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[发明专利]机动车大灯和方法-CN201880078258.X有效
发明人： A.霍尔泽;S.大卫;M.弗吕维特;J.古尔陶 -专利权人： ZKW集团有限责任公司
申请日： 2018-12-03 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： F21S41/143 文献下载
摘要：具有光模块的机动车大灯(1)，该光模块带有大量光源(110,120,130)和大量主要光学装置(210,220,230)，其中光源(110,120,130)具有各一个发光面(111,121,131)且布置在共同的电路板电路板(50)具有电路板参考点和光参考平面，其中光参考平面通过至少三个光参考点限定且电路板参考点安置在光参考平面中。主要光学装置(210,220,230)具有各一个光耦合面(211,221,231)和各一个光退耦面(212,222,232)且由共同的支架(60)保持在位置中。支架(60)具有支架参考点和光学装置参考平面，其通过至少三个光学装置参考点(21,22,23)限定且在其中同样安置有支架参考点。至少三个间距器件(41,42)在电路板(50)和支架(60)之间分别布置在光参考点和光学装置参考点处。
机动车大灯方法

[发明专利]一种CV-QKD连续变量量子密钥分发偏振补偿方法及系统-CN202310579993.1在审
发明人：张帅;李扬;徐兵杰;黄伟;盘艳;马荔;张涛;王恒 -专利权人：中国电子科技集团公司第三十研究所
申请日： 2023-05-22 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： H04L9/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种CV‑QKD连续变量量子密钥分发偏振补偿方法及系统，所述方法包括：引入参考光1和参考光2，通过两个偏振方向交替出现的参考光偏振变化量来估计量子信号光的偏振态；具体地，在垂直偏振方向将量子光与参考光1按照预设比例进行时分复用，再与水平偏振方向的参考光2进行偏振复用，同时，通过插值法补全缺漏的导频光数据，以使得有相邻的两组参考光数据用来估计量子信号光的偏振变化量。本发明通过引入参考光，便于在接收端进行相位恢复，且在接收端可以通过测量经典参考光的偏振变化量来估计量子信号光的偏振态；同时，经典参考光和量子信号光通过偏振复用、时分复用、频分复用等形式可以降低其相互作用的强度
一种 cv qkd 连续变量量子密钥分发偏振补偿方法系统

[实用新型]一种光强度调制的实时维稳系统-CN201822082266.1有效
发明人：戴微微;穆道生 -专利权人：北京中创为量子通信技术有限公司
申请日： 2018-12-12 - 公布日： 2019-07-12 - 主分类号： G05D25/02 文献下载
摘要：本申请提供一种光强度调制的实时维稳系统，包括工作激光器、IM、光强监控器、波分器件、参考激光器以及合束装置，光强监控器根据调制参考光的平均光功率值实时反馈调节IM的DC端的电压或者RF端的电压，使输出的调制工作光的光强符合系统要求本申请的参考激光器发射的参考光用于维稳，可以控制参考激光器在某一时间段内发射的光调制后只包含一种强度的光脉冲，根据调制参考光的平均光功率调节IM的DC端的电压使其调制参考光的强度符合要求，或调节IM的RF端的电压使其输出的调制参考光的强度与参考光的强度比例符合要求，就能够保证每个调制工作光的强度符合系统要求，实现了实时、高效的光强度调制维稳。
参考光调制参考激光器光强度调制光强监控器平均光功率符合系统工作光实时反馈调节工作激光器波分器件合束装置输出光调制光脉冲时间段发射申请保证

[发明专利]全息图再现设备、全息图再现方法和调相元件-CN200810009841.3无效
发明人：田中富士;原雅明;徳山一龙;世古悟;山田晋司;冈田均 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2008-02-20 - 公布日： 2008-08-27 - 主分类号： G11B7/0065 文献下载
摘要：其中，全息图再现设备包括第一参考光光路，引导来自激光光源的激光，以致用第一参考光照射全息图记录介质；衍射光路，把因第一参考光的照射，从全息图记录介质产生的衍射光引导到具有多个像素的受光元件；和第二参考光光路，把具有和衍射光相同的偏振方向的第二参考光从激光光源引导到受光元件。第二参考光光路配有调相元件，以致在预定范围内，调节受光元件的受光面中衍射光和第二参考光之间的相差。
全息图再现设备方法调相元件

[发明专利]相互参考光频梳-CN201510225214.3有效
发明人： C.费尔蒂格;S.廷 -专利权人：霍尼韦尔国际公司
申请日： 2015-05-06 - 公布日： 2019-09-10 - 主分类号： G02F2/02 文献下载
摘要：相互参考光频梳。本文的实施例提供了一种光频参考，包括细光频梳和粗光频梳。细梳具有第一齿和被锁定到射频参考的分数或整数倍的齿之间的频率间隔（FCS）。设置粗光频梳的至少一个齿的绝对光频。
相互参考光频梳

