专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种焦平面阵列均匀校正方法及校正电路-CN202010268809.8有效
  • 谢光忠;李小飞;杨凯;鲁竟原;阙隆成 - 电子科技大学
  • 2020-04-08 - 2021-09-21 - H04N5/365
  • 本发明公开了一种焦平面阵列均匀校正方法及校正电路,本发明通过在焦平面阵列读出电路中集成一均匀校正模块,均匀校正模块逐行逐列读出焦平面阵列中每个阵列像元的数字化输出信号,并将所述数字化输出信号与预先设定的像元输出目标值相比较,根据比较结果,调节第j列像元阵列偏置电路中的均匀调节电压的电压值,直至焦平面阵列探测器不再处于均匀校正调节模式,均匀校正模块停止工作,完成均匀校正。本发明均匀校正方法所采用的均匀校正模块结构简单,功耗及面积消耗低;使得焦平面阵列探测器本身能够实现均匀校正,不再需要外界输入均匀校正参数或对输出图像再次进行均匀处理。
  • 一种平面阵列均匀校正方法电路
  • [发明专利]一种多抽头EMCCD均匀综合校正方法-CN202011129226.3有效
  • 乔丽;王明富;金峥 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2020-10-21 - 2022-07-19 - H04N17/00
  • 本发明公开了一种多抽头EMCCD均匀综合校正方法,所述方法的均匀对象包括相机的本底均匀、光响应均匀和倍增增益均匀。所述方法可大致分为四个步骤,分别为:步骤一、本底均匀校正参数的确定;步骤二、光响应线性均匀校正参数的确定;步骤三、倍增增益均匀校正参数的确定;步骤四、三类均匀校正参数的综合校正运算。本发明提出的多抽头EMCCD均匀综合校正方法能够大幅针对消除前述三类均匀对EMCCD输出图像带来的影响,提高EMCCD输出图像的质量。
  • 一种抽头emccd均匀综合校正方法
  • [发明专利]一种红外热像仪的镜头标定方法及装置-CN201711192134.8有效
  • 戚栋栋 - 烟台艾睿光电科技有限公司
  • 2017-11-24 - 2020-03-27 - G01J5/00
  • 其中,方法包括获取用户在预设温度下利用镜头对红外热像仪进行标定的用户均匀校正系数,及红外热像仪的红外探测器在预设温度下的探测器均匀校正系数;根据用户均匀校正系数与探测器均匀校正系数计算修正均匀校正系数,以作为红外热像仪在预设温度的其余温度下的均匀校正系数的修正系数;当检测到红外热像仪焦平面阵列的当前温度不为预设温度时,计算当前温度对应的实时探测器均匀校正系数;计算实时探测器均匀校正系数和修正均匀校正系数的乘积,以作为红外热像仪当前温度的均匀校正系数。
  • 一种红外热像仪镜头标定方法装置
  • [发明专利]短波红外焦平面均匀校正方法及装置-CN201710108727.5在审
  • 周津同 - 北京津同利华科技有限公司
  • 2017-02-27 - 2017-06-30 - G06T5/00
  • 本发明提供了一种短波红外焦平面均匀校正方法及装置,其中,方法包括均匀噪声计算步骤使用级联窗口滤波器计算原始红外图像的均匀噪声,输出各级的均匀噪声;均匀噪声融合步骤将各级窗口滤波器计算出的均匀噪声进行加权融合,生成融合后的均匀噪声;均匀校正步骤根据所述融合后的均匀噪声,对所述原始红外图像进行均匀校正。本发明的一种短波红外焦平面均匀校正方法,通过采用级联窗口滤波器的形式计算图像的均匀噪声,并将各级窗口滤波器计算出的均匀噪声进行加权融合,并使用融合后的均匀噪声对原始图像进行校正,其算法简单
  • 短波红外平面均匀校正方法装置
  • [发明专利]一种基于红外焦平面均匀指纹模式的校正方法-CN200910273496.9有效
