[发明专利]光驱测试方法无效

专利信息
申请号: 201110454985.1 申请日: 2011-12-30
公开(公告)号: CN102496379A 公开(公告)日: 2012-06-13
发明(设计)人: 赵雷;刘流 申请(专利权)人: 曙光信息产业股份有限公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 北京德恒律师事务所 11306 代理人: 陆鑫;房岭梅
地址: 300384 天津市西青区华*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 光驱 测试 方法
【说明书】:

技术领域

发明基本上涉及计算机领域,更具体地来说,涉及一种光驱测试方法。

背景技术

光驱测试技术由来已久。自CD-ROM开始,光驱速度从倍速到52倍速逐渐上升,密度也从CD-ROM上升到DVD和蓝光。测试光驱可使用各种业内通用的软件,针对光驱的性能、稳定性、兼容性和工作模式进行测试。业内通用的测试软件有Nero CD-DVD Speed,Winbench等。

现有技术中公开了一种基于LINUX的光驱读写功能测试方法,该方法用于一安装有LINUX系统的电脑主机,该方法包括下列步骤:从LINUX启动并加载测试驱动程序;调用测试主控程序;判断是否连接有光驱;如果上述判断结果为“是”,则检测该光驱的类型;判断该光驱是否可以刻录;如果上述判断结果为“是”,判断是否已插入与该类型光驱相同类型的可读写光盘;如果上述判断为“是”,对该类型可读写光盘进行写读测试;判断测试是否正确;如果上述判断结果为“是”,提示测试通过;退出测试。

上述现有技术基于LINUX的光驱读写功能测试方法,能够在一定程度上判断出光驱的读写功能。

然而,上述现有技术无法判断出光驱托盘的机械结构稳定性等性能,并且对于光驱的性能测试不够全面。

发明内容

针对现有技术无法判断出光驱的机械结构稳定性等性能,并且对于光驱的性能测试不够全面的缺陷,本发明提供了一种光驱测试方法,解决了如何测试光驱的机械结构稳定性等性能,以及如何全面地测试光驱性能的技术问题。

根据本发明的一个方面,提供了一种光驱测试方法,所述光驱安装在计算机上,光驱托盘内装有光盘,其特征在于,包括:步骤S11:自动打开所述光驱托盘;以及步骤S12:自动关闭所述光驱托盘,如果所述计算机能够识别所述光盘,则再次执行所述步骤S11,直到所述步骤S11被执行过第一预定次数。

在该光驱测试方法中,进一步包括:步骤S21:自动接通所述计算机的电源;步骤S22:如果所述计算机能够通过所述光驱引导进入所述光盘中所存储的操作系统,则自动断开所述计算机的电源;以及步骤S23:执行步骤S21,直到所述步骤S21被执行过第二预定次数。

在该光驱测试方法中,进一步包括:步骤S31:将所述光盘上的第一数据自动复制到所述计算机的硬盘上,从而在所述计算机的硬盘上形成第二数据;以及步骤S32:如果所述第一数据与所述第二数据相同,则执行步骤S31,直到所述步骤S31被执行过第三预定次数。

在该光驱测试方法中,进一步包括:通过所述计算机的BIOS设置界面判断所述光驱是否被正确识别。

在该光驱测试方法中,进一步包括:在所述光驱中装入操作系统安装光盘,判断所述光驱能否读取所述操作系统安装光盘并且进入到操作系统安装界面。

在该光驱测试方法中,进一步包括:判断能否通过所述操作系统安装光盘在IDE模式和AHCI模式下在所述计算机中安装操作系统。

在该光驱测试方法中,进一步包括:手动对所述光驱托盘进行多次打开和关闭。

在该光驱测试方法中,进一步包括:使用Nero DiscSpeed 5分别在IDE模式和AHCI模式针对所述光驱进行测试,包括:将CD光盘装入所述光驱内,使用Nero DiscSpeed 5测试所述光驱读取的平均速度、速度类型、测试开始时间和测试结束时间;将DVD光盘装入所述光驱内,使用Nero DiscSpeed 5测试所述光驱读取的平均速度、随机访问时间、测试开始时间、测试结束时间、速度类型、DAE品质和CPU占用率;将CD光盘装入所述光驱内,使用Nero DiscSpeed 5测试所述光驱写入的平均速度、速度类型、测试开始时间和测试结束时间;以及将DVD光盘装入所述光驱内,使用Nero DiscSpeed 5测试所述光驱写入的平均速度、随机访问时间、测试开始时间、测试结束时间、速度类型、DAE品质和CPU占用率。

在该光驱测试方法中,一步包括:在Linux系统下,使用DD命令测试出所述光驱的读取性能。

在该光驱测试方法中,进一步包括:使用Nero Info Tool 5识别所述光驱的信息,所述信息包括类型、额定读取速度、额定刻录速度、固件版本、缓冲大小、生产日期和序列号;以及使用Nero Info Tool 5判断出所述光驱是否支持不同类型的光盘。

通过本发明所描述的一种光驱测试方法,能够对光驱的机械结构稳定性等性能进行全面地测试,从而能够通过测试全面了解光驱的各种性能。

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