“集成电路检测”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网_专利查询网

首页在售求购查询申请展会资讯专利榜企服商城升级VIP

立即登录免费注册

在售专利
求购专利
查询专利
新闻资讯
技术展会
招商加盟
专利榜

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

专利名称

专利名称
专利号码
专利分类
申请人
公布日期

农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

专利下载VIP

公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

钻瓜专利网为您找到相关结果4294209个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法-CN202210601031.7在审
发明人：柯美延 -专利权人：深圳市佳航芯电子有限公司
申请日： 2022-05-30 - 公布日： 2022-08-16 - 主分类号： G06F30/3308 文献下载
摘要：本发明提出了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法和系统。所述电路质量测试方法包括：对所述集成电路的电路原理图进行扫描，并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型；根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点，并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值；根据所述电路质量测试参考值，结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。
基于集成电路内部节点仿真电路质量测试方法

[发明专利]集成电路检测方法-CN202310087193.8在审
发明人：沈春;陈娟;黄宇峰 -专利权人：日月新检测科技（苏州）有限公司
申请日： 2023-02-09 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种集成电路检测方法。所述集成电路检测方法包括研磨塑封体以暴露连接于集成电路芯片和基板之间的焊线；将所述焊线磨断；以及检测断裂的所述焊线以判断集成电路产品的失效端的位置。
集成电路检测方法

[发明专利]一种用于集成电路的电路检测方法-CN202210947188.5有效
发明人：龙薇丽 -专利权人：铜陵威博电子科技有限公司
申请日： 2022-08-09 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于集成电路的电路检测方法，涉及集成电路检测技术领域，解决了现有技术在集成电路检测过程中，仅通过上电状态下集成电路的电气参数来判断质量隐患，无法对集成电路布线问题精确检测，导致集成电路的检测精度低，且无法高效准确定位隐患位置的技术问题；本发明设置了若干图像采集装置用于采集集成电路的检测图像，根据检测图像确定目标元件，并建立集成电路的元件连接图谱，将其与电路标准图谱进行对比，能够精准识别集成电路的布局布线问题；本发明在构建元件连接图谱时，按照规则选择目标元件，并以目标元件为中心进行扩展获取元件连接图谱，提高了元件连接图谱的构建效率，进一步提高了集成电流的检测效率。
一种用于集成电路电路检测方法

[实用新型]一种水表集成电路检测装置-CN202221696657.2有效
发明人：周圣仓;丁红雷;杨福辉;周志伟;程连波;李晶 -专利权人：山东华维智能科技有限公司
申请日： 2022-07-01 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01F25/00 文献下载
摘要：本申请涉及水表集成电路技术领域，且公开了一种水表集成电路检测装置，包括检测底座。该水表集成电路检测装置，通过竖板顶部的驱动电机带动升降杆与升降块在第一腔室内转动，通过升降杆与升降块的螺纹连接使升降块在第一腔室内向下运动，进而通过连接块的作用使升降块带动竖板一侧的固定板向下运动，使固定板底部与水表集成电路顶部一侧接触，同理，可对另一个固定板进行调节，使另一个固定板底部与水表集成电路顶部另一侧接触，通过两个固定板可对水表集成电路进行固定，使水表集成电路在检测底座顶部更加牢固可靠，有效地防止水表集成电路检测过程中出现随意移动的情况，达到提高水表集成电路检测稳定性的效果。
一种水表集成电路检测装置

[发明专利]集成电路检测方法-CN202310964507.8在审
发明人：潘奎;沈春;黄宇峰;姚士跃 -专利权人：日月新检测科技（苏州）有限公司
申请日： 2023-08-02 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种集成电路检测方法。所述集成电路检测方法包括通过开盖作业将集成电路产品的塑封体去除，以暴露集成电路芯片、金属夹和框架，其中所述金属夹设置于所述集成电路芯片上，所述集成电路芯片设置于所述框架上；将所述框架放置于加热台上进行加热；以及将所述金属夹从所述集成电路芯片上取下。
集成电路检测方法

