值。

其中，当所述开关为PNP型双极型晶体管时，所述开关接收到所述控制信号时，将所述按键检测器加载至所述按键检测器的输出端的按键扫描信号回传至所述按键检测器的输入端的步骤包括：

所述PNP型双极型晶体管的基极接收所述控制信号，并根据所述控制信号，控制所述双极型晶体管由关断状态进入导通状态；