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[实用新型]一种验光结果自动记录装置-CN201820437179.0有效
发明人：杨扬 -专利权人：西安医学院
申请日： 2018-03-29 - 公布日： 2019-04-16 - 主分类号： A61B3/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种验光结果自动记录装置，包括壳体，壳体一个侧面上设置有两个验光口，壳体上表面设置有显示器和验光钮，壳体上还设置有USB接口、装票口和出票口；壳体内设置有打票装置、电池、验光模块、标准数据模块本实用新型一种验光结果自动记录装置，结构简单、实用价值高，能对验光者的验光结果自动记录、存储，方便验光数据统计对比，解决了现有验光装置只能测量视力状况，无法对验光结果进行自动记录的问题。
验光自动记录装置壳体本实用新型存储装置自动记录出票口票口电池壳体上表面标准数据处理模块视力状况数据统计验光装置显示器测量存储体内侧面

[实用新型]一种验光结果自动记录装置-CN201921209065.1有效
发明人：蒋俊平;焦飞宏;杨姝颖 -专利权人：江苏新百伦光学仪器有限公司
申请日： 2019-07-30 - 公布日： 2020-07-14 - 主分类号： A61B3/103 文献下载
摘要：本实用新型提供一种验光结果自动记录装置，包括记录装置机身，所述机身上侧壁设置有把手，所述机身的一侧侧壁设置有显示屏，位于显示屏同侧的所述机身的侧壁上设置有擦拭装置，所述机身的左侧壁设置有与机身内部连通设置的风扇装置本实用新型中，通过收线装置的设置，在使用完验光结果自动记录装置后，能够将电源线放置在收线槽中，并将电源线缠绕在绕线柱上，并通过压线杆将收好的电源线压紧，通过卡紧装置使压线杆进一步固定，防止收好的电源线松开
一种验光结果自动记录装置

[发明专利]彩色图像记录装置-CN03109420.1有效
发明人：本山荣一;藤森贵司;池上英之;山本悟 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2003-04-09 - 公布日： 2003-10-22 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：一种彩色图像形成装置，对于黄色，品红色，青色，黑色的各色成分的每个色成分具有图像形成单元，可以设定是否使用判定原稿图像是彩色还是黑白的判定功能，当设定使用判定功能时，在得到判别结果前，在全色记录模式下进行图像形成的准备动作，如果判别结果是黑白的，则使得从全色记录模式转移到黑白记录模式后，在黑白记录模式下进行图像形成。又，在得到判别结果前，在黑白记录模式下进行图像形成的准备动作的结构中，如果判别结果是彩色的，则使得从黑白记录模式转移到全色记录模式后，在全色记录模式下进行图像形成。
彩色图像记录装置

[发明专利]一种基于存储过程的OTRS系统的数据清洗方法-CN202010423647.0在审
发明人：刘猛;吴东生;于法栋 -专利权人：山东汇贸电子口岸有限公司
申请日： 2020-05-19 - 公布日： 2020-08-28 - 主分类号： G06F16/215 文献下载
摘要：本发明公开一种基于存储过程的OTRS系统的数据清洗方法，涉及数据清洗技术领域；循环取出第二游标中历史数据记录，将首条历史数据记录存入统计结果中间表，判断前后条历史数据记录的队列类型是否相同，不相同则将后条历史数据记录存入到统计结果中间表中，相同则判断前后条历史数据记录的所有者是否相同，若不相同则将后条历史数据记录存入到统计结果中间表中相同则判断前后条历史数据记录的记录负责人是否相同，若不相同则将后条历史数据记录存入到统计结果中间表中，若相同则判断前后条历史数据记录中创建时间的差值是否大于预设值，大于则存入统计结果中间表，不大于则继续从第二游标中取出历史数据返回队列类型判断过程，直至数据清洗完成。
一种基于存储过程 otrs 系统数据清洗方法

[发明专利]组合柜商检方法、装置及存储介质与设备-CN202010845284.X在审
发明人：胡娟;陶海金;何雅菁;陆寅 -专利权人：合肥美的智能科技有限公司
申请日： 2020-08-20 - 公布日： 2020-11-27 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种组合柜商检方法、装置及存储介质与设备，其中，组合柜包括主柜和多个副柜，方法包括以下步骤：获取待商检的组合柜的设备型号；根据设备型号生成多个副序列号，并将多个副序列号与多个副柜关联；在对主柜进行商检时，基于设备型号记录主柜商检结果；在对副柜进行商检时，基于副柜关联的序列号记录副柜商检结果；根据主柜商检结果和副柜商检结果生成组合柜的商检报告。由此，本发明的组合柜商检方法，基于设备型号记录主柜商检结果，并基于副柜关联的序列号记录副柜商检结果，以及根据主柜商检结果和副柜商检结果生成组合柜的商检报告，从而，实现对主柜和多个副柜的标识与商检结果记录，以完成组合柜商检与记录。
组合柜商检方法装置存储介质设备

