[发明专利]用于测量多孔介质渗吸的装置

说明书

技术领域

本发明涉及渗吸测量装置，特别是涉及到一种用于测量多孔介质渗吸的装置。

背景技术

随着能源的需求增加，致密非常规储层成为未来能源增长点，储层的开发难度增加，由于致密储层孔喉细小，毛细管力作用强，渗吸在渗流过程中作用显著，因此，需要研究致密储层渗吸特点，建立渗吸模型，为此类储层开发提供理论指导，同时也是提高低渗透油藏采收率的需要。

目前，多孔介质渗吸特性测量装置存在一些问题，主要采用自吸仪，其原理主要是采取体积方法确定渗吸参数，针对低渗透岩心，由于孔隙体积小，渗吸变化敏感，体积渗吸仪器不能测试器敏感变化过程，同时渗吸随着时间的延长逐渐减弱，连续测量且耗时长达一个月时间，大大增加了工作量，需要自动化数据采集，普通渗吸仪器没有温控系统，不能测试温度对渗吸的影响。为此我们发明了一种新的用于测量多孔介质的渗吸装置，解决了以上技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种可以精确测量不同时间渗吸参数，为致密多孔介质的渗流特性研究提供依据的用于测量多孔介质渗吸的装置。

本发明的目的可通过如下技术措施来实现：

该装置包括恒温水浴、渗吸介质容器、摄像采集装置、连接装置、电子天平和计算机采集系统，恒温水浴中装有温度恒定的水，渗吸介质容器位于该恒温水浴中，并盛放渗吸介质，连接装置连接该电子天平和多孔介质，并使该多孔介质悬挂位于该渗吸介质内，摄像采集装置位于恒温水浴的内壁上，连接于计算机采集系统，并将采集的该渗吸介质在多孔介质表面渗吸的图像信息传输给计算机采集系统，电子天平连接于该计算机采集系统，将测量的多孔介质在渗吸介质中的渗吸质量变化传输给该计算机采集系统。

本发明的目的还可通过如下技术措施来实现：

该装置还包括温度传感器，该温度传感器位于恒温水浴的内壁上，连接于计算机采集系统，并将采集的温度信息传输给计算机采集系统；该装置还包括支架，恒温水浴位于该支架内；该电子天平放置于支架的上部。

本发明的用于测量多孔介质渗吸的装置，使渗吸物理模拟测量实现自动化，大大减轻了工作量。该用于测量多孔介质渗吸的装置使渗吸物理模拟测量实现渗吸测量精确化与连续化，可以测试不同温度下渗吸，并可广泛适用于多孔介质渗吸领域。

附图说明

图1是本发明实施例的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下面特举出较佳实施例，并配合所述附图，作详细说明如下。

如图1所示，图1为本发明的用于测量多孔介质渗吸的装置结构示意图。该用于测量多孔介质渗吸的装置由恒温水浴1、渗吸介质容器2、温度传感器5、摄像采集装置6、支架7、连接装置8、电子天平9和计算机采集系统10组成。恒温水浴1位于工作台上，置于支架7里面，并装有水。渗吸介质容器2置于恒温水浴1内，以盛放渗吸介质3。多孔介质4用连接装置8悬挂位于渗吸介质3内，位于电子天平9的正下方。温度传感器5位于恒温水浴1内壁，用传输导线连接于计算机采集系统10，并将采集的温度信息传输给计算机采集系统10，还可通过温度传感器5控制恒温水浴1的温度。摄像采集装置6位于恒温水浴1内壁，用传输导线连接于计算机采集系统10，并将采集的渗吸介质在多孔介质4表面渗吸现象的图像信息传输给计算机采集系统10。支架7位于工作台上，电子天平9放置于支架7的上部，用传输导线与计算机采集系统10连接，并将测量的多孔介质在渗吸介质中的渗吸质量变化传输给计算机采集系统10。连接装置8连接电子天平9和多孔介质4。

电子天平9精确测量多孔介质在渗吸介质中的渗吸质量变化；

计算机采集系统10采集不同时间质量变化、图像数据，实现自动化控制与处理采集数据；

通过温度控制，可以研究模拟多孔介质在不同温度下渗吸规律。

本发明的多孔介质渗吸自动测量装置系统在运行时，包括如下步骤：

（1）打开计算机采集系统10，调整天平9；

（2）开通温度传感器5，将渗吸介质加热到实验温度；

（3）将多孔介质4通过连接装置8与电子天平9连接，放入渗吸介质3内；

（4）打开渗吸测试系统软件,通过计算机输入渗吸控制相关参数；

（5）打开摄像采集装置6，采集流体在多孔介质4表面渗吸现象；

（6）处理采集渗吸质量与图像数据，得到渗吸规律。