[发明专利]RFID设备测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及射频识别技术领域，具体地，涉及一种RFID设备测试方法及系统。

背景技术

射频识别(RFID)是一种低功耗的短程无线通信技术，RFID系统的组成至少包括电子标签和读写器两个部分。其中，电子标签中存储了已定义格式的数据，在实际应用中，电子标签附着在待识别物体的表面；读写器可以无接触的读取并识别电子标签中所保存的数据，通过计算机及网络实现对物体识别信息的采集、处理及远程传送等管理功能。

RFID系统是实现自动识别与数据采集功能的有机整体，对RFID系统的检测包括对电子标签和读写器的测试。具体测试内容包括：射频参数、调制参数、时序参数以及命令参数的测量。RFID检测技术是RFID应用关键技术之一，对RFID系统快速、高效率的测试是很有必要的。

现有技术中的射频识别检测系统包括读写器模拟器和电子标签模拟器。读写器模拟器用于检测待测的电子标签，现有的射频识别测试系统将不同频率、不同协议的读写器分别进行模拟，形成多种不同性能的读写器模拟器，然后用来检测待测的电子标签，由于受到受测试接口容量和测试软件运行模式的限制，只能采用串行测试工作模式，不能同时对多台设备进行测试，造成了系统硬件资源的浪费，同时现有的测试系统仅可以进行射频标签及读写器的性能测试。

也就是说，现有的RFID测试系统存在效率较低的问题。

发明内容

本发明实施例的主要目的在于提供一种RFID设备测试方法及系统，以解决现有技术中的RFID测试系统测试效率较低的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例提供一种RFID设备测试系统，该系统包括：信号生成装置，用于根据预定规则生成测试信号；数模转换装置，用于将所述测试信号转换为中频模拟信号；信号收发装置，用于将所述中频模拟信号发送给射频标签、以及接收来自所述射频标签的响应信号；模数转换装置，用于将所述响应信号转换为中频数字信号；性能检测装置，用于根据所述中频数字信号检测所述射频标签的性能。

上述的信号生成装置具体用于：生成RFID基带IQ信号。

上述数模转换装置包括：板载数字上变频和A/D转换器。

上述信号收发装置包括：上变频器，用于将所述中频数字信号发送给射频标签；下变频器，用于接收来自所述射频标签的响应信号。

上述信号收发装置还包括：天线，分别与所述上变频器和下变频器连接，用于接收和发送信号。

上述模数转换装置包括：板载数字下变频和D/A转换器。

上述信号生成装置为FPGA芯片。

本发明实施例还提供一种RFID设备测试方法，所述方法包括：根据预定规则生成测试信号；将所述测试信号转换为中频模拟信号；将所述中频模拟信号发送给射频标签、并接收来自所述射频标签的响应信号；将所述响应信号转换为中频数字信号；根据所述中频数字信号检测所述射频标签的性能。

上述的测试信号为RFID基带IQ信号。

上述测试信号由FPGA芯片生成。

借助于上述技术方案至少之一，通过根据预定规则生成的测试信号转换为中频模拟信号后发送给被测射频标签，并根据该射频标签的反馈信号检测射频标签的性能，相比于现有技术中的RFID测试系统测试效率较低的问题，本发明可以提高测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据本发明实施例的RFID设备测试系统的结构框图；

图2是根据本发明实施例的信号收发装置的结构框图；

图3是根据本发明实施例的测试系统的硬件部分架构示意图；

图4是基于图3的实际硬件架构示意图；

图5是根据本发明实施例的测试软件架构示意图；

图6是根据本发明实施例的测试系统的具体结构示意图；

图7是根据本发明实施例的RFID读写器测试的软件架构示意图；

图8是根据本发明实施例的RFID设备测试方法的流程图。

具体实施方式