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[发明专利]反射式检测机构-CN201610181912.2有效
发明人：杜金福;谭立权 -专利权人：光宝电子（广州）有限公司;光宝科技股份有限公司
申请日： 2016-03-28 - 公布日： 2019-10-18 - 主分类号： G01V8/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种反射式检测机构，设置于一具有介质输送路径的装置上，介质输送路径设置于一架体上。该反射式检测机构包括一沉孔单元及一反射式光传感器。该沉孔单元凹设于架体上，沉孔单元位于介质输送路径的下方，沉孔单元具有侧壁，侧壁的下端连接有一反射面，反射面呈倾斜状，侧壁及反射面之间形成有一沉孔。反射式光传感器设置于介质输送路径及沉孔单元的上方，反射式光传感器能发出光线，且光线能反射回反射式光传感器，用以判断有无介质通过沉孔单元的上方。
反射检测机构

[发明专利]一种用于毫米波MIMO和空间功率合成的反射式超表面-CN202110430380.2在审
发明人：罗宇;郭晓轩;安文星;马凯学 -专利权人：天津大学
申请日： 2021-04-21 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： H01Q15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于毫米波MIMO和空间功率合成的反射式超表面，包括正方形的反射式超表面主体；反射式超表面主体包括N×N个反射式超表面单元；N为大于2的整数；每个单元包括从上到下依次设置的第一金属贴片、第一介质基板和第一金属背板，为三层结构；第一金属贴片为正方形的金属贴片；第一介质基板的顶面，设置有第一金属贴片；第一介质基板的整个底面，覆盖有第一金属背板；对于在反射式超表面主体不同位置上的每个反射式超表面单元，其具有的反射相位响应符合预设的口径相位分布条件。本发明的反射式超表面，其能够将入射方向不同的电磁波束，经同一反射式超表面进行反射，产生了相同方向的反射波束，验证了其对电磁波的灵活调控。
一种用于毫米波 mimo 空间功率合成反射表面

[发明专利]介质界面光学传感器及其检测方法-CN202210254644.8有效
发明人：徐进勇;王乐然;彭德义;余鑫;孙傲;王彤 -专利权人：成都理工大学
申请日： 2022-03-16 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明公开了一种介质界面光学传感器及其检测方法，包括用于容纳流体介质以形成待监测介质界面的流体管路；流体管路上设有对射式光学结构和全反射式光学结构，全反射式光学结构位于对射式光学结构的下方，且全反射式光学结构和对射式光学结构的输入端均与光源电源电连接，全反射式光学结构和对射式光学结构的输出端与控制器信号连接。本发明设置对射式光学结构和全反射式光学结构，利用光的对射原理和全反射原理的配合，实现在通明介质和不透光介质的情况下对被监测介质界面位置进行准确的监测，检测可靠性高，还能应对各种物理属性不同的介质情况，应用范围广
介质界面光学传感器及其检测方法

[发明专利]显示面板-CN202010544150.4在审
发明人：喻贵荣;李懿庭 -专利权人：瀚宇彩晶股份有限公司
申请日： 2020-06-15 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G02F1/1333 文献下载
摘要：本发明提供一种显示面板，其包括：第一基板、多个像素结构、平坦层、补偿层、第二基板以及显示介质层。多个像素结构设置于第一基板上，且各自包括主动元件、反射式电极以及金属层。反射式电极电性连接主动元件，且反射式电极的厚度介于100纳米至150纳米之间。金属层设置于主动元件与反射式电极之间，且金属层的厚度介于20纳米至50纳米之间。平坦层设置于第一基板与反射式电极之间。金属层连接于平坦层与反射式电极之间。补偿层覆盖反射式电极，且补偿层的厚度介于7纳米至147纳米之间。第二基板与第一基板相对设置。显示介质层设置于补偿层与第二基板之间。
显示面板

[发明专利]显示系统及其操作方法-CN201210031194.2无效
发明人：张耘硕;何长安;游敦皓;林柏玮 -专利权人：财团法人工业技术研究院
申请日： 2012-02-09 - 公布日： 2013-07-03 - 主分类号： G09G3/20 文献下载
摘要：第一像素群组具有第一反射式显示介质以及第一自发光显示介质。第一反射式显示介质重叠第一自发光显示介质。控制装置根据使用者模式、影像信息以及环境光源信息的至少一者，控制第一反射式显示介质以及第一自发光显示介质所呈现的亮度，使得第一反射式显示介质以及第一自发光显示介质所呈现的亮度能够互相补偿。
显示系统及其操作方法