[发明专利]一种用于集成电路的灵活定位检测装置-CN202210004136.4在审
发明人：王世德;彭惠;钟其树 -专利权人：深圳瑞德创新科技有限公司
申请日： 2022-01-05 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于集成电路的灵活定位检测装置，包括底座，所述底座顶端对称设置有定位装置，所述定位装置用于连接待检测的集成电路，且所述定位装置顶端设置有集成电路检测装置。本发明中，通过设置集成电路检测装置和定位装置，实现对集成电路的定位和自动检测，有利的解决了传统的集成电路在检测过程中，需要操作人员手工对集成电路进行一一检测，而且在检测过程中集成电路容易发生挪动，导致检测效率大大降低的问题
一种用于集成电路灵活定位检测装置

[实用新型]一种具有防静电干扰结构的集成电路检测设备-CN202122026861.5有效
发明人：李延旺;杜鹏 -专利权人：深圳市华宇鸿信电子科技有限公司
申请日： 2021-08-25 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种具有防静电干扰结构的集成电路检测设备，包括底架和润滑机构，所述底架的下方设置有检测设备本体，且检底架的上方由内而外依次设置有夹具组件和定位组件，所述定位组件的一侧安装有测电笔组件，所述润滑机构固定于定位组件的上方该具有防静电干扰结构的集成电路检测设备，与现有的普通集成电路检测设备相比，测电笔本体的位置可以进行调节，以满足不同的需求，通过调节测电笔本体的位置进行精准定位检测，有效防止该集成电路检测设备受静电的影响，提高检测质量，该集成电路检测设备具备了自润滑结构，有效减缓该集成电路检测设备的磨损。
一种具有静电干扰结构集成电路检测设备

[实用新型]一种半导体检测装置-CN202123038949.5有效
发明人：刘理金 -专利权人：深圳市昂捷电子有限公司
申请日： 2021-12-06 - 公布日： 2022-05-24 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体检测装置，包括检测基座，所述检测基座的顶部一侧固定设有集成电路检测台，所述集成电路检测台的顶部一侧开有方形的集成电路固定槽，所述集成电路固定槽的四侧内壁开有等距离分布的针脚定位槽，所述针脚定位槽的底部内壁固定设有倾斜向上的弹性触片，所述检测基座的顶部两侧开有两个滑槽。本实用新型通过导向斜板能够下压集成电路板，通过推拉块滑动挤压板，将挤压板移动到集成电路检测台的顶部，通过导向斜板能够下压集成电路板，使集成电路板的针脚和弹性触片接触，便于固定集成电路板，万用表通过无触点开关通过导线和弹性触片连通，能够快速测量集成电路板的电路是否正常。
一种半导体检测装置

[实用新型]一种具有检测功能的系统集成电路-CN201621247308.7有效
发明人：汪志水;路靖;张璐 -专利权人：同方工业信息技术有限公司
申请日： 2016-11-16 - 公布日： 2017-08-22 - 主分类号： H01L23/48 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种具有检测功能的系统集成电路，集成电路封装结构和集成电路检测卡板，集成电路检测卡板设置在集成电路封装结构中。本实用新型提供的技术方案，克服了现有技术中封装一直是系统集成电路设计的难点以及不具有检测功能的缺陷，解决了系统集成电路集成度大、I/O引脚数目多的问题。即插即用，方便快捷，适用于流水线上大批量生产作业；3位线路同时检测，增强效率。
一种具有检测功能系统集成电路

[实用新型]一种集成电路板铜箔线路检测装置-CN202122739807.5有效
发明人：高扬 -专利权人：东莞汇和电子有限公司
申请日： 2021-11-10 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及集成电路技术领域，且公开了一种集成电路板铜箔线路检测装置，包括固定底板，所述固定底板的上表面固定连接有定位板，所述定位板的一侧活动连接有固定转杆，所述固定转杆的一端固定连接有活动板，所述活动板的一侧固定连接有连接板该集成电路板铜箔线路检测装置能够达到自动化程度较高的目的，解决了一般集成电路板铜箔线路检测装置自动化程度较低的问题，能够快速的对集成电路板两面进行检测，提高了该集成电路板铜箔线路检测装置的工作效率，从而提升了该集成电路板铜箔线路检测装置的实用性
一种集成电路板铜箔线路检测装置

