“集成测量系统”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果5883645个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]集成测量系统-CN201980089433.X在审
发明人：埃拉德·多坦;摩西·万托斯克;希蒙·亚洛夫;瓦莱里·戴希;罗伊·林格尔;贝尼·舒尔曼;约西·巴尔·翁;沙哈里·巴桑 -专利权人：诺威量测设备股份有限公司
申请日： 2019-11-17 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：提出了一种测量系统，被配置用于与加工设备集成，用于对结构进行光学测量。该测量系统包括：支撑组件，用于将被测量的结构保持在测量平面中，支撑组件被配置且能操作为在与测量平面平行的平面内旋转并且在测量平面中沿着第一横向轴移动；光学系统，限定法向和斜向光学方案的照射和收集光通道；光学系统包括光学头，光学头包括位于照射和收集光通道中的至少三个透镜单元；支架组件，包括：用承载光学头的支撑单元；以及引导单元，被配置且能操作为引导支撑单元沿着垂直于第一横向轴的第二横向轴延伸的路径滑动运动，路径沿着垂直于第一横向轴的第二横向轴延伸；和光学窗口布置，包括形成在面板中至少三个光学窗口，面板位于光学头与测量平面之间，与测量平面相距一定距离，窗口以间隔开的平行关系布置并且平行于路径延伸，光学窗口与照射和收集光通道对齐
集成测量系统

[发明专利]集成电路测试系统中交流测量单元的在线校准系统及方法-CN201710750170.5在审
发明人：周厚平 -专利权人：中国船舶重工集团公司第七0九研究所
申请日： 2017-08-28 - 公布日： 2018-03-06 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开一种集成电路测试系统中交流测量单元的在线校准系统及方法，其基于现有的集成电路测试系统对负载芯片的交流参数测试程序，通过集成电路测试系统对稳定负载芯片运行交流参数测试程序，并采用外接交流参数测量仪表对测试过程中稳定负载芯片的管脚处的交流参数测量并与集成电路测试系统对该稳定负载芯片交流参数测量的结果进行比较，根据比较结果实现对集成电路测试系统中交流测量单元的在线校准，从而无需针对每一个不同的待校准集成电路测试系统分别设计校准程序，且外部交流测量仪表是在测试过程中测量得到的参数值，因此校准数据更加接近实际应用
集成电路测试系统交流测量单元在线校准方法

[发明专利]离散激光测量系统光轴外化方法和集成调试方法-CN202011301680.2有效
发明人：达争尚;郑小霞;李红光;高立民;孙策 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2020-11-19 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G02B27/62 文献下载
摘要：为了使离散激光测量系统的调试集成过程大大简化，缩短集成调试时间，本发明提供了一种离散激光测量系统光轴外化方法和集成调试方法。本发明将离散激光测量系统的光轴外化标识，为系统中的众多光学元件提供了“可见”的、统一的光轴基准，将光学元件通过孔位安装即可实现基本就位，并且离散光学元件之间的光轴没有耦合影响，能够并行同时作业，从而使得离散激光测量系统集成调试过程大大简化，缩短了集成调试时间。
离散激光测量系统光轴外化方法集成调试

[实用新型]一种加工零件形位尺寸智能在线检测集成系统-CN202123142427.X有效
发明人：胡兴;李星辉;刘泉;张军生;曹鹏;刘义华 -专利权人：湖南航天天麓新材料检测有限责任公司
申请日： 2021-12-14 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：本实用新型公开一种加工零件形位尺寸智能在线检测集成系统，包括三坐标自动测量模块、输送模块、自动转运模块、仓储模块、自动送检机器人模块、安全防护模块、智能中控系统模块以及数控铣智能制造模块；所述智能中控系统模块设置在所述三坐标自动测量模块的一侧，用于在线检测集成系统的集成控制，实现在线检测集成系统的输送、上下料、检测以及仓储；所述三坐标自动测量模块包括自动测量间、三坐标测量机和自动测量装置。本实用新型提供一种加工零件形位尺寸智能在线检测集成系统，集智能化、物流化以及自动化检测设备为一体，采用自动化技术、三坐标自动测量以及物联网技术集成，对工件的形位尺寸在线检测的方法。
一种加工零件尺寸智能在线检测集成系统

[发明专利]虚拟电子测量仪器集成系统基础架构-CN201210365494.4无效
发明人：张秉仁;林君;韦建荣;李冶 -专利权人：吉林大学
申请日： 2012-09-28 - 公布日： 2013-04-17 - 主分类号： G05B19/418 文献下载
摘要：虚拟电子测量仪器集成系统是本发明定义的，用于实现系列模块化电子测量仪器物理集成和测量功能逻辑集成的虚拟仪器技术解决方案。为实现这一方案，本发明构建了一种用于组建该系统的基础架构，也称基础平台，包括系统总线、系统控制器及其相关机械、电气规范。系统总线VIIS-EM专门针对模块化仪器的集成需求而设计，系统控制器负责命令的解析与数据传输并控制各功能模块协调工作。虚拟电子测量仪器集成系统超越了单一仪器的概念，构成一个由多源激励到多域、多功能测试的闭环测量系统，基础架构是实现系列电子测量仪器集成化的一种全新模式，为组建大规模电子测量综合教学实验室奠定了基础，尤其适用于高等学校电子测量教学实验的使用需求
虚拟电子测量仪器集成系统基础架构

