[发明专利]一种基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法

权利要求书

1.一种基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法，该方法通过将实际抛物面坐标带入物理光学仿真分析计算中，得到天线的实际方向图。

2.根据权利要求1所述的基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法，其特征在于，所述的方法包括步骤：

1)通过光学测量进行天线的形面测试，得到反射面坐标点；

2)将上述步骤实测天线形面的坐标点带入进行物理光学计算，最终得到天线的实际方向图。

3.根据权利要求2所述的基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法，其特征在于，所述的形面测试采用电子经纬仪、三坐标系统、激光干涉仪或光学照相测量系统进行。

4.根据权利要求3所述的基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法，其特征在于，所述的光学照相测量系统包括：光学相机和图像处理单元，所述的图像处理单元最终根据标尺确定照相中的图像和实际模型的尺寸比例。

5.根据权利要求2所述的基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法，其特征在于，所述的大天线采用分区测量，通过光学相机从2个以上的角度拍照，每个角度取两张照片，最后通过相片合成得到最终的形面测试。

6.根据权利要求1所述的基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法，其特征在于，所述的方法包括步骤：

1′)在热变形分析基础上得到在外热流中天线形面的反射面坐标点；

2)将上述步骤得到的天线形面的坐标点带入进行物理光学计算，最终得到天线的实际方向图。

7.根据权利要求6所述的基于实际抛物面坐标的大天线的辐射测试方法，其特征在于，所述的热变形分析是基于有限元理论分析的外热流分析，以得到抛物面坐标。