专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种配合冷冻消融的消融系统和消融针-CN202110735790.8在审
  • 赵国江;岳宏雷;宋子豪 - 美迪纳斯(天津)科技有限公司
  • 2021-06-30 - 2023-05-30 - A61B18/02
  • 本发明涉及一种配合冷冻消融探针使用的消融探针消融探针上设有至少一个导电部分,导电部分用于对靶区进行消融,消融探针内部设有空腔,两端均设有通口,空腔装配冷冻消融探针配合消融,消融探针可与冷冻消融探针拆分并独立进行消融;配合该消融探针的还有一种消融系统,消融系统包括发生器和消融探针消融探针如上所述,为配合冷冻探针还需要一种冷冻消融系统,冷冻消融系统包括冷冻发生器和冷冻消融探针,冷冻消融探针可选用任何已公开冷冻消融探针;本发明具有在非配合冷冻消融探针的时候可以独立进行消融,空腔可以用于向靶区供药打到辅助消融或凝血等功效,处理灵活多变适应多种应用场合的技术优势。
  • 一种配合冷冻消融系统
  • [发明专利]电流探针-CN201711444577.1有效
  • 许旭昌;许国彦;林川泽 - 致茂电子(苏州)有限公司
  • 2017-12-27 - 2021-06-04 - G01R1/067
  • 本发明公开了一种电流探针包括探针组件及第二连接端。探针组件包括针轴、第一连接端、探针头及子探针。针轴用以可活动地穿设基板。第一连接端设置且性连接针轴。探针头设置于针轴相对第一连接端的一端,并性连接针轴,探针头用以抵压受测物。子探针穿设探针头并插设针轴,且子探针与线缆性连接并与针轴性绝缘,子探针位于针轴远离第一连接端的一侧。第二连接端对应第一连接端。当探针头抵压受测物时,针轴可滑动地令第一连接端位于抵靠位置,以令第一连接端性接触第二连接端,且探针头通过针轴性连接第二连接端。
  • 电流探针
  • [发明专利]一种使用探针保护系统的连接器测设备-CN201710647772.8在审
  • 王中国 - 成都尊华荣域科技有限公司
  • 2017-08-01 - 2017-12-15 - G01R1/073
  • 本发明公开了一种使用探针保护系统的连接器测设备,涉及连接器测领域,包括机架,测机,从上到下依次设于机架上的驱动装置、与驱动装置连接的测组件、夹具;测组件包括从上到下依次连接的连接座、探针套固定板、绝缘垫、探针导向板;探针套固定板内穿设有与测机电连接的探针组件;连接座设有避让探针组件的通孔;探针组件具有上下设置的探针套和探针探针套下端贯穿绝缘垫且抵于探针导向板上端,探针下端与探针导向板间隙配合本发明通过设置探针导向板,实现了导向探针从而保护探针的效果。
  • 一种使用探针保护系统连接器设备
  • [实用新型]一种使用探针保护系统的连接器测设备-CN201720950150.8有效
  • 王中国 - 成都尊华荣域科技有限公司
  • 2017-08-01 - 2018-04-10 - G01R1/073
  • 本实用新型公开了一种使用探针保护系统的连接器测设备,涉及连接器测领域,包括机架,测机,从上到下依次设于机架上的驱动装置、与驱动装置连接的测组件、夹具;测组件包括从上到下依次连接的连接座、探针套固定板、绝缘垫、探针导向板;探针套固定板内穿设有与测机电连接的探针组件;连接座设有避让探针组件的通孔;探针组件具有上下设置的探针套和探针探针套下端贯穿绝缘垫且抵于探针导向板上端,探针下端与探针导向板间隙配合本实用新型通过设置探针导向板,实现了导向探针从而保护探针的效果。
  • 一种使用探针保护系统连接器设备
  • [发明专利]一种光电探测卡-CN202210647113.5在审
  • 徐鹏嵩;黄建军;赵山 - 苏州联讯仪器有限公司
  • 2022-06-08 - 2022-09-09 - G01R31/28