[发明专利]一种电厚度贴合反射式测试用介质填充波导探头设计方法-CN201910737416.4有效
发明人：郭利强;吴强;冷朋 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2019-08-12 - 公布日： 2021-08-17 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种电厚度贴合反射式测试用介质填充波导探头设计方法，属于测试技术领域，本发明通过介质填充，将反射式电厚度测试波导探头端口失配影响，分解为结构不连续性失配影响和介质不连续性失配影响，能够分别或组合降低总体影响，从而降低或消除现有反射式测试装置探头与被测天线罩外表面的失配反射，解决了贴合反射式电厚度测量方法的工程应用问题，并提供了良好的测量线性度。
一种厚度贴合反射测试介质填充波导探头设计方法

[其他]反射式龙泊介质球聚焦天线-CN86206188无效
发明人：马建平;马国庆 -专利权人：马建平
申请日： 1986-08-22 - 公布日： 1987-05-27 - 主分类号： H01Q19/10 文献下载
摘要：反射式龙泊介质球聚焦天线是一种接收卫星电视广播的反射式天线装置。由主反射器、螺旋馈源和负反射器进行一次聚焦和接收，由龙泊介质球及其馈源进行二次聚焦和接收，从而充分利用了到达天线的信号，具有很高的增益。对反射面为不同形式的各种现有反射式天线，只要沿其主反射器的中心法线装上龙泊介质球及馈源，均可改装成此天线。在现有的应用范围内，可用小口径的此天线代替大口径的现有反射式天线并保证同样的增益。
反射式龙泊介质聚焦天线

[实用新型]声光器件的反射式吸声结构-CN202321362311.3有效
发明人：梁玉发;郭杭涛;彭继峰 -专利权人：合肥脉博光电科技有限公司
申请日： 2023-05-31 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G10K11/16 文献下载
摘要：本实用新型提出声光器件的反射式吸声结构，所述声光器件包括一端与压电换能器相连的柱形的声光介质件；所述压电换能器产生的超声波经压电换能器与声光介质件的接触面输入柱形声光介质件的一端柱面；声光介质件的另一端为具有声波反射式楔形角的斜面形柱面，形成反射式吸声结构；本实用新型能优化声光器件的吸声能力。
声光器件反射吸声结构

[发明专利]显示装置-CN201410050169.8有效
发明人：黄信道;陈怡礽;施耀淙;萧书立;鲍友南;胡佳状 -专利权人：元太科技工业股份有限公司
申请日： 2014-02-13 - 公布日： 2017-07-14 - 主分类号： G09F9/00 文献下载
摘要：本发明是关于一种显示装置，包括反射式显示面板、多个电路或光学元件层及至少一个发光元件。这些电路或光学元件层堆叠于反射式显示面板上方，其中这些电路或光学元件层之一为导光板。发光元件配置于导光板旁。多个透光介质层分别位于反射式显示面板与这些电路或光学元件层中的每相邻两者之间及这些电路或光学元件层中最远离反射式显示面板者的上方。导光板上方的至少一个透光介质层为气体层。
显示装置

[发明专利]基于硅纳米砖超材料的圆偏振起偏器及制备方法-CN201711185924.3有效
发明人：邓联贵;郑国兴;李子乐;戴琦;邓娟;付娆;陶金;杨奇;刘勇;毛庆洲;何平安;李松 -专利权人：武汉大学
申请日： 2017-11-23 - 公布日： 2019-05-10 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：本发明公开了基于硅纳米砖超材料的圆偏振起偏器及制备方法，该圆偏振起偏器包括一基底、三反射式纳米砖阵列和一透射式纳米砖阵列；基底的一侧面的上部和下部分别有一反射式纳米砖阵列，与该一侧面相对的另一侧面的上部和中部分别有一透射式纳米砖阵列和一反射式纳米砖阵列；反射式纳米砖阵列由在基底上周期性排列的反射式纳米砖阵列单元构成；反射式纳米砖阵列单元由在基底上等间距排列成一行的若干方向角不同的电介质纳米砖构成；透射式纳米砖阵列由在基底上排列成阵列的电介质纳米砖构成
基于纳米材料偏振起偏器制备方法

