专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [外观设计]耳机(挂脖BG18-CN202230292006.6有效
  • 杨娜娜 - 杨娜娜
  • 2022-05-18 - 2022-10-14 - 14-01
  • 1.本外观设计产品的名称:耳机(挂脖BG18)。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于接收音频。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。
  • 耳机挂脖bg18
  • [发明专利]一种用于测试漏电断路器的测试设备-CN201610475456.2在审
  • 胡小青 - 胡小青
  • 2012-07-27 - 2016-12-07 - G01R31/327
  • 相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路;其特征在于:相位产生电路包括可控硅电流控制电路;所述可控硅电流控制电路包括:根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号而导通的三极管BG18、由三极管BG18驱动的光耦芯片IC4,由光耦芯片IC4控制通断的双向可控硅BG19,双向可控硅BG19的A、K极串联在外接模拟漏电回路中。
  • 一种用于测试漏电断路器设备
  • [发明专利]一种测试设备-CN201610474916.X在审
  • 胡小青 - 胡小青
  • 2012-07-27 - 2016-12-07 - G01R31/327
  • 相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路;其特征在于:相位产生电路包括可控硅电流控制电路;所述可控硅电流控制电路包括:根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号而导通的三极管BG18、由三极管BG18驱动的光耦芯片IC4,由光耦芯片IC4控制通断的双向可控硅BG19,双向可控硅BG19的A、K极串联在外接模拟漏电回路中。
  • 一种测试设备
  • [发明专利]一种测试设备-CN201610475061.2在审
  • 胡小青 - 胡小青
  • 2012-07-27 - 2016-12-07 - G01R31/327
  • 相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路;其特征在于:相位产生电路包括可控硅电流控制电路;所述可控硅电流控制电路包括:根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号而导通的三极管BG18、由三极管BG18驱动的光耦芯片IC4,由光耦芯片IC4控制通断的双向可控硅BG19,双向可控硅BG19的A、K极串联在外接模拟漏电回路中。
  • 一种测试设备
  • [发明专利]一种用于测试漏电断路器的测试设备-CN201610474942.2在审
  • 胡小青 - 胡小青
  • 2012-07-27 - 2016-12-07 - G01R31/327
  • 相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路;其特征在于:相位产生电路包括可控硅电流控制电路;所述可控硅电流控制电路包括:根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号而导通的三极管BG18、由三极管BG18驱动的光耦芯片IC4,由光耦芯片IC4控制通断的双向可控硅BG19,双向可控硅BG19的A、K极串联在外接模拟漏电回路中。
  • 一种用于测试漏电断路器设备
  • [发明专利]一种测试设备-CN201610466422.7在审
  • 胡小青 - 胡小青
  • 2012-07-27 - 2016-08-17 - G01R31/327
  • 相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路;其特征在于:相位产生电路包括可控硅电流控制电路;所述可控硅电流控制电路包括:根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号而导通的三极管BG18、由三极管BG18驱动的光耦芯片IC4,由光耦芯片IC4控制通断的双向可控硅BG19,双向可控硅BG19的A、K极串联在外接模拟漏电回路中。
  • 一种测试设备
  • [发明专利]一种用于测试漏电断路器的测试设备-CN201610473834.3在审
  • 胡小青 - 胡小青
  • 2012-07-27 - 2016-08-17 - G01R31/327
  • 相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路;其特征在于:相位产生电路包括可控硅电流控制电路;所述可控硅电流控制电路包括:根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号而导通的三极管BG18、由三极管BG18驱动的光耦芯片IC4,由光耦芯片IC4控制通断的双向可控硅BG19,双向可控硅BG19的A、K极串联在外接模拟漏电回路中。
  • 一种用于测试漏电断路器设备
  • [发明专利]一种测试设备-CN201610473914.9在审
  • 胡小青 - 胡小青
  • 2012-07-27 - 2016-08-17 - G01R31/327
  • 相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路;其特征在于:相位产生电路包括可控硅电流控制电路;所述可控硅电流控制电路包括:根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号而导通的三极管BG18、由三极管BG18驱动的光耦芯片IC4,由光耦芯片IC4控制通断的双向可控硅BG19,双向可控硅BG19的A、K极串联在外接模拟漏电回路中。
  • 一种测试设备
  • [发明专利]一种用于测试漏电断路器的测试设备-CN201610460808.7在审
  • 胡小青 - 胡小青
  • 2012-07-27 - 2016-09-07 - G01R31/327
  • 相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路;其特征在于:相位产生电路包括可控硅电流控制电路;所述可控硅电流控制电路包括:根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号而导通的三极管BG18、由三极管BG18驱动的光耦芯片IC4,由光耦芯片IC4控制通断的双向可控硅BG19,双向可控硅BG19的A、K极串联在外接模拟漏电回路中。
  • 一种用于测试漏电断路器设备
  • [实用新型]一种测试设备-CN201220366560.5有效
  • 胡小青 - 苏州贝腾特电子科技有限公司
  • 2012-07-27 - 2013-02-20 - G01R31/327
  • 相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路;其特征在于:相位产生电路包括可控硅电流控制电路;所述可控硅电流控制电路包括:根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号而导通的三极管BG18、由三极管BG18驱动的光耦芯片IC4,由光耦芯片IC4控制通断的双向可控硅BG19,双向可控硅BG19的A、K极串联在外接模拟漏电回路中。
  • 一种测试设备

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