[发明专利]电容器自动测试包装机的下料装置有效
申请号: | 201110333208.1 | 申请日: | 2011-10-28 |
公开(公告)号: | CN102431683A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
发明(设计)人: | 艾立华;陈太平 | 申请(专利权)人: | 湖南艾华集团股份有限公司 |
主分类号: | B65B57/10 | 分类号: | B65B57/10 |
代理公司: | 益阳市银城专利事务所 43107 | 代理人: | 舒斌;夏宗福 |
地址: | 413000 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容器 自动 测试 装机 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种电容器生产,具体地说是一种电容器自动测试包装机,特别是涉及一种电容器自动测试包装机的下料装置。
背景技术
在传统的铝电解电容器的生产工艺中,包装时一般为人工点数和称重计数后包装装袋。存在中间环节多且复杂,规格易混,计数存在误差,效率低等问题。如利用电容器测试装置的良品计数功能计数后包装,由于环形步进输送装置每次步进输送铝电解电容器的个数为一个,这样,在检测时,只能对一个电容器产品进行测试,每个电容器产品测试用时约为0.4秒~0.5秒,而现有检测仪对每个电容器产品的检测用时约为0.157秒。因此,现有的环形步进输送装置效率不高,大大的浪费了检测仪的本身资源,其自动包装也存在效率低的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种提高包装效率的电容器自动测试包装机的下料装置。
本发明是采用如下技术方案实现其发明目的的,一种电容器自动测试包装机的下料装置,它包括机架,机架上设有环形步进输送装置和自动测试装置,所述的自动测试装置设有安装在机架上的良品下料机构、次品下料机构,所述的环形步进输送装置至少与二条以上的上料道连接,环形步进输送装置每次步进输送电容器的个数与上料道的条数相同;所述的良品下料机构包括依电容器的输送方向安装在机架上的打料气缸与辅助打料气缸,打料气缸的个数与上料道的条数相等,辅助打料气缸的个数比上料道的条数少一个。
本发明为实现测试时,由自动测试装置对电容器连续充电,减少充电时间,所述的自动测试装置包括安装在机架上,置于电容器两引脚之间的隔离板和置于隔离板两侧的正极导电板、负极导电板,正极导电板、负极导电板上分别设有将电容器引脚压在隔离板上的弹性导电件,每个弹性导电件的导电接触工作距离大于对应两个相邻电容器引脚之间的间距,即每个弹性导电件与两个相邻电容器的引脚同时接触导电,在环形步进输送装置的带动下,电容器运动过程中其两引脚分别与正极导电板、负极导电板保持连接而连续充电。
本发明为保证弹性导电件与电容器引脚接触良好,所述的弹性导电件压在电容器引脚的根部,即弹性导电件与电容器引脚的根部接触导电;所述电容器引脚的根部为距电容器胶塞的距离小于等于8㎜。
本发明为加速充电和保护电容器,正极导电板或负极导电板与弹性导电件之间连接有热敏电阻。
本发明所述的弹性导电件为导电弹簧,所述的导电弹簧为“L”形,两边的夹角ɑ为100°~150°。
由于采用上述技术方案,本发明较好的实现了发明目的,其结构简单,提高了生产、包装效率,减少了劳动力和工人的劳动强度,节约了场地,减少了包装误差,降低了生产成本。
附图说明
图1是本发明的结构示意图;
图2是图1的A处放大示意图;
图3是导电弹簧7的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本发明作进一步说明。
由图1、图2、图3可知,一种电容器自动测试包装机的下料装置,它包括机架18,机架18上设有环形步进输送装置20和自动测试装置17,所述的自动测试装置17设有安装在机架18上的良品下料机构、次品下料机构,所述的环形步进输送装置20至少与二条以上的上料道19连接,环形步进输送装置20每次步进输送电容器9的个数与上料道19的条数相同,本实施例上料道19为二条,所述环形步进输送装置20通过机台板1安装在机架18上,它包括安装在机台板1上的导轨3、可在导轨3上运动的同步带2,同步带2上设有夹持电容器9的输送夹10;所述的良品下料机构包括依电容器9的输送方向安装在机架18上的打料气缸与辅助打料气缸,打料气缸的个数与上料道19的条数相等,辅助打料气缸的个数比上料道19的条数少一个。本实施例的打料气缸与辅助打料气缸通过导轨3安装在机架18上。
自动测试装置17在测试中,对电容器9必须充一定的电压(充电主要是对漏电流指标进行测试)。目前,采用自动测试时,一般是先将电容器9由上料道19送入环形步进输送装置20排队,其充电方式为间隔充电,在环形步进输送装置20步进时,即电容器9运动时,不充电,电容器9不运动时,则充电。这样,要使产品特别时电容容量较大的产品达到测试要求的电压,就需要足够的时间充电,否则充电时间不够,测试出来的产品参数就不准确。如果通过降低测试速度或增加测试机的长度来增加充电时间,则测试效率降低或增加生产成本。
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