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- [发明专利]时延测量装置及测试方法-CN202111092102.7有效
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毛为勇;王悦
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普源精电科技股份有限公司
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2021-09-17
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2022-10-18
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G01R31/28
- 本发明涉及硬件电路高精度测量技术领域,公开了一种时延测量装置及测试方法,包括数据源模块,用于输出校准数据;数模转换模块,与数据源模块相连接,用于将校准数据转换成模拟校准信号,模拟校准信号包括至少两种不同特征的周期信号;模数转换模块,与数模转换模块直接连接形成第一环路,且通过待测样品与数模转换模块连接形成第二环路;计算模块,用于根据模拟校准信号和第一采集信号获取第一时间参数,根据模拟校准信号和第二采集信号获取第二时间参数利用包括至少两种不同特征的周期信号的校准信号对待测样品进行时延测量,解决了高频率多周期信号起始时刻难以确定的问题。
- 测量装置测试方法
- [发明专利]用于校准模拟集成电路的方法和装置-CN201110123034.6无效
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宋振宇;陈利杰
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英特格灵芯片(天津)有限公司
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2011-05-13
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2012-11-14
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G11C17/16
- 本发明公开了一种集成电路,包括:由一个或多个存储单元并联而成的存储单元阵列,用于存储校准信息;写操作逻辑控制单元,用于接收测试数据信号并且控制将测试数据信号作为校准信息写入到存储单元阵列的操作;以及双路数据选择器,用于选择存储单元中的校准信息或测试数据中的一个作为输出;其中,双路数据选择器先选通测试数据,当测试数据信号写入存储单元阵列后双路数据选择器选通校准信息。本发明还公开了一种用于校准模拟集成电路的方法,该方法包括:双路数据选择器选通测试数据输出;写操作逻辑控制单元选择测试数据信号并且将选定的测试数据信号作为校准信息写入存储单元;双路数据选择器选通来自存储单元阵列的校准信息作为输出
- 用于校准模拟集成电路方法装置
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