  • 张天序;张春晓;杨超;桑红石;颜露新;袁雅婧;刘慧娜;周泱 - 华中科技大学
  • 2009-12-31 - 2010-07-14 - G01J5/52
  • 一种基于红外焦平面均匀指纹模式的校正方法,属于红外成像技术领域。目的是在无背景帧的情况下,对制冷红外焦平面探测器获取的红外图像进行均匀校正。本发明包括原始数据采集步骤、均匀指纹提取步骤、校正处理步骤。所谓均匀指纹,是指每个红外焦平面探测器都有相对稳定的均匀模式及其随温度变化的规律,这两者统称为均匀指纹。利用这些可以事先估算出来的均匀模式和规律,便可以在红外焦平面探测器获取实际红外图像后,对其进行均匀校正。与常规的红外焦平面均匀校正方法比较本发明能够有效地减小了探测装置的体积,也不需要像常规方法每次校正时都需要利用均匀挡板获取背景帧,从而大大简化了校正过程。
  • 一种基于红外平面均匀指纹模式校正方法
  • [发明专利]一种红外探测器均匀校正系数的修正方法及装置-CN201711193949.8有效
  • 戚栋栋 - 烟台艾睿光电科技有限公司
  • 2017-11-24 - 2020-05-15 - G01J5/00
  • 本发明实施例公开了一种红外探测器均匀校正系数的修正方法及装置。其中,方法包括预先利用两点校正法计算红外探测器在第一预设温度时的第一均匀校正系数,及在第二预设温度时的第二均匀校正系数;获取红外探测器焦平面阵列温度‑温度修正值表及红外探测器焦平面阵列的当前温度,根据当前温度获取相对应的温度修正值;根据第一均匀校正系数、第二均匀校正系数、温度修正值计算使用均匀校正系数,以作为红外探测器当前温度相对应的均匀校正系数。本申请提供的技术方案提高了红外探测器的均匀校正系数的标定效率,提高了红外设备生成的红外图像的质量,具有好的社会经济效益。
  • 一种红外探测器均匀校正系数修正方法装置
  • [发明专利]一种多段自适应红外均匀校正方法-CN201911401686.4在审
  • 刘建东 - 北京东宇宏达科技有限公司
  • 2019-12-30 - 2020-05-08 - G01J5/00
  • 本发明公开了一种多段自适应红外均匀校正方法,具体包括如下步骤:步骤1:设备的通电及预处理,步骤2:基于定标的均匀校正,步骤3:基于场景的均匀校正,步骤4:校正结果的比较输出,步骤5:报告打印,本发明涉及红外均匀校正技术领域。该多段自适应红外均匀校正方法,使得多段自适应红外均匀校正方法可以通过先预热再对像素点进行校正然后将整体图像载入系统中的方法进行校正,并且可以有效的将数据保存,解决了因为材料和工艺的原因,焦平面探测单元的响应率很难做到一致,这就会造成对着均匀辐射目标最后探测器给出的响应电压不一样,直接后果就是成像效果不理想的问题。
  • 一种自适应红外均匀校正方法
  • [发明专利]一种读出电路及图像校正方法-CN201910770598.5有效
  • 施薛优;陈光毅 - 北京安酷智芯科技有限公司
  • 2019-08-20 - 2022-03-11 - H04N5/374
  • 本发明公开一种读出电路及图像校正方法,涉及制冷红外探测器领域;所述图像校正方法包括:从包含像素衬底温度传感器的读出电路中获取原始图像数据矩阵和像素阵列衬底温度数据;基于像素阵列衬底温度数据与均匀校正系数查找表调整均匀校正系数;利用调整完的均匀校正系数和均匀校正算法对原始图像数据矩阵进行校正处理,获得处理后的均匀图像数据矩阵;本发明公开的方法能够利用读出电路中包含像素衬底温度传感器获得像素阵列衬底温度数据,并基于像素阵列衬底温度数据进行温漂校正,在提升校正精度的同时,还减小了获取校正参数的测试代价及实际校正时的硬件代价,测试速度加快。
  • 一种读出电路图像校正方法

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