[发明专利]光斑位置控制装置和光斑位置控制方法无效
申请号: | 201110348428.1 | 申请日: | 2011-11-03 |
公开(公告)号: | CN102467925A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 堀米顺一;出冈良彦 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G11B7/007 | 分类号: | G11B7/007;G11B7/09 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 王安武 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光斑 位置 控制 装置 方法 | ||
1.一种光斑位置控制装置,其包括:
光照射与光感应单元,所述光照射与光感应单元经由物镜向光记录介质照射第一光,并且感应来自所述光记录介质的所述第一光的反射光,所述光记录介质具有将一个圆周上的凹坑可成形位置之间的间隔限定为第一间隔且被形成为螺旋形或同心圆形并且沿半径方向配置的凹坑串,其中所述凹坑可成形位置在凹坑串成形方向上的间隔被设定为偏移预定的第二间隔,使得所述光记录介质具有多个凹坑串相位;
跟踪机构单元,所述跟踪机构单元使所述物镜沿上述半径方向位移;
时钟生成单元,所述时钟生成单元基于由所述光照射与光感应单元对所述第一光的反射光进行感应所获得的光感应器信号,生成与所述凹坑可成形位置之间的间隔相对应的时钟;
定时选择器信号生成单元,所述定时选择器信号生成单元基于由所述时钟生成单元生成的时钟,生成多个定时选择器信号,其中所述多个定时选择器信号分别表示针对形成在所述光记录介质上的各相位的凹坑串的、所述凹坑可成形位置的定时;
跟踪误差信号生成单元,所述跟踪误差信号生成单元基于针对所述第一光的反射光的所述光感应信号和所述定时选择器信号生成单元生成的所述定时选择器信号,生成多个跟踪误差信号,其中所述多个跟踪误差信号分别表示形成在所述光记录介质上的、具有相应相位的凹坑串中的跟踪误差;
线性跟踪误差信号生成单元,所述线性跟踪误差信号生成单元通过依次连接所述第一光的照射光斑沿半径方向移动时所获得的所述多个跟踪误差信号的零交叉点附近区间中的信号,生成线性地表示跟踪误差量的线性跟踪误差信号;
跟踪伺服控制单元,所述跟踪伺服控制单元基于所述线性跟踪误差信号,通过驱动所述跟踪机构单元对所述物镜执行跟踪伺服控制;以及
偏移量进给单元,所述偏移量进给单元向跟踪伺服环路进给使所述照射光斑沿半径方向移动的偏移量,其中所述跟踪伺服环路是所述跟踪伺服控制单元通过所述跟踪伺服控制而形成的。
2.根据权利要求1所述的光斑位置控制装置,其中所述线性跟踪误差信号生成单元通过按照所述多个跟踪误差信号的振幅大小关系发生变化的预定定时的每一个依次连接关于与所述照射光斑的移动方向侧邻接的凹坑串的跟踪误差信号,生成所述线性跟踪误差信号。
3.根据权利要求2所述的光斑位置控制装置,其中所述线性跟踪误差信号生成单元按照各个预定定时的每一个依次选择关于与所述照射光斑的移动方向侧邻接的凹坑串的跟踪误差信号,并且在所述预定定时处,通过将从在该时间点处被输出作为所述线性跟踪误差信号的数值中减去新选择的跟踪误差信号在所述预定定时处的数值所获得的数值作为参考值,依次输出将所述新选择的跟踪误差信号添加到所述参考值所获得的数值,作为所述线性跟踪误差信号的数值。
4.根据权利要求2所述的光斑位置控制装置,其中,依据是否在各凹坑串上的所述凹坑可成形位置处形成凹坑,而针对各凹坑串的每一串来记录所述光记录介质上的位置信息,并且
其中所述光斑位置控制装置还包括:
定时选择器信号选择单元,所述定时选择器信号选择单元按照所述多个跟踪误差信号的振幅大小关系发生变化的预定定时的每一个,从所述多个定时选择器信号中选择与所述照射光斑的移动方向侧邻接的凹坑串所对应的定时选择器信号;以及
位置信息检测单元,所述位置信息检测单元基于在由所述定时选择器信号选择单元选择的定时选择器信号所表示的定时处对所述光感应信号的数值进行采样并对表示是否在所述凹坑可成形位置处形成有凹坑的信道比特数值进行判定的结果,来检测所述位置信息。
5.根据权利要求1所述的光斑位置控制装置,其中所述跟踪误差信号生成单元按照各相位的凹坑串的每一串,通过在与具有相等相位差关系的各个凹坑串相对应的定时选择器信号所表示的定时处,对所述光感应信号进行采样与保持,并且计算所述数值之差,由此生成针对上述各相位的凹坑串的每一串的跟踪误差信息。
6.根据权利要求1所述的光斑位置控制装置,其中所述光记录介质包括其上形成有所述凹坑串的基准面,和形成在不同于所述基准面的深度位置处的记录层,以及
其中所述光照射与光感应单元利用被用以在所述记录层上执行记录的第二光和经由所述物镜的所述第一光来照射所述光记录介质。
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