[发明专利]低温测试操作箱有效
| 申请号： | 201210009361.3 | 申请日： | 2012-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN103207822A | 公开（公告）日： | 2013-07-17 |
| 发明（设计）人： | 任光明 | 申请（专利权）人： | 神讯电脑（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 低温 测试 操作 | ||
【权利要求书】：
1.一种低温测试操作箱，用于对电子产品的低温测试操作，其特征在于，该操作箱包括：
箱体，其具有一开放端，所述箱体内提供一低温环境；
箱门，与所述箱体的开放端结合，所述箱门闭合后，所述箱体箱门形成密闭空间；
连接器，其穿设于所述箱体的壁，所述连接器包括内端口和外端口，所述内端口设于所述箱体内部，与待测试的所述电子产品的端口相匹配，所述内外端口设于所述箱体外部，与测试治具的端口相匹配。
2.如权利要求1所述的低温测试操作箱，其特征在于，所述连接器为若干个，分散设于所述箱体上。
3.如权利要求1所述的低温测试操作箱，其特征在于，所述连接器为若干个，所述箱体外部设有一连接器座，各所述连接器的外端口集中设于所述连接器座上。
4.如权利要求1、2或3所述的低温测试操作箱，其特征在于，所述箱门为透明体。
5.如权利要求1、2或3所述的低温测试操作箱，其特征在于，所述箱门上设有操作口，所述操作口上由其四周向中心延伸设有软性密封部。
6.如权利要求1、2或3所述的低温测试操作箱，其特征在于，所述电子产品的端口为USB端口、LAN端口、COM端口或显示器端口。
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