[发明专利]电场计量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种电场计量装置，尤其涉及测定从设置于检测电波暗室等的电磁波的区域内的被测定装置产生的电磁波的电场强度的电场计量装置。

背景技术

各种电子电气设备需要将其本身所产生的电磁波噪声限制在预定值以下。这是因为，其他电子电气设备因这种电磁波噪声而误动作，或者抑制对操作这些设备的人体的影响。

近几年来，在EMC领域中，随着电子电气设备的高速化或无线LAN等的普及，遍及GHz频段的EMC(电磁相容性)变得越来越重要。尤其在测定电子电气设备放射的噪声的电磁干扰(EMI)测定中需要由天线检测在检测电波暗室等的电磁波的区域内从被测定装置放射的微小噪声，并传输到测定器中。

以往，在EMI测定中利用由RF前置放大器和同轴电缆构成的传输线路传输来自天线的输出信号。然而，若由同轴电缆传输例如1～6GHz这样的GHz频段的电磁波噪声，则大部分输出信号在同轴电缆内消失，难以进行测定。尤其在EMI测定中，从被测定装置产生的电磁波噪声其信号电平本来就微弱，担心被掩埋于测定器的噪声中。

并且，若考虑检测电波暗室等的电磁波的检测区域内的测定空间(被测定装置与天线的距离)为数米～数十米左右，则从电波暗室(检测区域)的天线到检测区域外的测定装置的传输距离需确保数十米左右。对此，当利用同轴电缆传输GHz频段的电信号时，传输距离变为数米左右。因此，需要使接收天线与测定装置之间靠近，根据情况，在检测电磁波的区域内配置测定装置的一部分等测定可靠度下降，并且测定准备也变得复杂。

对此，如专利文献1所示，提出有将具有马赫-曾德尔型光波导的光强度调制器用于电场传感头的技术。

一般在电场传感头使用光强度调制器时，为了避免外加于光强度调制器的偏置控制电压等的电信号成为产生新噪声的原因，如专利文献2所示，利用在光强度调制器中未外加偏置控制电压的、所谓无偏置光强度调制器。

专利文献1：日本专利第3404606号公报

专利文献2：日本专利第3049190号公报

然而，无偏置光强度调制器中，偏置点调整精确度因测试环境的温度变化或光强度调制器的固定机构的应力变动而劣化，并发生信号输出电平变动等检测信号的传输特性的劣化。并且，产生光强度调制器的制造产率的问题或个别元件的工作点调整等追加工作，很难降低成本。并且，如专利文献2所示，无偏置光强度调制器需要另外附加调整偏置点的机械构成，因此很难实现电场传感头部的小型化。

发明内容

本发明欲解决的课题在于，解决如上所述的问题，并提供一种可以实现高稳定的传输，还可以实现电场传感头的小型化的电场计量装置。

为了解决上述课题，技术方案1所涉及的发明中的电场计量装置，其测定从设置于检测电磁波的区域内的被测定装置产生的电磁波的电场强度，其特征在于，

在该区域内设置天线及具有马赫-曾德尔型光波导的光强度调制器，并且该天线的输出信号外加于该光强度调制器的调制电极，

在该区域外设置：光源部；受光部；及DC偏置控制部，该DC偏置控制部根据来自该光强度调制器的输出光的光强度来控制供给至该光强度调制器的DC偏置电压，

通过光纤从该光源部向该光强度调制器导入光波，

通过光纤从该光强度调制器向该受光部导出光波，

由供电线从该DC偏置控制部向该光强度调制器供给DC偏置电压。

在技术方案2所涉及的发明中，技术方案1所述的电场计量装置，其特征在于，该光源部射出具有恒定光强度的固定光，该DC偏置控制部以将该输出光的光强度的平均值恒定化的方式设定DC偏置电压。

在技术方案3所涉及的发明中，技术方案1或2所述的电场计量装置，其特征在于，在该区域内设置放大该天线的输出信号的放大器，通过供电线从设置于该区域外的电源电路向该放大器供给DC电压。

在技术方案4所涉及的发明中，技术方案1至3中任一项所述的电场计量装置，其特征在于，该供电线上设置有交流信号截断用低通滤波器。

在技术方案5所涉及的发明中，技术方案1至4中任一项所述的电场计量装置，其特征在于，该光强度调制器为光波的入射部与射出部相同的反射型调制器，在该区域内，由一根光纤构成从该光源部将光波导入至该光强度调制器的光纤和从该光强度调制器将光波导出至该受光部的光纤，通过设置于该区域外的环行器来分离从该光源部向该光纤入射的光波和从该光纤向该受光部射出的光波。

发明效果