[发明专利]一种搜索结果控制方法及电子设备-CN201510640131.0有效
发明人：陈耀攀 -专利权人：北京奇虎科技有限公司;奇智软件（北京）有限公司
申请日： 2015-09-30 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： G06F16/338 文献下载
摘要：本发明涉及互联网领域，公开了一种搜索结果控制方法及电子设备，以解决现有技术中基于搜索引擎搜索时首屏所获得有效数据量较低的技术问题。该方法包括:接收搜索操作；搜索获得第一搜索结果；在显示界面的第一显示区域显示显示第一搜索结果，在显示界面的第二显示区域显示第二搜索结果；在检测到用户针对第一搜索记录的浏览操作时，判断第一搜索记录位于第一搜索结果还是位于第二搜索结果；在第一搜索记录位于第一搜索结果时，在第一显示区域通过第一搜索记录的跳转页面覆盖第一搜索结果；在第一搜索记录位于第二搜索结果时，通过新窗口第一搜索记录的跳转页面。
一种搜索结果控制方法电子设备

[发明专利]基于关系型数据库系统二维表的快速统计方法-CN202011434745.0在审
发明人：周文龙;唐军 -专利权人：四川长虹电器股份有限公司
申请日： 2020-12-10 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： G06F16/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于关系型数据库系统二维表的快速统计方法包括：构建初始统计结果表；更新初始统计结果表获得实时统计结果表；查询统计结果表获得表名所对应的实时数据记录总数。本发明主要针对关系型数据库系统中存储海量数据的二维表，在需统计数据记录总数的二维表数据量发生增减变化时，提前定义好并插入初始数据记录总数的统计结果表中触发数据记录总数统计值的实时加减计算，从而实时得出针对于该被统计二维表的数据记录总数结果并存储，以达到对该二维表数据记录总数统计耗时的优化，缩短统计时间，提高数据记录总数的统计效率及准确性。
基于关系数据库系统二维快速统计方法

[发明专利]流数据的处理方法、装置、存储介质及计算机设备-CN202111493756.0在审
发明人：刘俊龙;申晨;沈旭;黄建强 -专利权人：阿里巴巴（中国）有限公司
申请日： 2021-12-08 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G06F16/2455 文献下载
摘要：其中，该方法包括：解析流数据，生成解析结果；对解析结果进行分批次聚类，得到多个批次的聚类结果，其中，每个批次的聚类结果中包含：至少两条记录以及任意两条记录之间的匹配概率；对任意一个聚类结果中包含的一条或多条记录进行评估，确定任意两条或多条记录均属于目标记录的概率；基于任意两条或多条记录均属于目标记录的概率，对任意一个聚类结果进行优化处理，其中，优化处理包括如下任意一种或多种方式：拆分、合并、删除和替换。
数据处理方法装置存储介质计算机设备

[发明专利]终端设备的测试方法、电子设备及存储介质-CN202210408817.7在审
发明人：潘志鹏;华量;林子晖 -专利权人：北京旷视科技有限公司
申请日： 2022-04-19 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种终端设备的测试方法、电子设备及存储介质，该方法包括：获取多台待测试终端设备针对多个对象的识别记录信息，所述识别记录信息包括所述对象所对应的待识别图像和识别结果；对所述识别记录信息中的待识别图像进行聚类，得到多个聚类集合；根据识别结果，确定各所述聚类集合中识别异常的识别记录信息；根据所述识别异常的识别记录信息，确定所述待测试终端设备的测试结果。本申请实施例通过聚类，可以将相似的待识别图像聚为一个集合，再结合识别记录中的识别结果可以准确确定出识别异常的识别记录信息，进而得到准确的测试结果，提高了测试结果的准确度，而且不需要人工进行统计，降低了统计成本
终端设备测试方法电子设备存储介质

[发明专利]基于向量反射率正演算子的偏移成像方法、系统及介质-CN202211702119.4有效
发明人：卢绍平;吴涵;邓小凡 -专利权人：中山大学
申请日： 2022-12-29 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01V1/28 文献下载
摘要：包括：获取目标工区地下速度模型及观测地震记录，并设定初始成像结果；根据目标工区地下速度模型及成像结果，使用向量反射率正演算子生成对应的模拟地震记录，并计算其与观测地震记录之间的记录残差；根据记录残差，应用与正演算子相共轭的向量反射率敏感核，获得记录残差对应的成像结果更新梯度；根据成像结果更新梯度，通过非线性反演求解器，获取更新后的成像结果，直至迭代终止。本发明能够实现在观测地震记录包含层间多次波及表面多次波干扰情况下，获取无多次波相关串扰噪声的高质量成像结果，为地震勘探提供丰富的地下构造信息。
基于向量反射率演算偏移成像方法系统介质

