[发明专利]用于非二进制解码偏移控制的系统和方法

说明书

发明背景

本发明涉及用于存储数据的系统和方法，更具体地涉及用于表征存储设备的系统和方法。

制造存储设备包括运行给定设备以确定其是否满足定义的质量标准的过程。由于该质量标准可能只允许很少次数的故障，因此可能花费很长的测试周期以确定是否发生了很少次数的故障。该长时间周期增加了表征设备的成本。

因此，至少为了前述原因，业内需要先进的用于表征存储设备的系统和方法。

发明内容

本发明涉及用于存储数据的系统和方法，更具体地涉及用于表征存储设备的系统和方法。

本发明的各实施例提供数据处理电路。该数据处理电路包括数据检测器电路、偏移电路和数据解码器电路。数据检测器电路用于将数据检测算法施加于一系列码元以得到检测输出，而检测输出包括与非二进制码元对应的一系列软判决数据。偏移电路可用于对一系列软判决数据中的每一个施加偏移以得到一系列经偏移的软判决数据。数据解码器电路用于将数据解码算法施加于与非二进制码元对应的一系列经偏移的软判决数据。在前述实施例的一些实例中，数据检测算法是非二进制最大后验数据检测算法。在前述实施例的其它实例中，数据检测算法是非二进制维特比数据检测算法。在本发明的一些实施例中，数据解码算法是非二进制低密度奇偶校验解码算法。

在前述实施例的一些实例中，将偏移施加于一系列软判决数据中的每一个包括：将一系列软判决数据转换成对应的一系列相对量度；使该相对量度的子集偏移以得到一系列经偏移的相对量度；以及将一系列经偏移的相对量度转换成相应的一系列经偏移的软判决数据。在一些这样的实例中，一系列软判决数据是指示相应码元值正确的似然性的一系列非二进制软判决数据。在具体实例中，一系列经偏移的软判决数据是指示相应码元值正确的似然性的一系列经偏移的非二进制软判决数据，而一系列经偏移的非二进制软判决数据指示比一系列非偏的移软判决数据的对应实例更低的似然性。

在前述实施例的其它实例中，偏移相对量度的子集以得到一系列经偏移的相对量度包括将该相对量度的子集中的每一个与偏移值相乘。在一些这样的实例中，电路还包括偏移值存储器，该偏移值存储器可用于从偏移电路接收一地址并返回与该地址对应的偏移值。在特定实例中，该地址是从一系列相对量度中的一个推导出的。

本发明的其它实施例提供可预测地增加数据处理电路的差错率的方法。这些方法包括：接收一数据集，其中该数据集包括一系列码元；通过数据检测器电路将数据检测算法施加于一系列码元以得到检测输出，并且检测输出包括与非二进制码元对应的一系列软判决数据；使一系列软判决数据中的每一个偏移以得到一系列经偏移的软判决数据；以及通过数据解码器电路将数据解码算法施加于与非二进制码元对应的一系列经偏移的软判决数据。在一些这样的实例中，使一系列软判决数据中的每一个偏移以得到一系列经偏移的软判决数据包括：将一系列软判决数据转换成对应的一系列相对量度；使该相对量度的子集偏移以得到一系列经偏移的相对量度；以及将一系列经偏移的相对量度转换成相应的一系列经偏移的软判决数据。

该总述仅提供本发明某些实施例的一般概括。本发明许多其它目的、特征、优势和其它实施例将从下面的详细说明、所附权利要求以及附图中变得更为易懂。

附图简述

可通过参照附图来实现对本发明各实施例的进一步理解，这些实施例在本说明书剩余部分中描述。在附图中，在若干附图中使用相同的附图标记来表示相似的部件。在一些情况下，由小写字母构成的副标记关联于附图标记以表示多个相似部件中的一个。当参照附图标记而不指明已有的副标记时，这旨在表示所有这些多个相似的部件。

图1示出根据本发明一些实施例的包括可选操作降级电路的数据处理电路；

图2示出可与前面结合图1描述的数据处理电路关联使用的软数据偏移电路；

图3示出根据本发明一些实施例的包括可选操作降级电路的另一数据处理电路；

图4是示出根据本发明的一些实施例的用于可选软数据偏移的方法的流程图；

图5a是示出对于标准操作和降级操作两者的软数据输出的分布的直方图；

图5b是示出对于标准操作和降级操作两者的归一化软数据输出的分布的直方图；

图6示出根据本发明的一个或多个实施例的包括带性能降级控制电路的接收机的数据发送系统；

图7示出根据本发明的一个或多个实施例的包括带性能降级控制电路的读信道的存储系统；

图8是示出根据本发明的一些实施例的用于确定降级因子或偏移值的方法的流程图；以及