[发明专利]一种高导通电压倒装LED集成芯片及制造方法有效

专利信息
申请号: 200810028672.8 申请日: 2008-06-06
公开(公告)号: CN101308838A 公开(公告)日: 2008-11-19
发明(设计)人: 吴纬国 申请(专利权)人: 广州南科集成电子有限公司
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L25/075;H01L23/367;H01L21/60
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510663广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 通电 压倒 led 集成 芯片 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种高导通电压倒装LED集成芯片,包括若干个LED裸芯片(1)和硅衬底(2),所述LED裸芯片(1)包括衬底(10)和N型外延层(11)、P型外延层(12),其特征在于:所述硅衬底(2)的正面沉积有导热绝缘层II(5),所述导热绝缘层II(5)上沉积有金属层(6),各所述LED裸芯片(1)对应的所述P型外延层(12)、所述N型外延层(11)分别通过焊球(80、81)倒装焊接在两个分离的所述金属层(6)上,若干个所述LED裸芯片(1)之间通过所述金属层(6)相连接组成电路,若干个所述LED裸芯片(1)之间串联或并联或串并联组合连接,所述导热绝缘层II(5)由厚度为3500~6000埃的氮化硅层构成或厚度为1500~8000埃的二氧化硅层构成或厚度为400~8000埃的二氧化硅层与厚度为1000~6000埃的氮化硅层组合构成或厚度为1000~6000埃的氮化硅层与厚度为1500~8000埃的二氧化硅层组合构成。

2.根据权利要求1所述的高导通电压倒装LED集成芯片,其特征在于:所述硅衬底(2)的正面向内扩散有一层N+扩散层(3)。

3.一种高导通电压倒装LED集成芯片,包括若干个LED裸芯片(1)和硅衬底(2),所述LED裸芯片(1)包括衬底(10)和N型外延层(11)、P型外延层(12),其特征在于:所述硅衬底(2)的正面向内扩散有一层N+扩散层(3),所述N+扩散层(3)上生长有一层导热绝缘层I(4),所述导热绝缘层I(4)上沉积有金属层(6),各所述LED裸芯片(1)对应的所述P型外延层(12)、所述N型外延层(11)分别通过焊球(80、81)倒装焊接在两个分离的所述金属层(6)上,若干个所述LED裸芯片(1)之间通过所述金属层(6)相连接组成电路,若干个所述LED裸芯片(1)之间串联或并联或串并联组合连接,所述导热绝缘层I(4)是厚度为6000~8000埃的氧化层。

4.根据权利要求3所述的高导通电压倒装LED集成芯片,其特征在于:所述导热绝缘层I(4)与所述金属层(6)之间沉积有导热绝缘层II(5),所述导热绝缘层II(5)由厚度为1000~6000埃的氮化硅层构成或厚度为1500~8000埃的二氧化硅层构成或厚度为400~8000埃的二氧化硅层与厚度为1000~6000埃的氮化硅层组合构成或厚度为1000~6000埃的氮化硅层与厚度为1500~8000埃的二氧化硅层组合构成。

5.根据权利要求1或2或3或4所述的高导通电压倒装LED集成芯片,其特征在于:所述硅衬底(2)的背面还有由一层或多层金属构成的散热层(7),所述金属层(6)的外表面为反光面,所述硅衬底(2)为P型或N型,所述焊球(80、81)为金球栓或铜球栓或锡球,所述金属层(6)为铝或铜或硅铝合金。

6.一种用于制造权利要求1所述的高导通电压倒装LED集成芯片的方法,其特征在于:包括以下步骤:

(a)形成导热绝缘层II:采用低压气相法在所述硅衬底(2)的正面沉积氮化硅或二氧化硅或二者都沉积,形成厚度为3500~6000埃的氮化硅层或厚度为1500~8000埃的二氧化硅层或先形成400~8000埃的二氧化硅层再形成厚度为1000~6000埃的氮化硅层,或先形成1000~6000埃的氮化硅层再形成厚度为1500~8000埃的二氧化硅层,即形成所述导热绝缘层II(5);

(b)形成金属层:以溅射或蒸镀的方法沉积金属层,然后在光刻机上利用金属光刻掩模版进行光刻,再用湿法或干法蚀刻工艺对金属层进行蚀刻,蚀刻后剩余的金属层构成所述金属层(6);

(c)LED裸芯片封装:对于每个所述LED裸芯片(1),植金球栓或铜球栓或锡球于两个分离的所述金属层(6)上,再通过超声键合或回流焊将若干个所述LED裸芯片(1)倒装在金球栓或铜球栓或锡球上。

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