  • 本发明的光电探测卡可以包括PCB板、设置于PCB板上的探针、设置于PCB板上的光探针和用于控制运动装置的控制装置。光探针设置在探针的侧边,与探针共同探测同一个目标物的光信号与电信号;运动装置与探针和/或光探针连接,运动装置受控地运动以带动探针或光探针运动,进而调节电探针与光探针之间的相对位置,以使得探针能够匹配目标物的探针触点同时光探针匹配目标物的光接口本发明的观点探针卡可以适配集成芯片上的接口和光接口,从而同时检测集成芯片上的性能和光性能,以保证集成芯片在被形成产品之前的性能达到标准,从而减少测试的成本和测试的时间。
  • 一种光电探测
  • [实用新型]一种芯短路测试机构-CN201320022092.4有效
  • 何苏平;章阳光 - 东莞市久森新能源有限公司
  • 2013-01-15 - 2013-06-19 - G01R31/02
  • 本实用新型公开了一种芯短路测试机构,包括:测试台,固定在测试台上的极耳定位板,位于极耳定位板上方并由一升降装置驱动其上下活动的活动座,以及上端固定连接在活动座上的正极探针、负极探针芯壳体探针;其中,所述升降装置固定在测试台上,正极探针和负极探针的下端均连接有一位于极耳定位板上方的探针接触板。本实用新型通过连接探针接触板增大了正极探针和负极探针接触电芯极耳的接触面,测试时正极探针、负极探针芯极耳的接触为面接触,能避免芯的极耳被正极探针或负极探针刺伤,并且由极耳定位板在正极探针和负极探针下压时支撑芯极耳,能避免芯极耳被压弯变形,从而防止损坏芯,有效提升了芯的品质。
  • 一种短路测试机构
  • [实用新型]矿石性参数测量装置-CN201920783998.5有效
  • 王建国;钟莉;李金海;徐永红 - 青海大学
  • 2019-05-28 - 2020-03-27 - G01R1/067
  • 本实用新型涉及一种矿石性参数测量装置,能够在采样现场对矿石标本的性参数进行测量。矿石性参数测量装置包括装夹平台,装夹平台上设置有两间隔布置的探针座;探针座,设置有沿两探针座的间隔方向延伸设置的探针孔,探针孔内活动设置有探针探针座上还设置有顶压弹簧,顶压弹簧用于驱动探针探针孔外伸出以弹性顶压在矿石标本上;矿石性参数测量装置还包括性参数测量仪表,性参数测量仪表的相应电极与两探针座上的探针连接。
  • 矿石参数测量装置
  • [实用新型]一种探针、加电机构及芯片自动测试台-CN202021495201.0有效
  • 肖遥;魏秀强;李景鹏 - 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
  • 2020-07-24 - 2021-05-14 - G01R1/067
  • 本实用新型涉及芯片加装置技术领域,公开了一种探针、加电机构及芯片自动测试台。探针包括加段和固定段,加段的一端可拆卸地安装于固定段的一端,加段远离固定段的一端用以与芯片相接触,固定段远离加段的一端用以固定于探针支座上且与电源装置性连接。本实用新型实施例提供的探针为分体式结构,探针通过固定段固定于探针支座上,当探针的加段出现磨损时,由于加段和固定段之间是可拆卸的,不需要将探针整体从探针支座上拆下进行更换,只需更换加段即可,故该分体式结构的探针更换较为方便
  • 一种探针机构芯片自动测试
  • [实用新型]一种光电测试模组及光电测试系统-CN202123089637.7有效
  • 龙婧;刘广元;王荣;谭信辉 - 杭州海康威视数字技术股份有限公司
  • 2021-12-09 - 2022-05-27 - G01R31/26
  • 所述光电测试模组用于对具有背照式光电元件的待测晶圆进行测试,其包括基板、多个导电探针及多个连接键;所述基板具有相对的正面和背面,所述基板的正面包括位于中部的探针区及位于所述探针区外围的连接区;所述多个导电探针按照预设阵列排布于所述基板的所述探针区形成导电探针阵列,所述多个连接键分散设于所述连接区,且每一所述连接键与一个导电探针性连接。上述光电测试模组,通过在基板的探针区设置导电探针阵列,并在探针区外围的连接区设置与导电探针性连接的连接键,该光电测试模组的结构简单,且方便对具有背照式光电元件的待测晶圆进行测试。