[发明专利]一种集成电路测试系统时间参数校准方法及校准装置-CN201911267192.1有效
发明人：顾翼;周厚平;孙崇钧 -专利权人：中国船舶重工集团公司第七0九研究所
申请日： 2019-12-11 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明属于集成电路测试系统校准技术，为一种集成电路测试系统时间参数校准方法及校准装置。该校准方法通过测量集成电路测试系统测试通道多种指标分量，包括通道间同步偏差时间，通道传输延迟时间等分量。根据分量的测量数值结果进行计算，可以通过时间参数测量误差量化计算方法定量分析并计算出测试系统在进行集成电路时间参数测量过程中所引入的系统偏差。该系统偏差值可以进行量值修正以提升集成电路时间参数测量结果的准确度。该装置由同步偏差时间测量装置、通道切换装置、测量适配器组成等部分组成。本发明所提供的校准方法具有较高的适应性和多通道测量能力，校准装置具有精度高，自动化程度高等特点。
一种集成电路测试系统时间参数校准方法装置

[发明专利]一种用于纳米表面形貌在线测量的集成系统-CN201210167843.1有效
发明人：杨树明;胡庆杰;韩枫;李磊;张坤;蒋庄德 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2012-05-28 - 公布日： 2012-09-19 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种用于纳米表面形貌在线测量的集成系统。该系统由集成光子芯片和测量探头两个主要部分组成，光子芯片由基于纳米线阵列的可调谐激光器、集成波导型光隔离器、基于表面等离子体的光耦合器和光探测器集成产生，而测量探头由准直透镜、光栅、物镜和参考镜组合而成光子芯片和测量探头通过光纤连接。测量系统将具有尺寸小、结构紧凑、集成度高、整体性和灵活性良好等特点，对于实现纳米表面形貌在线测量具有很大的优势。
一种用于纳米表面形貌在线测量集成系统

[发明专利]一种片上差分时延测量系统及回收集成电路识别方法-CN201610686018.0有效
发明人：王晓晓;焦鹏远;苏东林;陈爱新 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2016-08-18 - 公布日： 2018-10-02 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用于高速集成电路的片上差分时延测量系统，该差分时延测量系统由时延差分测量模块、控制逻辑模块、非挥发性随机存储器构成，用来监测集成电路中的关键路径。同时公开了一种基于片上差分时延测量系统及的回收集成电路识别方法，该方法通过片上时延差分测量模块，精确获得各频繁使用的关键路径的时延变化。并使用机器学习的方法，比较各路径的时延变化分布，最终识别出回收翻新集成电路。本发明设计的片上差分时延测量系统测量精度较高、易集成、生产测试成本低、受工艺不确定性影响小，同时本发明提出的回收集成电路识别方法具有测试时间短、识别度高等优点，降低回收集成电路对整个集成电路产业链的影响
一种适用于高速集成电路片上差分时测量系统回收识别方法

[发明专利]集成地形建模系统-CN201280010325.7无效
发明人： C·A·罗伯逊 -专利权人：莱卡地球系统公开股份有限公司
申请日： 2012-02-22 - 公布日： 2013-11-13 - 主分类号： G06T17/00 文献下载
摘要：公开了一种集成地形建模系统。集成地形建模系统具有场地模块。该场地模块包括具有场地的地形模型的数据库。该集成地形建模系统具有：第一现场单元，该第一现场单元包括可操作为生成场地的被格式化为第一格式的大地测量数据的传感器。该系统还具有补充现场单元，该补充现场单元包括可操作为生成场地的被格式化为补充格式的大地测量数据的传感器。集成地形建模系统具有集成系统，该集成系统可操作为将第一现场单元和补充现场单元生成的大地测量数据处理为通用格式，由此在场地模块处提供大地测量数据的无缝集成以更新地形模型。
集成地形建模系统

[发明专利]一种收集终端测量数据的方法和系统-CN201310302637.1有效
发明人：张宏卓;邹兰;金雷;石小丽 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2010-02-22 - 公布日： 2018-04-27 - 主分类号： H04W24/00 文献下载
摘要：本发明公开一种收集终端测量数据的方法，系统，集成参考点管理者系统，集成参考点代理系统，归属网络服务器，移动性管理实体，基站和用户设备，集成参考点代理（IRP Agent）接收集成参考点管理者（IRP Manager）发送的终端测量数据开始操作或终端测量数据停止操作；其中，所述终端测量数据开始操作用于开始进行终端测量数据的收集，携带用于收集终端测量数据的配置参数；所述终端测量数据停止操作用于指示停止进行终端测量数据的收集通过本发明，可以实现终端进行终端测量数据的收集和上报。
一种收集终端测量数据方法系统