[实用新型]参考光路设计结构-CN202320536579.8有效
发明人：张涛;武国强;鲁开源;叶城委;许阳;姚金玲 -专利权人：上海拜安实业有限公司
申请日： 2023-03-17 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： H01S3/10 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种参考光路设计结构，其中，所述的结构包括：为光纤激光器提供信号光的种子光源，所述的种子光源设置在输入端，且所述的信号光的波段范围为1500nm～1600nm；对信号光进行放大处理的光放大单元，所述的光放大单元与所述的种子光源相连接；TAP+BPF+ISO集成器件，与所述的光放大单元相连接，包括依次连接的滤波器、分光器以及隔离器，且所述的结构的参考光口与所述的TAP+BPF+ISO集成器件相连接采用了本实用新型的该针对光纤激光器实现参考光分路处理的光路结构，通过采用集成TAP+BPF+ISO集成器件有效缩短光纤长度，且通过BPF将ASE信号滤除，能够有效抑制非线性效应，增加信号OSNR。
参考设计结构

[发明专利]散射光参考像素-CN201480046567.0有效
发明人： R·兰格;M·阿尔布雷克特 -专利权人： PMD技术有限公司
申请日： 2014-08-12 - 公布日： 2017-09-26 - 主分类号： G01S17/32 文献下载
摘要：与此相比，本发明解决了提供用于减少散射光对强度调制的电磁辐射信号的强度调制的强度和/或相位确定的影响的问题。为了解决此问题，本发明提出，将在开头处提及的类型的装置按照以下方式配置所述装置具有至少一个散射光参考像素，该至少一个散射光参考像素被布置在成像光学装置的成像区段外且被按以下方式设置所述像素在操作期间记录强度调制的散射光信号的所测量的值，以及确定设备，所述确定设备按以下方式设置所述确定设备在操作期间将来自所述成像区段内的检测器的像素矩阵中的至少一个像素的所测量的值作为第一数据输入并将来自至少一个散射光参考像素的所测量值的值作为第二数据输入来处理，处理方式为所述确定设备确定强度调制的辐射信号的经纠正的强度和/或强度调制的辐射信号的强度调制和该成像区段内的至少该像素的参考信号之间的经纠正的相对相位并将所述强度和/或相位作为数据输出提供。
散射参考像素

[实用新型]TOF光学感测模块-CN202121958497.X有效
发明人：周正三;范成至 -专利权人：神盾股份有限公司
申请日： 2021-08-19 - 公布日： 2022-03-04 - 主分类号： G01S7/495 文献下载
摘要：收发单元、帽盖及基板共同定义出不相连通的一接收腔体与一发射腔体，挡板结构位于接收腔体与发射腔体之间，收发单元至少包含一光参考区。光参考区包含：至少一参考像素，参考像素设置于挡板结构下方；以及一导光结构，光耦合至参考像素及发射腔体，使参考像素通过发射腔体及导光结构接收参考光以产生一参考电信号。
tof 光学模块

[发明专利]触控光膜的检测方法和检测装置-CN202010595212.4在审
发明人：宋林东 -专利权人：歌尔光学科技有限公司
申请日： 2020-06-24 - 公布日： 2020-10-20 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：本发明公开了一种触控光膜的检测方法和检测装置，所述检测方法包括：获取投影光幕投影面的参考图像，依据所述参考图像获取参考线的参考坐标；其中，所述投影面设置有参考线；获取触控光膜在所述投影光幕投影面的投影图像，依据所述投影图像获取所述触控光膜的投影坐标；将所述参考线的实际尺寸和所述参考坐标与所述投影坐标相结合确定所述触控光膜的投影参数。本发明的技术方案能够有效检测出触控光膜的投影参数。
触控光膜检测方法装置

[实用新型]一种反射式的全息光存储装置-CN202020138945.0有效
发明人：郑穆;罗铁威;田军;胡德骄;刘义诚 -专利权人：广东紫晶信息存储技术股份有限公司
申请日： 2020-01-21 - 公布日： 2020-11-20 - 主分类号： G11B7/0065 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种反射式的全息光存储装置，包括：共轭参考光加载装置；普通再现光接收装置；及共轭再现光接收装置，共轭参考光加载装置将参考光形成共轭参考光，参考光产生普通再现光，共轭参考光产生共轭再现光，并且普通再现光与信号光相对存储介质的法线对称且反向，共轭再现光与信号光同轴反向。此外，产生的再现光和相位共轭再现光可以在同一轴上产生，可以实现两者的相干叠加，通过这种相干叠加，再现图像的强度可以提高四倍，从而大大提高信噪比。
一种反射全息存储装置