  • 一种光电测试模组系统
  • [实用新型]一种芯测试装置-CN202320664804.6有效
  • 郑利鹏;屠国权 - 深圳市德富莱智能科技股份有限公司
  • 2023-03-23 - 2023-08-11 - G01R31/36
  • 本申请提供了一种芯测试装置,包括:下压结构、探针模组和顶升结构;所述下压结构与所述探针模组连接,带动所述探针模组沿竖直方向运动;所述顶升结构设置在所述下压结构下方,并且与若干芯连接,带动所述芯沿竖直方向运动;所述探针模组包括若干探针组件,所述探针模组包括用于对所述芯进行测试的若干探针组件,所述探针组件与所述芯的电极的位置一一对应。通过所述下压结构带动所述探针模组向下运动,所述顶升结构带动所述芯向上运动,实现对所述芯的测试,可以在保证所述芯定位精准的同时提升测试效率。
  • 一种测试装置
  • [发明专利]切割道器件的性测试装置及测试方法-CN202210117020.1在审
  • 吴哲佳;王正钦;欧阳世豪;吴序伟;高沛雄 - 广州粤芯半导体技术有限公司
  • 2022-02-08 - 2022-03-08 - G01R31/26
  • 本发明提供了一种切割道器件的性测试装置及测试方法,用于监控切割道上的器件的性参数是否达标,装置包括:探针卡,包括多个探针,其中一个探针与一个器件连接,用于对器件的性进行测试,多个探针同时与多个器件连接,用于同时对多个器件的性进行测试;测试机,与探针卡连接,用于测试算法和编写测试程式,以分别控制多个探针对多个器件的性测试,获得多个器件的性参数。通过程式控制多个探针同时对多个切割道上的器件进行性测试,获得器件的性参数,可以减少测试时间,同时,减少扎针次数,从而减少探针的磨损程度,增加探针的寿命。
  • 切割器件测试装置方法
  • [发明专利]电子器件量测治具及量测装置-CN201310081800.6无效
  • 郭章纬 - 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
  • 2013-03-14 - 2014-09-17 - G01R1/04
  • 一种电子器件量测治具,用于对电子器件进行性测量,该电子器件具有多个连接端子,该量测治具包括器件固定座、探针固定座、多个第一探针及多个第二探针。该器件固定座具有收容待测量的电子器件的器件收容槽。该探针固定座固定于该器件固定座一侧。多个第一探针固定于该探针固定座,且一端用于与多个连接端子连接。该多个第二探针固定于探针固定座,第二探针包括相对的第一和第二连接针部,多个第一连接针部分别连接于多个第一探针,该第二连接针部用于与性测量装置连接。本发明还涉及一种采用上述治具的量测装置。
  • 电子器件量测治具装置
  • [实用新型]一种测模块的检测装置-CN202223053272.7有效
  • 李芬;夏金中;童朝伍 - 苏州厨芯科技有限公司
  • 2022-11-16 - 2023-06-16 - G01R11/04
  • 本实用新型提供一种测模块的检测装置,包括:至少两个探针安装装置;探针探针的一端与探针安装装置固定连接,探针探针安装装置与测模块活动连接;显示模块,显示模块与测模块的输入端连接;数显电表,数显电表与测模块的输出端连接;其中,探针探针安装装置与测模块的端子接触和/或穿过测模块的电流互感器,将显示模块显示的实际参数和数显电表显示的测量参数进行对比,得到测模块的检测结果;解决了检测效果不理想和容易出现接线错误或虚接等问题,使用至少两个探针安装装置对测模块进行检测,检测过程更加简便快捷,检测结果更加安全可靠,降低了检测成本。
  • 一种模块检测装置

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