[发明专利]一种数据库日志记录方法及系统和数据库日志检测方法-CN201910281587.0有效
发明人：赵剑竹 -专利权人：北京信安世纪科技股份有限公司
申请日： 2019-04-09 - 公布日： 2021-07-20 - 主分类号： G06F21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种数据库日志记录方法，包括以下步骤：在待检测日志建立唯一字段和/或拓展字段，得到字典文件；获取所述字典文件字节数，并产生随机数；通过比较所述字典文件字节数与所述随机数的大小，并根据比较结果对所述字典文件字节数进行第一运算得到第一运算结果；循环产生随机数步骤和比较步骤N次得到N个第一运算结果；对上一步骤的结果进行处理得到密钥；使用所述密钥对将要写入所述日志中的记录进行第二运算，得到运算第二运算结果；将所述记录、所述N个第一运算结果及第二运算结果写入所述日志中；记录写入信息后所述日志中的记录条数。通过上述方法可以实现精确校验日志记录，可检测出现有技术检测不出来的记录修改方式。
一种数据库日志记录方法系统检测

[发明专利]计算机启动记录监测系统及方法-CN200510035983.3无效
发明人：游永兴;何凤龙;王岗 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2005-07-13 - 公布日： 2007-01-17 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种计算机启动记录监测系统，该系统包括：一条件设置模块，用于设定操作系统重启次数、设定延迟重启时间以及设置状态代码记录的存放路径；一程序运行模块，用于记录操作系统启动过程中的驱动器状态代码，比较不同次操作系统启动过程中的驱动器状态代码及判断比对过程中是否有代码错误或丢失和判断重启次数是否达到设定上限；一结果导出及存储模块，用于驱动器状态代码的记录结果和比对结果的导出及存储；一结果查看及系统退出模块，用于记录结果和比对结果的查看及操作系统的退出。利用本发明计算机启动记录监测系统及方法，可对操作系统重启过程中出现的异常状况进行跟踪记录，保证测试结果的准确性和全面性。
计算机启动记录监测系统方法

[实用新型]一种便于记录验布结果的验布机-CN201920884668.5有效
发明人：顾萍 -专利权人：凯盛家纺股份有限公司
申请日： 2019-06-12 - 公布日： 2020-04-24 - 主分类号： D06H3/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种便于记录验布结果的验布机，涉及纺织设备技术领域，旨在解决操作人员在验布机处进行验布时，需要用笔对验布的结果进行记录，记录时多通过手掌作为支撑进行记录，增大了记录工作的难度技术问题，其技术方案要点是一种便于记录验布结果的验布机，包括机架，机架上设置有验布灯罩和倾斜设置的验布板，机架靠近验布板倾斜方向的一侧设置有记录板，记录板的下端设置有限位杆，限位杆上开设有若干插设孔，机架靠近记录板方向的侧壁开设有插设槽，插设孔内插设有插设螺杆，插设螺杆与插设槽螺纹连接；达到了便于操作人员记录验布的结果，减少记录工作的难度。
一种便于记录结果验布机

[发明专利]标签标注方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202010772268.2在审
发明人：黄剑辉;梁龙军;刘海波 -专利权人：腾讯科技（深圳）有限公司
申请日： 2020-08-04 - 公布日： 2021-05-04 - 主分类号： G06F16/951 文献下载
摘要：方法包括：获取目标搜索系统中待标注的搜索记录，从外部搜索平台获取与搜索记录对应的搜索结果数据，将搜索结果数据输入预设的分类模型，得到搜索结果数据对应的分类结果，分类模型的分类类别与目标搜索系统的索引库分类类别相同，根据分类结果，对搜索记录进行类别标签标注。通过借助外部搜索平台来获取与搜索记录对应的搜索结果数据，通过分类处理对搜索记录进行类别标签标注，实现半监督式的标签标注，通过借助外部搜索平台，不受搜索系统是否存在大量的历史搜索点击数据的条件制约，适用于冷启动阶段的搜索系统，有效提高了对搜索记录的标注效率，快速积累训练数据。
标签标注方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]具有芯片测试结果信息的芯片与检查芯片测试结果的方法-CN201410715999.8有效
发明人：李文明 -专利权人：南亚科技股份有限公司
申请日： 2014-12-01 - 公布日： 2018-11-27 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种具有芯片测试结果信息的芯片与检查芯片测试结果的方法在此揭露。芯片包含芯片基板与设置在芯片基板上的记录模块。记录模块用以记录代表芯片是否通过芯片测试的状态代码。其方法包含下列步骤：对芯片执行芯片测试；以及在芯片的记录模块中记录状态代码，状态代码代表芯片是否通过芯片测试。透过本发明中将芯片测试结果的信息记录在记录模块上的芯片，使用者可以轻易地检查芯片是否通过芯片测试而不需要联系芯片制造商要求提供对应的测试记录文件。
具有芯片测试结果信息检查方法