[发明专利]一种确定中低能电子非弹性散射的方法有效
申请号: | 201110291333.0 | 申请日: | 2011-09-29 |
公开(公告)号: | CN102507608A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 张娜;崔万照 | 申请(专利权)人: | 西安空间无线电技术研究所 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00;G01N23/22 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 710100 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 确定 低能 电子 非弹性散射 方法 | ||
1.一种确定中低能电子非弹性散射的方法,其特征在于包括以下步骤:
(1)根据电子发生非弹性散射前的电子能量E和非弹性散射中转移的能量ΔE,确定与电子相互作用的等离子体激元的中心频率上限ωm;
(2)根据材料的光学能量损失函数在离散能量点Epk上的值Im{-1/ε(Ep)},确定Em以内离散能量点上的权重函数W(ΔE,Epk),Em为中心频率上限对应的能量上限;
(3)根据离散能量点上的权重函数W(ΔE,Epk),按照线性插值的方法确定各等离子体激元与电子相互作用的0阶贡献和1阶贡献
(4)利用步骤(3)中得到的等离子体激元与电子作用的贡献,确定转移能量为ΔE的微分非弹性散射截面,并确定发生非弹性散射后的原电子散射角θIE及产生的二次电子散射角θSE。
2.根据权利要求1所述的一种确定中低能电子非弹性散射的方法,其特征在于:所述步骤(1)中的Em根据下式获得,
其中:普朗克常量h=6.626176×10-34J/s;
δ=ΔE/E。
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