[发明专利]反射物质介质电参数的确定方法、系统及设备-CN201911107451.4在审
发明人：杨旻蔚;劳力;杨雨健;王丹 -专利权人：华太极光光电技术有限公司
申请日： 2019-11-13 - 公布日： 2020-02-21 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明提供一种反射式物质介质电参数的确定方法、系统及设备，所述反射式物质介质电参数的确定方法包括：利用太赫兹时域光谱系统，获取参考反射数据信息及实际反射数据信息；其中，参考反射数据信息是以反射镜为反射面获取的反射数据信息；实际反射数据信息是以待测物体的表面为反射面获取的反射数据信息；根据预设的参数计算方式，计算待测物体的反射物质介质电参数。同时，可以快速测算不同入射偏振条件下的反射系数，快速校正实际应用时的反射参数，使得获取的反射式物质介质电参数更准确可靠。
反射物质介质参数确定方法系统设备

[发明专利]利用反射式达曼光栅的超短脉冲测量装置-CN200510110632.4无效
发明人：周常河;戴恩文 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2005-11-23 - 公布日： 2006-05-24 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：一种利用反射式达曼光栅的超短激光脉冲测量装置，包括分束延时器、会聚镜、非线性晶体、光阑和光谱仪，其特征在于所述的分束延时器是由三快1×2反射式达曼光栅和两块挡光板立体配置而构成的反射式达曼光栅分束延时器，所述的会聚镜是一反射式会聚镜。本发明是一种全反射式超短激光脉冲测量装置，解决了超短激光脉冲测量过程由于光束透过介质而产生的超短脉冲展宽的问题，具有结构简化、调节方便和仪器成本低的特点。
利用反射式达曼光栅超短脉冲测量装置

[发明专利]反射式显示装置-CN201010501684.5有效
发明人：宋兆峯;杨明桓;邱琬雯 -专利权人：财团法人工业技术研究院
申请日： 2010-09-29 - 公布日： 2012-05-02 - 主分类号： G02F1/153 文献下载
摘要：一种反射式显示装置，具有多个像素单元，每一像素单元包括第一基板；反射层位于第一基板上；颜料层位于反射层上，且颜料层具有第一颜色图案以及第二颜色图案；第一电极层位于颜料层上；第二基板具有第一表面以及第二表面，第一表面面向第一基板；第二电极层位于第二基板的第一表面上；吸光显示介质层位于第一电极层与第二电极层之间；溶液层位于第一基板与第二基板之间；第三基板设置于与第二基板的第二表面相对；第三电极层位于第二基板的第二表面；第四电极层位于第三基板上；及反射式显示介质位于第三电极层以及第四电极层之间，其中反射式显示介质反射第三颜色光线。本发明采用两种颜料与吸光显示介质搭配单色光的反射式显示介质实现全彩化。
反射显示装置

[实用新型]利用反射式达曼光栅的超短脉冲测量装置-CN200520046814.5无效
发明人：周常河;戴恩文 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2005-11-23 - 公布日： 2007-01-24 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：一种利用反射式达曼光栅的超短激光脉冲测量装置，包括分束延时器、会聚镜、非线性晶体、光阑和光谱仪，其特征在于所述的分束延时器是由三快1×2反射式达曼光栅和两块挡光板立体配置而构成的反射式达曼光栅分束延时器，所述的会聚镜是一反射式会聚镜。本实用新型是一种全反射式超短激光脉冲测量装置，解决了超短激光脉冲测量过程由于光束透过介质而产生的超短脉冲展宽的问题，具有结构简化、调节方便和仪器成本低的特点。
利用反射式达曼光栅超短脉冲测量装置

[发明专利]一种太赫兹反射式移相器-CN202210608394.3在审
发明人：杨军;张国振;郑光宏;尹治平;邓光晟;李迎 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2022-05-31 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： H01P1/18 文献下载
摘要：本发明公开了一种太赫兹反射式移相器，包括多个周期排列的太赫兹反射式移相单元；所述太赫兹反射式移相单元包括按照电磁波入射方向顺序设置的第一介质基板、谐振结构、液晶层、反射层以及第二介质基板；所述谐振结构由多个十字星型开槽单元排列组成谐振结构中的十字星型开槽结构高度对称的特点，使得本发明提供的太赫兹反射式移相器对不同极化角度入射的电磁波有着近乎相同的相位调控效果，这大大提高了太赫兹反射式移相器的稳定性。
一种赫兹反射移相器

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