[发明专利]一种介质材料高温复介电常数测量装置无效

专利信息
申请号: 201110343790.X 申请日: 2011-11-04
公开(公告)号: CN102393490A 公开(公告)日: 2012-03-28
发明(设计)人: 郭高凤;李恩;王益;聂瑞星;周杨;高源慈;陶冰洁 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 介质 材料 高温 介电常数 测量 装置
【说明书】:

技术领域

发明属于微波测试技术领域,涉及终端短路法介质材料复介电常数测量方法及系统,尤其是用于介质材料高温复介电常数测量的系统。

背景技术

随着高温介质材料在航空航天、军事装备等领域中的应用越来越广泛,对其微波性能的要求也越来越高。复介电常数及其温度特性是衡量高温介质材料微波性能优劣的一个重要参数。因此,在研究和应用高温介质材料时,均需要在高温环境下对材料复介电常数的温度特性进行测试。

终端短路法是测量介质材料复介电常数一种常用方法。其测量原理是将被测材料填充于终端短路的传输线,通过测量该传输线的复反射系数,可计算得到被测材料的复介电常数。该方法只需测量单端口反射系数,且具有结构简单、测试频带宽、体积小等优点,比较适合高温测量。终端短路法的测试原理如图1所示。根据阻抗原理,可以得到

tanh(γ·d)γ·d=1j·β0·d(1-j·ρ·tan(θj)ρ-j·tan(θj))---(1)]]>

其中,γ为填充有被测介质样品波导段的传输系数,d为被测介质样品厚度。

ρ=1+|S11|1-|S11|---(2)]]>

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