专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种改造后的LPCVD反应室-CN202122065570.7有效
  • 周进 - 上海华力微电子有限公司
  • 2021-08-30 - 2022-01-28 - C23C16/54
  • 本实用新型提供了一种改造后的LPCVD反应室,包括固定底座、设置在所述固定底座上方的LPCVD炉管管体、以及设置在所述固定底座和LPCVD炉管管体之间的保护单元;其中,所述固定底座的顶部内侧具有向下凹进的第一容纳部本实用新型提供的改造后的LPCVD反应室,能够保证所述LPCVD炉管管体在发生偏移后,所述LPCVD炉管管体和所述固定底座之间不发生碰撞,且在对设备进行抽真空时,所述保护单元能够保证所述LPCVD炉管管体在下压时不与所述固定底座接触而导致所述LPCVD炉管管体破裂。确保LPCVD设备后续工作进行。
  • 一种改造lpcvd反应
  • [发明专利]一种LPCVD石英舟的清理方法及清理设备-CN202010176079.9在审
  • 杨楠楠;金井升;张昕宇 - 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司
  • 2020-03-13 - 2020-06-30 - B08B3/08
  • 本发明公开了一种LPCVD石英舟的清理方法,通过将待清理LPCVD石英舟置入高温炉中;在预设温度下向所述高温炉中通入氯气,使所述LPCVD表面的多晶硅层与所述氯气进行反应;排出废气,得到去除所述多晶硅层的LPCVD石英舟。本发明利用氯气在高温下与硅反应生成气态的四氯化硅的特性,将达到一定使用次数的LPCVD石英舟表面的多晶硅层去除,避免了所述多晶硅层积压过多导致应力提升使所述LPCVD石英舟发生隐裂的问题,大大延长了所述LPCVD石英舟的使用寿命,进而降低了TOPCON电池的生产成本。本发明同时还提供了一种具有上述有益效果的LPCVD石英舟的清理设备。
  • 一种lpcvd石英清理方法设备
  • [实用新型]卧式LPCVD工艺炉-CN202223592365.7有效
  • 尚海波;汪祖一 - 上海合晶硅材料股份有限公司
  • 2022-12-30 - 2023-07-07 - C23C16/455
  • 本申请涉及卧式LPCVD工艺炉,LPCVD工艺炉中包括悬臂和弥散管,所述的弥散管具有一个或多个竖管部,竖管部上开设有出气孔,竖管部被设置在悬臂放置晶舟位置的两侧;LPCVD方法为在该卧式LPCVD工艺炉的悬臂上本申请的有益效果在于实现了在卧式LPCVD工艺炉内放置立式晶舟进行气相化学沉积,从而同时兼具了卧式工艺炉和立式工艺炉的优点,减少了晶片崩边、碎片情况的发生。
  • 卧式lpcvd工艺
  • [发明专利]一种氮化硅薄膜的生成装置及方法-CN200910092851.2有效
  • 徐威;黄辛庭;秦正健 - 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司
  • 2009-09-09 - 2011-04-20 - C23C16/34
  • 本发明公开了一种氮化硅薄膜的生成装置及方法,其中装置包括:用于通入DCS气体的第一管路、用于通入NH3的第二管路、与第一管路连通的第三管路以及LPCVD反应腔;第一管路和第二管路分别与LPCVD反应腔相连,第三管路用于在停止向LPCVD反应腔中通入DCS气体后,向第一管路中通入能够将第一管路中残留的DCS气体排出至LPCVD反应腔的第一气体。本发明提供的氮化硅薄膜的生成装置及方法,能够在LPCVD反应结束后,及时将第一管路中残留的DCS气体排出,避免了第一管路中残留的DCS气体冷凝进入LPCVD反应腔,形成颗粒附着在晶圆表面的问题,保证了晶圆表面氮化硅薄膜的生成质量
  • 一种氮化薄膜生成装置方法
  • [发明专利]LPCVD设备的温控时滞系统自校正方法与装置-CN201310503909.4有效
  • 王峰;王健;孙少东 - 北京七星华创电子股份有限公司
  • 2013-10-23 - 2014-01-29 - G05B23/02
  • 本发明公开了一种LPCVD设备的温控时滞系统自校正方法,包括:对LPCVD设备各个温控区建立包含时滞误差的PID控制模型;建立包含权重系数的比例,积分,微分控制项的自校正调节项模型,并确定已建立的权重系数取值范围;建立监督控制项,用于加强LPCVD设备的温控时滞系统的稳定性。同时,本发明也公开了一种LPCVD设备的温控时滞系统自校正装置,包括:控制模型模块,用于建立LPCVD设备各个温控区的包含时滞误差的PID控制模型;权重PID控制模型模块,用于建立包含处理大时滞环节权重系数的比例,积分,微分控制项模型,并确定已建立的权值系数取值范围;监督模块,用于加强LPCVD设备的温控时滞系统的稳定性。
  • lpcvd设备温控系统校正方法装置
  • [发明专利]一种SONOS结构中氮化硅的生长工艺-CN201110217318.1有效
  • 郭良权;吴晓鸫;郑若成;洪根深 - 无锡中微晶园电子有限公司
  • 2011-08-01 - 2011-11-30 - C23C16/34
  • 本发明涉及一种SONOS结构中氮化硅的生长工艺,其包括如下步骤:a、提供圆片,并放入LPCVD炉管内;b、向LPCVD炉管内通入反应气体SiCl2H2与NH3,以在圆片上生长初始膜层;c、向LPCVD炉管内通入反应气体SiCl2H2及NH3,使LPCVD炉管内反应气体SiCl2H2与NH3体积比为1:10,圆片的初始膜层上生长中间膜层;d、保持LPCVD炉管内反应气体SiCl2H2与NH3体积比为1:10,在上述圆片的中间膜层上生长顶层膜层;e、向LPCVD炉管内继续通入NH3气体,并停止向通入SiCl2H2,使LPCVD炉管内的SiCl2H2充分反应,得到圆片上所需的氮化硅层。
  • 一种sonos结构氮化生长工艺

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