[发明专利]一种平面型双向触发二极管芯片制造方法有效
申请号: | 201210004060.1 | 申请日: | 2012-01-09 |
公开(公告)号: | CN102522333A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 薛列龙 | 申请(专利权)人: | 薛列龙 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 225000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平面 双向 触发 二极管 芯片 制造 方法 | ||
1.一种平面型双向触发二极管芯片制造方法,以厚度100-300μm的P型晶片为原料,在晶片表面生长氧化层、光刻扩散窗口和将晶片切割为芯片的工序,其特征在于,在所述光刻扩散窗口和将晶片切割为芯片的工序之间包括如下工序:
1)扩散窗口下沉;在扩散窗口中注入混酸,对扩散窗口中的晶片表面进行腐蚀,腐蚀深度以所述晶片表面为基准面,下沉5~40μm;
2)磷扩散;将上步骤制得的晶片清洗,再放入扩散炉中进行磷扩散;在晶片本体纵截面上形成N+、P、N+区域,同时在所述晶片本体氧化层表面下形成反型层;
3)去除表面反型层;第一、去除上步骤制得晶片表面的氧化层;第二、去除所述晶片本体氧化层表面下形成反型层;由于步骤1)扩散窗口下沉,在前述第二步去除反型层时,所述下沉的扩散窗口会进一步下沉,形成下沉窗口;
4)高温驱进杂质并生长二氧化硅钝化膜层;在1000-1270℃环境下生长一层二氧化硅钝化膜层以保护PN+结;在此温度下,同时驱进磷杂质,推PN+结深至40-80μm;由于均匀生长二氧化硅钝化膜层,在所述生长有二氧化硅钝化膜层的本体表面仍显现下沉窗口轮廓;
5)光刻金属电极窗口;沿所述下沉窗口轮廓,进行金属电极窗口光刻;在晶片表面形成金属电极窗口;
6)镀镍金;在金属电极窗口底面镀上镍金层,作为金属电极。
2.根据权利要求1所述的一种平面型双向触发二极管芯片制造方法,其特征在于,还包括在所述金属电极上设置凸点的工序,所述设置凸点的工序为:在所述金属电极表面增设凸出于晶片表面的由焊锡凝固形成的凸点。
3.根据权利要求1所述的一种平面型双向触发二极管芯片制造方法,其特征在于,还包括在所述金属电极上设置凸点的工序,所述设置凸点的工序为:在所述金属电极表面增设凸出于晶片表面的由电镀银形成的凸点。
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