专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种长焦距双波段红外光学系统-CN202111241231.8有效
  • 伍雁雄;乔健;陈太喜 - 季华实验室
  • 2021-10-25 - 2023-07-25 - G02B13/14
  • 本申请提供了一种长焦距双波段红外光学系统,涉及光学技术领域,其技术方案要点是:包括:沿光轴从物侧到像侧依次排列的:具有负光度的第一透镜;具有正光度的第二透镜;具有负光度的第三透镜;具有正光度的第四透镜;所述第一透镜与所述第二透镜的组合光度为Φ12,整个光学系统度为φ,满足:0.70≤φ12/φ≤0.85;所述第三透镜与所述第四透镜的组合光度为Φ34,整个光学系统度为φ,满足:1.15≤φ34本申请提供的一种长焦距双波段红外光学系统具有实现中波红外与长波红外光路,大幅降低光学系统的空间尺寸,且成像质量优异的优点。
  • 一种焦距波段红外光学系统
  • [发明专利]玻塑混合定光学系统-CN202210389485.2在审
  • 张素莹;应永茂 - 舜宇光学(中山)有限公司
  • 2022-04-13 - 2022-08-12 - G02B13/00
  • 本发明涉及一种玻塑混合定光学系统,包括:沿光轴从物侧至像侧的方向依次排列的具有负光度的第一透镜(L1)、具有正光度的第二透镜(L2)、具有正光度的第三透镜(L3)、具有负光度的第四透镜(L4)和具有正光度的第五透镜(L5),所述光学系统的有效焦距F与所述光学系统光学BFL之间满足关系式:1.18≤F/BFL≤1.25。本发明的玻塑混合定光学系统兼顾低成本、小型化、高低温状态下不虚、日夜、大光圈(FNO1.6)、无热化、8MP图像输出要求的高质量成像性能。
  • 混合光学系统
  • [发明专利]三维形状测量装置-CN201210487146.4有效
  • 石原满宏 - 株式会社高岳制作所
  • 2012-11-26 - 2013-08-14 - G01B11/24
  • 根据一个实施例,一种三维形状测量装置至少包括:提供有多个孔的孔板,所述多个孔被二维设置为具有预定设置周期;以及孔板位移部,其使孔板在垂直于光轴方向的预定方向上以恒定速度产生位移。此外,孔板提供有盖构件,该盖构件与孔板整体地移动并包括透明体,该透明体允许来自光源的光束通过其中并照射到多个孔,并且保护多个孔避免灰尘。此外,考虑到包括盖构件的透明体的整个光学系统光学特性来设计成像光学系统,每一反射光束通过该成像光学系统引导到光检测器。
  • 三维形状测量装置
  • [发明专利]一种线扫描光谱色散物镜-CN202310388047.9在审
  • 卢荣胜;张紫龙;张艾琳 - 合肥工业大学
  • 2023-04-12 - 2023-06-23 - G02B13/00
  • 本发明公开了一种线扫描光谱色散物镜,包括:线光源入射端与接收端、色散物镜前组光学系统、孔径光阑、色散物镜后组光学系统;其中,色散物镜前组光学系统是由三组镜片组成的消色差光学系统,将入射光准直,向后传输;孔径光阑可以调节通光孔径,控制物镜的光通量;色散物镜后组光学系统是由三组镜片组成的增色差光学系统,将经由前组光学系统准直的平行光按照波长聚焦在不同的平面。本发明采用分段式双远心物镜结构,可以实现不同视场下各波长汇聚光均垂直于待测表面,降低轴外视场的测量误差,此外分段式的物镜结构可以根据不同测试需求,更换物镜的后组光学系统,从而能实现不同的测量范围和视场。
  • 一种扫描光谱色散物镜
  • [发明专利]一种光学系统的检装置和检方法-CN201710701212.6在审
  • 吴飞斌 - 吴飞斌
  • 2017-08-16 - 2017-11-21 - G03F7/20
  • 本发明公开了一种光学系统的检装置,所述的检装置包括光源、光束准直扩束系统、毛玻璃、物面光栅、掩膜平台、被测光学系统、像面光栅、硅片平台、CCD探测器,当硅片平台离时,像面光栅不同衍射级相互干涉形成干涉条纹;当硅片平台从离位置向位置平移时,像面光栅后的干涉条纹减少直到消失;根据CCD探测器探测的像面光栅后的干涉条纹的变化情况,即可以完成被测光学系统的检测量。本发明的一种光学系统的检装置直接根据获取的图像条纹数变化进行离检测,检测速度快、精度高;基于朗奇剪切干涉的检方法,具有不需要额外添加检测光源,构造简单,操作方便等优点。
  • 一种光学系统装置方法
  • [发明专利]摄像装置-CN201580030128.5在审
  • 小野修司 - 富士胶片株式会社
  • 2015-04-14 - 2017-02-22 - H04N5/225
  • 本发明提供一种摄像装置,其不设置多个成像元件,就能够同时拍摄不同的摄像区域的广角图像和长图像。在本发明的优选的方式中,设置有广角光学系统和长光学系统分别配置于不同区域的摄影光学系统。通过定向传感器将经由广角光学系统以及长光学系统入射的光束分别进行光瞳分割并选择性地受光,该定向传感器具有由呈二维状排列的光电转换元件构成的多个像素。通过图像获取部从定向传感器分别获取经由广角光学系统受光的广角图像和经由长光学系统受光的长图像。摄影光学系统的广角光学系统和长光学系统的摄影光轴的方向各自不同。
  • 摄像装置
  • [实用新型]一种光学系统的检装置-CN201721024277.3有效
  • 吴飞斌 - 吴飞斌
  • 2017-08-16 - 2018-02-23 - G03F7/20
  • 本实用新型提供一种光学系统的检装置,从光束入射方向依次包括光源、光束准直扩束系统、毛玻璃、物面光栅、掩膜平台、被测光学系统、像面光栅、硅片平台、CCD探测器。所述的物面光栅置于掩膜平台上,可以随着掩膜平台的移动而移动,并位于被测光学系统的物方平面上。所述的像面光栅位于光刻机的硅片平台上,并位于被测光学系统的像方平面上。当硅片平台离时,光束准直扩束系统的光经过物面光栅并通过被测光学系统投影到像面光栅后,不同衍射级相互干涉形成干涉条纹;当硅片平台从离位置向位置平移时,光束准直扩束系统的光经过物面光栅并通过被测光学系统投影到像面光栅后
  • 一种光学系统装置
  • [发明专利]摄像装置-CN201580030391.4有效
  • 小野修司 - 富士胶片株式会社
  • 2015-04-14 - 2019-05-03 - H04N5/225
  • 本发明提供一种小型且廉价的摄像装置,其无需设置多个图像传感器,便能够同时拍摄广角图像和广角图像的任意区域的长图像。本发明的一方式所涉及的摄像装置具备:摄影光学系统(12),在不同区域分别配置有广角光学系统和长光学系统;定向传感器(17),具有由呈二维状排列的光电转换元件构成的多个像素,并且将经由广角光学系统以及长光学系统入射的光束分别进行光瞳分割并选择性地受光;横摇/倾斜机构(32),使长光学系统的摄影光轴的方向相对于广角光学系统的摄影光轴的方向移动;以及图像获取部(22),从定向传感器(17)分别获取经由广角光学系统受光的广角图像和经由长光学系统受光的长图像
  • 摄像装置

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