[发明专利]光信息记录再现、再现装置及其方法-CN201210458027.6有效
发明人：石井利树 -专利权人：日立民用电子株式会社
申请日： 2012-11-14 - 公布日： 2013-05-29 - 主分类号： G11B7/0065 文献下载
摘要：在利用角度复用的全息图的再现装置中，存在再现至少一部分已记录的光信息记录介质时没有用于判别该记录介质的规定的场所是否记录有全息图的有效方案的部题。本发明的光信息再现装置的特征为包括：出射光的光源；将光分离为参考光和信号光的光学元件；将入射到光信息记录介质的参考光控制成与角度复用方向垂直的方向的角度控制元件；检测通过参考光再现后的再现像的光检测器；和控制参考光与光信息记录介质的位置关系的位置控制电路，在使参考光的、与角度复用方向垂直的方向的角度从适合再现页数据的角度偏离的状态下对光信息记录介质照射参考光，检测来自该记录介质的再现光的光量，基于检测到的光量的信息检测照射有参考光的位置有无全息图
信息记录再现装置及其方法

[实用新型]红外气体传感器-CN202220257893.8有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：苏州诺联芯电子科技有限公司
申请日： 2022-02-08 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：本实用新型揭示了一种红外气体传感器，用于测量混合气体中目标气体的浓度，包括参考光路、测量光路以及与参考光路和测量光路均通讯连接的控制计算电路，参考光路包括参考光源、参考气室和参考探测器，测量光路包括测量光源、测量气室和测量探测器，参考气室为密闭空间且预先装有背景气；参考气室设有进气口和出气口，参考气室的进气口外端与参考气室的出气口外端连通。利用双光源双光路双探测器的结构实现参考气室与待测气体完全不接触，提高了长期稳定性，且实现对碳氢混合气体中某一单独气体的定性探测，具有广阔的应用前景。
红外气体传感器

[发明专利]一种多束激光时间同步测试方法-CN201510654225.3在审
发明人：彭志涛;张波;吕嘉坤;孙志红;董军;卢宗贵 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2015-10-10 - 公布日： 2016-01-20 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：测试时在靶点处和参考光路中的基准点处分别放置两个光电管，参考光路首先发射激光脉冲，示波器测量给出参考光路脉冲到达靶点与到达基准点之间的时间间隔Δt₁；然后在参考光路中放置挡光板使得参考光路脉冲不能到达靶点，参考光路和待测光路同时发射激光脉冲，示波器测量给出待测光路脉冲到达靶点与参考光路脉冲到达基准点之间的时间间隔Δt₂；Δt₂-Δt₁为待测光路脉冲与参考光路脉冲到达同一靶点的同步时间差值。更换待测光路，分别给出相应待测光路脉冲相对于参考光路脉冲到达靶点的时间同步差值。本发明操作过程简单，涉及设备少，无需挪动或增加测量设备即可实现多路激光脉冲到达靶点时间同步的直接测试。
一种激光时间同步测试方法

[发明专利]一种光强度调制的实时维稳系统及方法-CN201811517277.6在审
发明人：戴微微;穆道生 -专利权人：北京中创为量子通信技术有限公司
申请日： 2018-12-12 - 公布日： 2019-04-05 - 主分类号： G02F1/03 文献下载
摘要：本申请提供一种光强度调制的实时维稳系统及方法，其中本申请的实时维稳系统包括工作激光器、分束装置、强度调制器、合束装置、参考激光器以及光强监控器；合束装置用于将接收到的参考光合束至主光路，参考光传播方向与工作光传播方向相反；光强监控器用于根据测量的调制参考光的平均光功率值实时反馈调节强度调制器的DC端电压或者RF端电压，使输出的调制工作光的光强符合系统要求。本申请可以控制参考激光器在某一时间段内发射的光调制后只包含一种强度的光脉冲，因此能够根据调制参考光的平均光功率调节IM的DC端或RF端的电压使其输出的调制参考光的强度与参考光的强度比例符合要求，实现了实时
参考光调制光强度调制光强监控器参考激光器平均光功率强度调制器端电压传播方向合束装置工作光申请实时反馈调节工作激光器分束装置符合系统输出光调制光脉冲时间段主光路合束测量发射

[发明专利]光信息记录装置和光信息再现装置-CN200710181426.1无效
发明人：长岛贤治;堀边隆介;平野敦也 -专利权人：船井电机株式会社
申请日： 2007-10-25 - 公布日： 2008-04-30 - 主分类号： G11B7/0065 文献下载
摘要：本发明提供一种光信息记录装置和光信息再现装置。在该光信息记录装置中，全息图案使参考光发生衍射，以使从物镜发射至记录介质侧的参考光在信息光的光会聚点附近被叠加在从物镜发射至记录介质侧的信息光上，以及参考光被会聚在与信息光的光会聚点不同的点处。在光信息再现装置中，全息图案使前进路径中的参考光发生衍射，以使返回路径中从物镜发射的参考光离开前进路径中参考光的光路。
信息记录装置再现