[发明专利]显示器集成电路错误检测装置及其方法-CN200610096346.1无效
发明人：李东郁 -专利权人：南京LG同创彩色显示系统有限责任公司
申请日： 2006-09-20 - 公布日： 2008-03-26 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明旨在提供一种能够对构成显示器的个别集成电路的错误进行整体性检查的显示器集成电路检测装置及其方法。本发明的显示器集成电路错误检测装置设置了下述组件：内置了用于对集成电路的错误进行检测的微型处理器的个人计算机；包含了所要检测的上述集成电路的检测用显示器；用于显示上述微型计算机的检测结果，即显示检测到的集成电路信息的集成电路错误显示器根据本发明的显示器集成电路检测装置及其方法，能够在针对显示器集成电路进行错误检测的过程中，检测系统针对集成电路被检测到的多种错误，显示特定错误信息，从而使使用者可以迅速地针对相关错误采取措施，及时排除问题，有效地对集成电路的错误进行校正。
显示器集成电路错误检测装置及其方法

[实用新型]一种集成电路检测装置-CN202320955426.7有效
发明人：薛勇;钱铮 -专利权人：江苏城工建设科技有限公司
申请日： 2023-04-25 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型提供一种集成电路检测装置，涉及集成检测领域，以解决现有的集成电路检测装置在对不同大小的集成电路固定的时候，需要费力调节，影响固定效率的问题，包括主体；所述主体为集成电路检测装置本体，拉件的内端上方设有推动件需要对不同大小的集成电路固定的时候，然后拉动卡板利用自身弹性轻微倾斜，使卡块脱离对移动头的固定，使移动头以及移动杆利用自身重力向下滑动，使移动杆在导槽的内部位移，移动头以及移动杆向前移动，使固定板自动受力向内移动，自动调节夹紧固定集成电路，便捷固定不同尺寸的集成电路。
一种集成电路检测装置

[发明专利]测试仪-CN201410120773.3有效
发明人：江长海 -专利权人：江长海
申请日： 2014-03-28 - 公布日： 2014-06-04 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试仪，包括：分立器件检测模块、集成电路检测模块及控制模块；控制模块的输出端与分立器件检测模块及集成电路检测模块的驱动输入端连接，根据当前检测器件的型号，驱动分立器件检测模块或集成电路检测模块进行检测实现了两类器件的检测，并且可通过对不同集成电路的类型，设定相应的检测程序，实现对多种集成电路的检测。从而，提高了电子器件检测的可靠性及一致性，降低了电子器件的检测成本，提高了电子产品的生产效率及可靠性。
测试仪

[发明专利]集成电路检查装置-CN201610452908.5有效
发明人：中村共则;平井伸幸 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2012-05-25 - 公布日： 2020-08-21 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明涉及一种集成电路检查装置，其是用于检查包含半导体基板及形成于半导体基板的表面侧的电路部的集成电路的集成电路检查装置，具备：光产生部，其产生照射于集成电路的光；波长宽度调整部，其调整照射于集成电路的光的波长宽度；照射位置调整部，其调整照射于集成电路的光的照射位置；及光检测部，其在来自光产生部的光经由半导体基板的背面而照射于电路部时，检测来自集成电路的光。
集成电路检查装置

[发明专利]集成电路检查装置-CN201280026635.8有效
发明人：中村共则;平井伸幸 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2012-05-25 - 公布日： 2014-02-05 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及一种集成电路检查装置，其是用于检查包含半导体基板及形成于半导体基板的表面侧的电路部的集成电路的集成电路检查装置，具备：光产生部，其产生照射于集成电路的光；波长宽度调整部，其调整照射于集成电路的光的波长宽度；照射位置调整部，其调整照射于集成电路的光的照射位置；及光检测部，其在来自光产生部的光经由半导体基板的背面而照射于电路部时，检测来自集成电路的光。
集成电路检查装置

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条

友情链接：交换友情链接需要网站权重大于4，网站收录10W以上，如符合条件，请联系QQ：76009968。

关于我们寻求报道投稿须知广告合作版权声明网站地图友情链接企业标识联系我们

在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

版权所有钻瓜科技（天津）有限公司津ICP备15000985号津公网安备 12019202000206号http://www.vipzhuanli.com/公布日期

咨询在线客服

咨询在线客服

tel code back_top