[发明专利]数据和时钟间的相位差的校正装置与相关方法在审

专利信息
申请号: 201110268107.0 申请日: 2011-09-09
公开(公告)号: CN103001760A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 章彬 申请(专利权)人: 瑞昱半导体股份有限公司
主分类号: H04L7/04 分类号: H04L7/04
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 数据 时钟 相位差 校正 装置 相关 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及电子电路,尤指一种数据和时钟间的相位差的校正装置与相关方法。

背景技术

信号传输会有一种情况出现:数据信号(data)和同频率的时钟信号(clock)由发射器打出,其间相位差(phase error)是0.5π(也就是相位差90度),于是时钟信号边沿(edge)正好在数据信号中间(如图1A),接收器利用这个时钟信号对数据信号进行取样时便不会出错。但是由于各种因素,接收端看到的数据信号和时钟信号并非有0.5π的相位差(例如是图1B/1C),如果时钟信号的边沿和数据信号的边沿接近,就有可能造成取样错误。因此,需要一种有效的装置与方法来把接收到的数据信号和时钟信号的相位差校正到0.5π,有助于降低数据信号的取样出错的机率。

此外,已知技术无法适用于时钟信号的频率的变化范围很大的应用。因此,需要一种有效的装置与方法来把接收到的数据信号和时钟信号的相位差校正到0.5π,且适用于大频段的数据/时钟的相位校正技术。

发明内容

鉴于此,如何减轻或解决数据信号的取样出错机率的问题,以有效提升传输质量,实为业界有待解决的问题。

鉴于此,如何减轻或解决大频段的数据/频率的相位校正技术的问题,实为业界有待解决的问题。

本说明书提供了一种相位校正装置的实施例,其包含有:一可调延迟电路,依据一延迟控制信号以延迟一第一输入信号与一第二输入信号中的至少一个,以产生一第一延迟输入信号以及一第二延迟输入信号;一相位检测电路,检测该第一延迟输入信号以及该第二延迟输入信号间的相位差,以输出一相位差信号;一电荷泵与一电容,依据该相位差信号以输出一电压信号;一比较电路,依据该电压信号的大小以输出一比较结果;以及一数字控制电路,用以依据该比较结果来输出该延迟控制信号。

本说明书提供了一种相位校正方法的实施例,其包含有:依据一延迟控制信号以延迟一第一输入信号与一第二输入信号中的至少一个,以产生一第一延迟输入信号以及一第二延迟输入信号;检测该第一延迟输入信号以及该第二延迟输入信号间的相位差,以输出一相位差信号;依据该相位差信号以输出一电压信号;依据该电压信号的大小以输出一比较结果;以及依据该比较结果来输出该延迟控制信号。

附图说明

图1A、1B、1C分别为数据信号和时钟信号的不同相位差的示意图。

图2为本发明的相位差校正装置200的第一实施例简化后的功能方块图。

图3为本发明的可调延迟电路的第一实施例的方块图。

图4为本发明的可调延迟电路的第二实施例的方块图。

图5为本发明的该相位检测器的第一实施例的方块图。

图6为图5的各节点的波形示意图。

图7A为本发明的电荷泵/电容/比较器的第一实施例的方块图。

图7B为本发明的电荷泵/电容/比较器的第二实施例的方块图。

图8A为经过数字控制电路的控制,图7A中电容上电压的变化的示意图。

图8B为经过数字控制电路的控制,图7B中电容上电压的变化的示意图。

主要元件符号说明

200    相位差校正装置            210    可调延迟电路

220    相位检测器                230    电荷泵

240    电容                      250    比较器

260    数字控制电路

具体实施方式

以下将配合相关图式来说明本发明的实施例。在这些图式中,相同的标号表示相同或类似的元件或流程步骤。

在说明书及后续的权利要求书中使用了某些词汇来指称特定的元件。所属领域中具有通常知识者应可理解,同样的元件可能会用不同的名词来称呼。本说明书及后续的权利要求书并不以名称的差异来作为区分元件的方式,而是以元件在功能上的差异来作为区分的基准。在通篇说明书及后续的权利要求中所提及的「包含」为一开放式用语,故应解释成「包含但不限定于...」。另外,「耦接」一词在此包含任何直接及间接的连接手段。因此,若文中描述一第一装置耦接于一第二装置,则代表该第一装置可直接(包含通过电性连接或无线传输、光学传输等信号连接方式)连接于该第二装置,或通过其它装置或连接手段间接地电性或信号连接至该第二装置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞昱半导体股份有限公司,未经瑞昱半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110268107.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top