[发明专利]一种收集终端测量数据的方法和系统-CN201010116841.0无效
发明人：张宏卓;邹兰;金雷;石小丽 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2010-02-22 - 公布日： 2011-08-24 - 主分类号： H04W24/00 文献下载
摘要：本发明公开一种收集终端测量数据的方法，系统，集成参考点管理者系统，集成参考点代理系统，归属网络服务器，移动性管理实体，基站和用户设备，集成参考点代理(IRP Agent)接收集成参考点管理者(IRP Manager)发送的终端测量数据开始操作或终端测量数据停止操作；其中，所述终端测量数据开始操作用于开始进行终端测量数据的收集，携带用于收集终端测量数据的配置参数；所述终端测量数据停止操作用于指示停止进行终端测量数据的收集通过本发明，可以实现终端进行终端测量数据的收集和上报。
一种收集终端测量数据方法系统

[发明专利]基于基片集成波导的介电系数测量探头及测量系统-CN201810989450.6有效
发明人：陈倩;刘长军;黄卡玛 -专利权人：四川大学
申请日： 2018-08-28 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明涉及介电系数测量技术。本发明公开了一种基于基片集成波导的介电系数测量探头及测量系统。本发明基于基片集成波导的介电系数测量探头，包括基片集成波导，所述基片集成波导宽壁上设置有测量孔。本发明的介电系数测量系统，包括上述基于基片集成波导的介电系数测量探头以及测量仪；所述介电系数测量探头通过传输线与测量仪连接；所述测量仪为矢量网络分析仪，基于人工神经网络，根据S参数计算被测介质的介电系数本发明的有益效果是，基片集成波导结构易于加工，实测模型与仿真模型一致性好，可利用神经网络对微波测量仪的测量数据进行反演，直接得到待测物的介电系数及相关参数，测试具有实时、准确的特点。
基于集成波导系数测量探头系统

[发明专利]一种消除偏振相关噪声的集成共路干涉电场测量系统-CN201810040976.X在审
发明人：曾嵘;庄池杰;汪海;余占清;王博 -专利权人：清华大学
申请日： 2018-01-16 - 公布日： 2018-08-10 - 主分类号： G01R29/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种消除偏振相关噪声的集成共路干涉电场测量系统，属于集成共路干涉电场测量系统技术领域，该系统包括光源、依次设置在与光源输出光束同轴光路上的起偏器、输入保偏光纤、电光晶体、输出保偏光纤和检偏器本发明测量系统通过采用宽谱光源并使用设定长度的输入、输出保偏光纤，可有效消除偏振相关噪声，大幅降低集成共路干涉电场测量系统中产生的偏振相关噪声，可提高集成共路干涉电场测量系统的测量准确度和精度。
电场测量共路宽谱光源偏振输出保偏光纤噪声干涉输入保偏光纤光源系统技术领域准确度保偏光纤测量系统电光晶体光源输出依次设置中心波长检偏器起偏器同轴光相干测量

[实用新型]集成电路封装材料回收系统-CN202321061172.0有效
发明人：陈爱兵;高海燕;怀秀秀 -专利权人：日月新半导体（昆山）有限公司
申请日： 2023-05-06 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： B07C5/20 文献下载
摘要：一种集成电路封装材料回收系统。所述集成电路封装材料回收系统包括：接料模块、测量模块、回收模块以及传输模块。所述接料模块包括接收集成电路材料的夹持装置。所述测量模块测量所述集成电路材料的重量。所述回收模块包括放置所述集成电路材料的回收部件。所述传输模块包括连接于所述接料模块和所述回收模块之间的多个轨道。
集成电路封装材料回收系统

[发明专利]集成电路测试系统中直流测量单元的在线校准系统及方法-CN201710750907.3在审
发明人：周厚平 -专利权人：中国船舶重工集团公司第七0九研究所
申请日： 2017-08-28 - 公布日： 2018-03-09 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明公开一种集成电路测试系统中直流测量单元的在线校准系统及方法，其基于现有的集成电路测试系统对负载芯片的直流参数测试程序，通过集成电路测试系统对稳定负载芯片运行直流参数测试程序，并采用外接直流参数测量仪表对测试过程中稳定负载芯片的直流参数与集成电路测试系统对该稳定负载芯片设定的相关直流参数进行比较，根据比较结果实现对集成电路测试系统中直流测量单元的在线校准，从而无需针对每一个不同的待校准集成电路测试系统分别设计校准程序，且直流参数测量仪表是在真实模拟测试过程中采集的直流参数，因此校准数据更加贴合实际操作应用
集成电路测试系统直流测量单元在线校准方法

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条